[發(fā)明專利]測定硅錳合金、硅鐵合金元素的X射線熒光光譜儀分析法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210564808.3 | 申請日： | 2012-12-24 |
| 公開（公告）號： | CN103884730A | 公開（公告）日： | 2014-06-25 |
| 發(fā)明（設計）人： | 溫春祿;黃云華;賴臻成;伍玉根 | 申請（專利權(quán)）人： | 福建三鋼閩光股份有限公司;福建省三鋼（集團）有限責任公司 |
| 主分類號： | G01N23/223 | 分類號： | G01N23/223;G01N1/28;G01N1/44 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 365000 福建*** | 國省代碼： | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測定 合金 鐵合金 元素 射線 熒光 光譜儀 分析 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.測定硅錳合金元素的X射線熒光光譜儀分析法方案是：包括①鉑黃坩堝內(nèi)加入樣品及輔料；②分步氧化；③冷卻；④加入脫膜劑熔融；⑤制片；⑥光譜儀檢測，其特征在于：在步驟①前增設鉑黃坩堝預處理前置步驟，該步驟為：稱取4.0000g～6.0000g四硼酸鋰于鉑黃坩堝中，放入高頻熔融爐于1000℃～1200℃融化后打底掛壁，轉(zhuǎn)動鉑黃坩堝使熔化的熔劑均勻平鋪在坩堝壁和坩堝底上，而后取下鉑黃坩堝冷卻至室溫。
2.測定硅鐵合金元素的X射線熒光光譜儀分析法方案是：包括①鉑黃坩堝內(nèi)加入樣品及輔料；②分步氧化；③冷卻；④加入脫膜劑熔融；⑤制片；⑥光譜儀檢測，其特征在于：在步驟①前增設鉑黃坩堝預處理前置步驟，該步驟為：稱取4.0000g～6.0000g四硼酸鋰于鉑黃坩堝中，放入高頻熔融爐于1000℃～1200℃融化后打底掛壁，轉(zhuǎn)動鉑黃坩堝使熔化的熔劑均勻平鋪在坩堝壁和坩堝底上，而后取下鉑黃坩堝冷卻至室溫。
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于福建三鋼閩光股份有限公司;福建省三鋼（集團）有限責任公司，未經(jīng)福建三鋼閩光股份有限公司;福建省三鋼（集團）有限責任公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210564808.3/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
