[發明專利]一種用等離子發射光譜測定三乙基鋁中鋁含量的方法無效
| 申請號: | 201210579318.0 | 申請日: | 2012-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN103901016A | 公開(公告)日: | 2014-07-02 |
| 發明(設計)人: | 榮麗麗;李群英;孫玲;王桂芝;張春燕;高文麗;邵偉;張巖;韓延楠;李國慶;劉長福;梁忠越 | 申請(專利權)人: | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/71 | 分類號: | G01N21/71 |
| 代理公司: | 北京市中實友知識產權代理有限責任公司 11013 | 代理人: | 謝小延 |
| 地址: | 100007 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 等離子 發射光譜 測定 乙基 鋁中鋁 含量 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種測定三乙基鋁中鋁含量的方法,特別涉及一種用等離子發射光譜測定三乙基鋁中鋁含量的方法。
背景技術
三乙基鋁是乙烯齊聚合成1-己烯的主要助催化劑,通過它對主催化劑中金屬進行還原,將催化劑中的金屬還原成低價態,這樣,乙烯對中心金屬的絡合才能發生反應。三乙基鋁加入量過低,會影響主催化劑中金屬的還原效果,使聚合物生成量增加;加入量過高,因其本身是鏈增長劑,會使副產物增加,1-己烯的選擇性下降。因此,嚴格控制三乙基鋁的含量才會使乙烯齊聚合成1-己烯的反應順利進行。
三乙基鋁中鋁的測定是控制三乙基鋁含量有效手段。目前,測定鋁元素的方法主要有分光光度法,電化學法,X熒光光譜法,原子吸收光譜法和等離子發射光譜法等。
多數文獻報道只是測定水中或固體樣品中的鋁,或有機溶劑中鋁的含量的測定,而對于三乙基鋁中鋁的測定卻未見報道(三乙基鋁遇水和空氣會發生爆炸)。
發明內容
本發明的目的是提供一種用等離子發射光譜測定三乙基鋁中鋁含量的方法,采用正己烷和乙醚稀釋、溶解三乙基鋁,硫酸萃取鋁離子,端視條件下電感耦合等離子發射光譜法測定三乙基鋁的鋁含量。
本發明所述的用等離子發射光譜測定三乙基鋁中鋁含量的方法,按如下步驟:
步驟一,在排風良好的通風柜中進行以下操作,量取100ml正己烷倒入用氮氣吹掃過的250ml分液漏斗中,在氮氣吹掃下,取下樣品瓶瓶塞,用氮氣吹掃過的移液管吸取1.0ml三乙基鋁,緩慢加入分液漏斗中,緩慢搖勻,冷卻10min,再取約20ml乙醚緩慢加入分液漏斗中,充分搖勻。
步驟二,再加入20%的硫酸20ml,劇烈震蕩10min,靜置分層,放出下層酸液于50ml石英燒杯中,再分別用20%的硫酸20ml和20ml去離子水各萃取一次,收集下層萃取液。
步驟三,將盛有萃取液石英燒杯置于電熱板上100~200℃下加熱,至冒出大量三氧化硫白煙,待白煙趕盡,將石英燒杯取下,冷卻至室溫,將樣品轉移置50ml容量瓶中,用去離子水稀釋并定容至刻度,混勻后待測;
步驟四,繪制標準曲線:將濃度為1000μg/ml的鋁標準儲備液,稀釋至50μg/ml,取50μg/ml鋁的標準溶液0、0.1、0.5、1.0、2.0、5.0、10.0ml至50ml容量瓶中,加入1~2ml濃硝酸(65~68%),用無離子水稀釋至刻度,依次得空白溶液和濃度為0.1、0.5、1.0、2.0、5.0、10.0μg/ml的標準系列。用等離子發射光譜儀在設定的工作條件下,分別測定空白溶液、標樣溶液,計算機自動繪制標準曲線。
步驟五,用等離子發射光譜儀測定步驟三所得含鋁樣品溶液,按步驟四的曲線自動計算出三乙基鋁樣品中鋁元素的含量。
結果計算:
三乙基鋁中鋁含量按下式計算:
X=C×V1/V2
式中:X——三乙基鋁中鋁的濃度,單位:μg/ml;
??????C——儀器直接測定的樣品的濃度,單位:μg/ml;
??????V1——容量瓶的體積,單位:ml;
??????V2——三乙基鋁試樣的體積,單位:ml。
計算結果保留四位有效數字。
該方法簡便,快速,準確,檢測限低,回收率可達96~103%,RSD<5%,適合于三乙基鋁中鋁的測定。該方法適用于合成1-己烯過程中三乙基鋁中鋁元素含量的測定。
具體實施方式
實施例:
1.儀器和試劑
1.1儀器
1.1美國PE公司Optima5300DV全譜直讀等離子體發射光譜儀;波長范圍165~782nm;SCD分段式電荷耦合固體檢測器。
1.2試劑
HNO3、H2SO4為高純試劑;正己烷、乙醚為優級純;氬氣純度≥99.9%。
鋁的標準儲備液為國家標準試劑,濃度為1000μg/ml。將鋁標準儲備液稀釋至50μg/ml備用。測定時逐級稀釋成0.1、0.5、1.0、2.0、5.0、10.0μg/ml的標準系列。
2.測試條件
儀器測試條件見表1。
表1ICP的測試條件
3.標準曲線的繪制
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