[發明專利]一種存儲器及其存儲方法

有效

• 申請號: 201210568252.5
• 申請日: 2012-12-24
• 公開（公告）號: CN103021471A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 景蔚亮
• 申請（專利權）人: 上海新儲集成電路有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 上海麥其知識產權代理事務所(普通合伙) 31257
• 代理人: 董紅曼

技術領域

本發明涉及芯片測試領域，尤其涉及一種存儲器及其存儲方法。

背景技術

相變存儲器測試是非易失性閃存存儲器測試的一項主要內容。圖1是一獨立式相變存儲器8的結構示意圖；其中片上程序區80是用只讀存儲器(ROM，Read?Only?Memory)實現的，片上數據區82是用靜態隨機存儲器(SRAM，StaticRandom?Access?Memory)實現的；而存儲器陣列84則由相變存儲器(PCM，Phase-Change?Memory)實現。微控制器內核86訪問片上程序區80、片上數據區82和片上寄存器區88，并通過片上寄存器區88的輸出來訪問片上存儲器陣列84。

事實上，片上程序區80通常選用ROM的原因是因為在封裝和板級貼片的時候會在芯片上產生高溫，而相變材料不耐高溫，如果采用PCM的話，會使片上程序區80里的客戶應用程序丟失。由于是只讀存儲器，一旦程序固化到用ROM做的片上程序區80中，片上程序區80里面的內容在封裝后就固定了。這樣導致的直接結果是：片上程序區80不靈活，固定的程序只能測試固定的功能。如果以后在客戶使用過程中發現了生產時沒有測試到的問題，工廠就不能通過更改片上程序區80中的程序來測試新的問題，必須重新設計和制造芯片，寫入新的測試程序來測試問題。這必然會花費額外的人力、物力、財力，極大的降低效率。另一方面，片上程序區80中有一部分寫了工廠的測試代碼，只有剩下的一部分是客戶可用的。這意味著客戶實際能用的片上程序區80的大小將小于實際的片上程序區80大小，客戶代碼密度降低。其它類型的存儲器也存在類似問題。

綜上所述，在集成電路應用愈來愈廣泛的前景下，如何克服存儲器測試中存在的諸多問題，以提高測試靈活性和客戶代碼密度等亟需解決。

發明內容

本發明克服了現有技術中缺乏測試靈活性以及客戶代碼密度低等缺陷，提出了一種存儲器及其存儲方法。

本發明提出了一種存儲器，包含微控制器內核，及為正常工作模式設置的片上程序區與片上數據區，所述微控制器內核可訪問所述片上程序區與片上數據區；所述存儲器進一步包含：

片上程序區與片上數據區互換使能管腳，其提供所述片上程序區與片上數據區互換的使能信號；

片上地址編碼器或地址仲裁器模塊，其接收所述使能信號并輸出訪問所述片上程序區的程序區總線和訪問所述片上數據區的數據區總線；

第一選擇器，其具有一接收使能信號的選擇端、接收所述程序區總線的輸入端、接收所述數據區總線的輸入端，及連接至所述片上程序區的輸出端；及

第二選擇器，其具有一接收使能信號的選擇端、接收所述程序區總線的輸入端、接收所述數據區總線的輸入端，及連接至所述片上數據區的輸出端。

其中，當所述存儲器進行測試時，所述使能管腳輸出所述使能信號，測試程序將被下載到互換后的片上程序區；否則所述使能管腳懸空。

其中，輸出所述使能信號時，如果所述使能管腳內部帶下拉，則所述使能管腳置高；如果所述使能管腳內部帶上拉，則所述使能管腳置低。

其中，如果所述存儲器是獨立式相變存儲器，則為所述正常工作模式設置的所述片上程序區為只讀存儲器，所述片上數據區為靜態隨機訪問存儲器；如果所述存儲器是嵌入式相變存儲器，則為所述正常工作模式設置的所述片上程序區為相變存儲器，所述片上數據區為靜態隨機訪問存儲器。

其中，當接收到所述使能信號后，所述片上地址編碼器或者地址仲裁器模塊將輸出的所述程序區總線中的地址與控制總線和數據區總線中的地址與控制總線互換。

本發明還提出了一種存儲器的存儲方法，包含：

驅動所述使能管腳以產生所述使能信號；及

將測試程序將被下載到互換后的片上程序區。

其中，非測試時所述使能管腳懸空。

其中，為產生所述使能信號，如果所述使能管腳內部帶下拉，將所述使能管腳置高；如果所述使能管腳內部帶上拉，將所述使能管腳置低。

其中，如果所述存儲器是獨立式相變存儲器，則為所述正常工作模式設置的所述片上程序區為只讀存儲器，所述片上數據區為靜態隨機訪問存儲器；如果所述存儲器是嵌入式相變存儲器，則為所述正常工作模式設置的所述片上程序區為相變存儲器，所述片上數據區為靜態隨機訪問存儲器。

其中，當接收到所述使能信號后，所述片上地址編碼器或者地址仲裁器模塊將輸出的所述程序區總線中的地址與控制總線和數據區總線中的地址與控制總線互換。