[發明專利]一種相機芯片平行度的檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201210582845.7
• 申請日: 2012-12-28
• 公開（公告）號: CN103234483A
• 公開（公告）日: 2013-08-07
• 發明（設計）人: 石楷弘;盧宗慶;廖慶敏;劉軍;郭宏國;王艷;李立
• 申請（專利權）人: 深圳華用科技有限公司;清華大學深圳研究生院
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26
• 代理公司: 深圳市智科友專利商標事務所 44241
• 代理人: 孫子才

1.一種相機芯片平行度的檢測方法，其特征在于：包括以下步驟：

A、設置與相機芯片所在平面S1和電路板所在平面S2均相交的第一測量平面S3的步驟；

B、計算平面S1與平面S3相交的直線L1以及平面S2與平面S3相交的直線L2之間的夾角???????????????????????????????????????????????的步驟；

C、判斷夾角是否為0，若夾角為0則轉向步驟D，否則說明相機芯片所在平面S1和電路板所在平面S2不平行，結束檢測；

D、設置與平面S1和平面S2均相交的第二測量平面S4的步驟，所述的平面S4與平面S3不平行；

E、計算平面S1與平面S4相交的直線L3以及平面S2與平面S4相交的直線L4之間的夾角的步驟；

F、判斷夾角是否為0，若夾角為0則說明相機芯片所在平面S1和電路板所在平面S2平行，否則，說明相機芯片所在平面S1和電路板所在平面S2不平行，結束檢測。

2.權利要求要求1所述的相機芯片平行度的檢測方法，其特征在于：所述的步驟A和步驟D中，平面S3或平面S4是由一字激光器向相機芯片和電路板照射時形成的平面。

3.權利要求要求2所述的相機芯片平行度的檢測方法，其特征在于：所述的步驟B中分別包括以下步驟：

步驟1、相機采集一字激光器照射到相機芯片與電路板表面而生成的激光條紋物理圖像；

步驟2、用列方向取極值方法，分別提取一字激光器照射到相機芯片表面和電路板表面而生成的激光條紋物理圖像的激光條紋的中心線；

步驟3、用最小二乘法，對激光條紋的中心線進行擬合，分別擬合出照到相機芯片上的激光線L1：，和照到電路板的激光線光線L2，；

步驟4、計算直線L1，與直線L2之間的夾角正切值：。

4.權利要求要求1至3中任一所述的相機芯片平行度的檢測方法，其特征在于：所述的平面S3和平面S4垂直。

5.一種相機芯片平行度的檢測裝置，其特征在于：包括兩個射向相機芯片所在平面S1和電路板所在平面S2的一字激光器；兩個拍攝一字激光器射向相機芯片所在平面S1和電路板所在平面S2上的激光條紋物理圖像的相機；相機接收激光條紋物理圖像并進行圖像處理，獲得相機芯片所在平面S1和電路板所在平面S2上的一字激光器條紋物理圖像并進行處理獲得激光條紋物理圖像的激光條紋的中心線。

6.根據權利要求5所述的相機芯片平行度的檢測裝置，其特征在于：所述的一字激光器包括分別橫向和縱向照射到相機芯片所在平面S1和電路板所在平面S2的第一一字激光器和第二一字激光器；所述的相機包括主光軸與所述的第一一字激光器在同一平面上的第一相機，主光軸與所述的第二一字激光器在同一平面上的第二相機。

7.根據權利要求6所述的相機芯片平行度的檢測裝置，其特征在于：所述的第一一字激光器和第二一字激光器垂直于相機芯片所在平面S1或者電路板所在平面S2；所述的第一相機和第二相機與相機芯片所在平面S1或者電路板所在平面S2的垂線分別成45～60度角。

8.根據權利要求5所述的相機芯片平行度的檢測裝置，其特征在于：所述的第一一字激光器和第二一字激光器為波長分別為635nm和650?nm的紅光激光器。

9.根據權利要求5所述的相機芯片平行度的檢測裝置，其特征在于：所述一字激光器與所述的相機的主光軸在同一平面上，所述的相機芯片所在平面S1和電路板所在平面S2處于水平面上，還包括將所述的電路板沿垂直方向旋轉的機構。

10.根據權利要求5所述的相機芯片平行度的檢測裝置，其特征在于：在所述的相機鏡頭前設置一個與所述的一字激光器波長相對應的帶通濾光片。