[發(fā)明專利]基于MBI5039芯片的發(fā)光二極管失效檢測電路及檢測方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210586469.9
• 申請日: 2012-12-28
• 公開（公告）號: CN103076531A
• 公開（公告）日: 2013-05-01
• 發(fā)明（設計）人: 周俊;曹金韡;陳嘉誠
• 申請（專利權）人: 上海澳星照明電器制造有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 上海天翔知識產(chǎn)權代理有限公司 31224
• 代理人: 劉粉寶

1.基于MBI5039芯片的發(fā)光二極管失效檢測電路，其特征在于，所述檢測電路包括：

恒壓電源，所述恒壓電源為MBI5039芯片、單片機以及待檢測發(fā)光二極管提供穩(wěn)定恒壓工作源；

至少一個MBI5039芯片，所述MBI5039芯片控制連接待檢測發(fā)光二極管，實現(xiàn)對待檢測發(fā)光二極管工作電流的恒流控制、增益控制以及發(fā)光二極管開路或短路失效偵測，并將偵測到的信息傳至單片機；

單片機，所述單片機給MBI5039芯片發(fā)送控制邏輯信號，并接收和處理MBI5039芯片發(fā)送的偵測到的失效信息；

顯示單元，所述顯示單元接收并顯示單片機處理好的信息結果。

2.根據(jù)權利要求1所述的基于MBI5039芯片的發(fā)光二極管失效檢測電路，其特征在于，所述恒壓電源提供DC5V的恒壓源。

3.根據(jù)權利要求1所述的基于MBI5039芯片的發(fā)光二極管失效檢測電路，其特征在于，所述MBI5039芯片若為多個，它們之間串接并與單片機連接形成以回路。

4.基于MBI5039芯片的發(fā)光二極管失效檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括如下步驟：

（1）恒壓電源先對單片機供電，單片機先進行自檢和初始化工作，此時所有的待檢測發(fā)光二極管均不發(fā)光；

（2）單片機完成初始化工作后，發(fā)出一組控制數(shù)據(jù)送到MBI5039芯片，設置發(fā)光二極管的工作電流增益、失效偵測的觸發(fā)模式和發(fā)光二極管短路偵測的電壓閥值；

（3）單片機發(fā)出一組顯示數(shù)據(jù)至MBI5039芯片，MBI5039芯片根據(jù)顯示數(shù)據(jù)點亮待檢測發(fā)光二極管；

（4）在點亮發(fā)光二極管同時，MBI5039芯片自動偵測每個電流通道在芯片內部產(chǎn)生的電壓降，如果有電流通道所產(chǎn)生的電壓降不在預設的閥值內，則通過數(shù)據(jù)輸出端口送出一串電壓脈沖，并傳至單片機；

（5）單片機接收MBI5039芯片輸出的電壓脈沖串，通過計數(shù)及轉換運算，從而得到發(fā)光二極管的失效個數(shù)并送顯示單元進行信息顯示。