[實用新型]芯片推力測試儀

有效

• 申請號: 201220140110.4
• 申請日: 2012-04-05
• 公開（公告）號: CN202562810U
• 公開（公告）日: 2012-11-28
• 發明（設計）人: 余登華;盧良軍;顧南雁
• 申請（專利權）人: 深圳市金譽半導體有限公司
• 主分類號: G01N3/08
• 分類號: G01N3/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種芯片推力測試儀，其特征在于：包括底架、升降裝置、電子推力測量儀、待測量產品安裝支座、待測量產品夾具，所述底座左側上方安裝有一待測量產品安裝支座，所述待測量產品安裝支座上方設有一待測量產品夾具，所述底座右側上方安裝有升降裝置，升降裝置上方設有一電子推力測量儀。

2.根據權利要求1所述的芯片推力測試儀，其特征在于：所述升降裝置包括立柱、垂直升降搖桿、垂直升降固定塊、電子推力測量儀安裝架、垂直運動直線軸承、高度限位絲桿，所述立柱為4根，均固定在所述底架右側上方，外側兩根立柱上設有一垂直升降固定塊，所述垂直升降固定塊上設有一垂直升降搖桿，垂直升降固定塊上方設有一電子推力測量儀安裝架，所述電子推力測量儀安裝架四角均設有垂直運動直線軸承，所述垂直運動直線軸承套在所述立柱上，所述高度限位絲桿穿過電子推力測量儀安裝架與垂直升降固定塊相連。

3.根據權利要求1所述的芯片推力測試儀，其特征在于：待測量產品安裝支座包括U形底座、推力測試搖桿、絲桿、滑桿、U形安裝架，所述U形底座安裝在所述底架左側上方，所述U形底座左側設有一推力測試搖桿，所述U形底座凹槽內設有兩根滑桿及一根絲桿，絲桿與推力測試搖桿相連，所述U形底座上方設有一U形安裝架，所述U形安裝架底部穿過滑桿并可以沿滑桿左右移動，所述U形安裝架上方安裝有待測量產品夾具。