[發明專利]全自動哈氏可磨性指數測定儀

有效

• 申請號: 201210580429.3
• 申請日: 2012-12-28
• 公開（公告）號: CN103063532A
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發明（設計）人: 汪忠勝
• 申請（專利權）人: 鎮江市豐泰化驗制樣設備有限公司
• 主分類號: G01N3/56
• 分類號: G01N3/56
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 樓高潮

1.?一種全自動哈氏可磨性指數測定儀，其特征在于：包括傳動機構、研磨機構、升降機構、控制系統、機架；所述機架為四方框形結構，其內部設有支板一、支板二、支板三、支板四，所述支板一固定在機架的左中部，所述支板二固定在機架的右上部，所述支板三固定在機架的右中部，所述支板四固定在機架的右下部；所述傳動機構包括主電機、小齒輪、中間齒輪、大齒輪、重塊、主軸、主軸套，所述主電機固定在支板一的上側，主電機與小齒輪相連接，小齒輪與中間齒輪嚙合，中間齒輪與大齒輪嚙合，所述中間齒輪活動連接在支板一的上側，所述主軸從上到下依次設有重塊、大齒輪、主軸套，所述主軸套為兩端設有法蘭的軸類連接，其通過小端法蘭固定連接在支板二上，大端法蘭穿過支板二，所述大端法蘭端面設有密封槽；所述研磨機構包括研磨環、鋼球、研磨碗、研磨機構設置在支板二與支板三之間，所述研磨環固定連接在主軸的下端端面上，所述研磨環下端面設有數個鋼球，所述研磨碗為碗狀結構，其底部中間隆起與內壁形成研磨溝，所述研磨碗的碗口與主軸套的密封槽相配合，所述研磨碗的底部設有傳動凹槽；所述升降機構包括升降軸套、定位套、滑塊、升降軸、升降電機、上限位塊、下限位塊，所述升降機構設置在支板三、支板四之間，所述升降電機固定在支板四的下端，其連接有升降軸，所述升降軸設有外螺紋，所述定位套通過端面固定連接在支板四的上側，沿軸向設有一通孔，外圓設有一滑塊槽，所述升降軸套為階梯軸類連接，其上側為法蘭并穿過支板三，其外圓與所述定位套的通孔相配合，所述升降軸套沿軸向設有一內螺紋通孔，并與所述升降軸的外螺紋相旋合，所述升降軸套法蘭端面設有傳動鍵，所述傳動鍵與研磨碗的傳動凹槽相配合，所述上限位塊固定在支板三的下側，下限位塊固定在支板四的上側，所述滑塊一端固定在升降軸套的外圓上，并穿過定位套的滑塊槽，另一端設置在上限位塊、下限位塊之間；所述控制系統包括傳感器、PLC控制器，所述傳感器設置在主軸上，所述PLC控制器與主電機、傳感器、升降電機、上限位塊、下限位塊相連接。

2.如權利要求1所述的全自動哈氏可磨性指數測定儀，其特征在于：所述滑塊的行程與上限位塊、下限位塊之間的距離一致。