[發明專利]一種信號波動分析方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 201210587680.2
• 申請日: 2012-12-28
• 公開（公告）號: CN103906149B
• 公開（公告）日: 2017-06-20
• 發明（設計）人: 吳強;王帆;肖蕓;高愛麗;張俊鵬;賈焱;王海京;王冀彬
• 申請（專利權）人: 中國移動通信集團北京有限公司
• 主分類號: H04W36/00
• 分類號: H04W36/00;H04W36/08;H04W52/18
• 代理公司: 北京中譽威圣知識產權代理有限公司11279
• 代理人: 郭振興,叢芳

1.一種信號波動分析方法，其特征在于，包括：

以第一濾波窗口值W₁采集W₁個電平強度測量值，計算W₁個電平強度測量值的第一平均值AVE₁，根據所述電平強度測量值計算標準方差系數V_σ1，其中，標準方差系數又叫相對標準偏差，為選擇的電平強度測量值的標準方差與其算術平均值之比，又稱為變異系數，通常用百分數表示：

其中，s為N個電平強度測量值的標準方差，x_i為第i次測量值，為N個電平強度測量值的算術平均值；

根據所述標準方差系數V_σ1、預先設定的信號波動上門限TH_up及信號波動下門限TH_lo計算下一次分析的第二濾波窗口值W₂；

根據所述第二濾波窗口值W₂采集W₂個電平強度測量值，計算W₂個電平強度測量值的第二平均值AVE₂，并計算再下一次分析的第三濾波窗口值W₃；

每一次分析的同時均重新計算下一次分析的濾波窗口值，以此類推。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述電平強度測量值計算標準方差系數V_σ1包括：

將預設的選擇參數N與采集到的電平強度測量值的總個數進行比較，當N小于電平強度測量值的總個數時，選擇N個最新的電平強度測量值計算標準方差系數V_σ1；

當N大于電平強度測量值的總個數時，選擇所有的電平強度測量值計算標準方差系數V_σ1。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述標準方差系數V_σ1、預先設定的信號波動上門限TH_up及信號波動下門限TH_lo確定下一次分析的第二濾波窗口值W₂包括：

當TH_lo≤V_σ1≤TH_up時，將所述第一濾波窗口值W₁作為第二濾波窗口值W₂；

當V_σ1＞TH_up時，計算第二濾波窗口值W₂＝min(W₁+INC,W_max)，其中，INC為每次增大濾波窗口值的步長，W_max為預先設定的最大濾波窗口值；

當V_σ1＜TH_lo時，計算第二濾波窗口值為W₂＝max(W₁-RED,W_min)，其中，RED為每次減小濾波窗口值的步長，W_min為預先設定的最小濾波窗口值。

4.一種濾波窗口調整模塊，其特征在于，包括：

第一計算子模塊，用于根據電平強度測量值計算標準方差系數V_σ1，其中，標準方差系數又叫相對標準偏差，為選擇的電平強度測量值的標準方差與其算術平均值之比，又稱為變異系數，通常用百分數表示：

其中，s為N個電平強度測量值的標準方差，x_i為第i次測量值，為N個電平強度測量值的算術平均值；

第二計算子模塊，用于根據所述標準方差系數V_σ1、預先設定的信號波動上門限TH_up及信號波動下門限TH_lo計算下一次分析的濾波窗口值W₂。

5.根據權利要求4所述的濾波窗口調整模塊，其特征在于，還包括

比較子模塊，用于將預設的選擇參數N與采集到的電平強度測量值的總個數進行比較；

選擇子模塊，用于當N小于電平強度測量值的總個數時，選擇N個最新的電平強度測量值來計算標準方差系數V_σ1；當N大于電平強度測量值的總個數時，選擇所有的電平強度測量值來計算標準方差系數V_σ1。