[發明專利]測試裝置以及電子裝置的測試方法

有效

• 申請號: 201210568473.2
• 申請日: 2012-12-24
• 公開（公告）號: CN103852681A
• 公開（公告）日: 2014-06-11
• 發明（設計）人: 駱文華;陳冠翰;廖誌圣
• 申請（專利權）人: 緯創資通股份有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

技術領域

本發明涉及一種測試裝置及電子裝置的測試方法，特別是涉及一種測試電子裝置之間的總線是否有斷路形成的測試裝置及電子裝置的測試方法。

背景技術

由于中央處理器（Central?Processing?Unit，CPU）的效能隨著技術與制程的演進而日漸提升，使得CPU可支持的電子裝置種類亦變得越來越復雜。為了確保CPU與不同類型的電子裝置之間的總線得以正常的傳輸數據，因此一般都會利用測試裝置來測試CPU和其他電子裝置之間的信號傳輸。

在利用傳統的測試裝置進行測試時，操作者必需將待測電子裝置的總線中的每一腳位分別以線路接出至測試夾具（治具），并且通過測試程序控制測試夾具輸出測試信號的方式來測試總線中各個傳輸通道是否有斷路的情形發生。然而，在待測的總線腳位數量較多時，測試的進行將會變得復雜并且易于發生錯誤。舉例來說，以測試一般CPU之間的四元周邊接口（QuadPeripheral?Interface，QPI）總線為例，其雙向的傳輸腳位即多達84根，操作者必需依序將84根傳輸腳位依序接出至測試夾具，此一過程即非常容易發生錯誤。

此外，在傳統的測試裝置中，測試夾具通常是利用燈號顯示對應的傳輸通道是否導通，因此操作者必須通過查閱對應的數據才能夠正確地判讀總線的測試結果，因此亦可能會有人為的疏忽產生，而使得測試結果有所誤差。

發明內容

本發明提供一種測試裝置及電子裝置的測試方法，其可通過由兩條信號線所組成的串行信號線對提供串行信號來對電子裝置進行測試。

本發明提出一種測試裝置，其適于測試電路板上至少二個電子裝置間的總線，其中電路板包括至少二個插槽，且所述至少二電子裝置適于分別電性連接至電路板上的對應的插槽。所述測試裝置包括至少二個裝置轉板以及測試電路。裝置轉板分別電性連接于對應的電子裝置以及對應電子裝置的插槽。測試電路通過至少二組串行信號線對分別電性連接裝置轉板，其中測試電路依據電子裝置的類型而經由對應的串行信號線對提供串行信號給裝置轉板其中之一，并通過對應的串行信號線對回傳裝置轉板其中的另一的反應，藉以測試所述其中的一裝置轉板與所述其中的另一裝置轉板所對應的電子裝置間的總線是否有斷路。

在本發明一實施例中，電子裝置包括至少二第一電子裝置，所述至少二第一電子裝置間藉由對應的第一總線相互傳遞信號，并且第一總線具有多個傳輸通道，其中測試電路提供串行信號至裝置轉板其中之一，以使裝置轉板其中的另一反應于對應的第一總線的信號傳遞狀態而經由對應的串行信號線對輸出測試結果信號至測試電路，測試電路依據測試結果信號判斷對應的第一總線中的每一傳輸通道是否有斷路。

在本發明一實施例中，測試電路更依據測試結果信號判斷對應的第一總線中的相鄰傳輸通道是否有短路。

在本發明一實施例中，所述電子裝置包括第一電子裝置以及至少一個第二電子裝置，第一電子裝置與第二電子裝置藉由對應的第二總線相互傳遞信號，并且第二總線具有多個傳輸通道，其中測試電路提供串行信號至對應于第一電子裝置的裝置轉板，以使對應于第二電子裝置的裝置轉板反應于對應的第二總線間的信號傳遞狀態而分別經由對應的串行信號線對輸出測試結果信號至測試電路，測試電路依據測試結果信號判斷對應的第二總線中的每一傳輸通道是否有斷路。

在本發明一實施例中，電子裝置包括第一電子裝置以及至少一個第三電子裝置，第一電子裝置與第三電子裝置藉由對應的第三總線相互傳遞信號，并且第三總線具有多個傳輸通道，其中測試電路提供串行信號至對應于第一電子裝置的裝置轉板，以使對應于第三電子裝置的裝置轉板反應于對應的第三總線間的信號傳遞狀態而分別經由對應的串行信號線對輸出測試結果信號至測試電路，測試電路依據測試結果信號判斷對應的第三總線中的每一傳輸通道是否有斷路。

在本發明一實施例中，測試電路包括多個第一串行連接器、處理單元以及顯示模塊。處理單元電性連接所述多個第一串行連接器，用以依據電子裝置的類型而產生串行信號，據以控制所述裝置轉板的信號傳遞與接收。顯示模塊電性連接處理單元，用以顯示電子裝置的測試結果。

在本發明一實施例中，各個裝置轉板具有識別碼，處理單元讀取所述多個識別碼以判斷待測的電子裝置的類型與測試順序，并且據以提供對應的串行信號與決定測試順序。