[發明專利]投射式電容觸摸面板及其坐標檢測方法無效
| 申請號: | 201210558927.8 | 申請日: | 2012-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN103176673A | 公開(公告)日: | 2013-06-26 |
| 發明(設計)人: | 井上和 | 申請(專利權)人: | 雙葉電子工業株式會社 |
| 主分類號: | G06F3/044 | 分類號: | G06F3/044 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 陳松濤;韓宏 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 投射 電容 觸摸 面板 及其 坐標 檢測 方法 | ||
1.一種投射式電容觸摸面板,包括觸摸傳感器單元和控制器,在所述觸摸傳感器單元中,X電極X1到Xn(n等于或大于2)和Y電極Y1到Ym(m等于或大于2)布置為彼此交叉,
其中,所述控制器包括:
X電極暫存單元和Y電極暫存單元,分別存儲通過N次(N等于或大于2)掃描所述X電極X1到Xn和所述Y電極Y1到Ym而檢測的所述X電極X1到Xn的電容變化量和所述Y電極Y1到Ym的電容變化量;
X電極電容變化量相加單元和Y電極電容變化量相加單元,分別將所述X電極暫存單元的電容變化量和所述Y電極暫存單元的電容變化量相加;以及
中心坐標計算單元,通過使用由所述X電極電容變化量相加單元和所述Y電極電容變化量相加單元相加的電容變化量來計算導體觸摸所述觸摸傳感器單元處的位置的中心坐標,并檢測所述位置的坐標。
2.根據權利要求1所述的投射式電容觸摸面板,其中,所述X電極X1到Xn的觸摸響應單元和所述Y電極Y1到Ym的觸摸響應單元布置為使得所述觸摸響應單元在顯示器的顯示表面的方向上彼此不重疊。
3.一種投射式電容觸摸面板的坐標檢測方法,所述投射式電容觸摸面板包括觸摸傳感器單元和控制器,在所述觸摸傳感器單元中,X電極X1到Xn(n等于或大于2)和Y電極Y1到Ym(m等于或大于2)布置為彼此交叉,所述方法包括:
在X電極暫存單元和Y電極暫存單元中分別存儲通過N次(N等于或大于2)掃描所述X電極X1到Xn和所述Y電極Y1到Ym而檢測的所述X電極X1到Xn的電容變化量和所述Y電極Y1到Ym的電容變化量;
分別由所述X電極電容變化量相加單元和所述Y電極電容變化量相加單元將所述X電極暫存單元的電容變化量和所述Y電極暫存單元的電容變化量相加;以及
由中心坐標計算單元通過使用由所述X電極電容變化量相加單元和所述Y電極電容變化量相加單元相加的電容變化量來計算導體觸摸所述觸摸傳感器單元處的位置的中心坐標,并檢測所述位置的坐標。
4.根據權利要求3所述的方法,其中,所述X電極X1到Xn的觸摸響應單元和所述Y電極Y1到Ym的觸摸響應單元布置為使得所述觸摸響應單元在顯示器的顯示表面的方向上彼此不重疊。
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