[發明專利]校表檢測裝置

無效

• 申請號: 201210550975.2
• 申請日: 2012-12-18
• 公開（公告）號: CN103869276A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 朱玲莉
• 申請（專利權）人: 蘇州工業園區新宏博通訊科技有限公司
• 主分類號: G01R35/04
• 分類號: G01R35/04
• 代理公司: 蘇州威世朋知識產權代理事務所(普通合伙) 32235
• 代理人: 楊林潔

技術領域

本發明涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種對電表脈沖數進行檢測、校準的校表檢測裝置。

背景技術

智能電表在出廠時，需要對精準度進行檢測以確認是否符合標準精準度的要求。通常精準度的校準是通過對電表脈沖數的校準來使電表運行滿足規定的誤差要求。而在校表時，首先需要檢測電表的脈沖數，然后計算該脈沖數與標準源的脈沖數之間的誤差，接著按照設定好的算式將該差值轉換成修正值并寫入計量芯片，最后計量芯片再根據修正值計量電能并輸出。但現有的校準裝置不僅結構復雜、不易操作，同時還不能對多路電表進行校準檢測，用途比較單一。

有鑒于此，有必要對現有的校準裝置予以改進，以解決上述問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種新型的校表檢測裝置，該校表檢測裝置不僅結構簡單、易操作，同時還能對多路電表進行校準檢測。

為實現上述發明目的，本發明提供了一種校表檢測裝置，用以對單路電表的脈沖數進行校準，所述校表檢測裝置包括電源、標準源脈沖測試口以及設置在所述電源和所述標準源脈沖測試口之間的光耦合器，所述光耦合器上設置有兩個輸入口和兩個輸出口，所述兩個輸入口分別與電表和所述電源相連，所述兩個輸出口分別與所述標準源脈沖測試口的兩個輸入端相連。

作為本發明的進一步改進，所述電源與所述光耦合器之間還連接有用以限制所連支路中電流大小的電阻。

作為本發明的進一步改進，所述光耦合器的一個輸入口與所述電阻相連，另一個輸入口與所述電表的有功脈沖相連。

作為本發明的進一步改進，所述電表的有功脈沖處于高電平時，所述光耦合器斷開，無輸出；所述電表的有功脈沖處于低電平時，所述光耦合器閉合，有輸出。

作為本發明的進一步改進，所述電源為5V。

為實現上述發明目的，本發明還提供了一種校表檢測裝置，用以對多路電表的脈沖數進行校準，所述校表檢測裝置包括共用電源、標準源脈沖測試口以及設置在所述共用電源和所述標準源脈沖測試口之間的若干并聯設置的光耦合器，每個所述光耦合器均包括兩個輸入口和兩個輸出口，其中一個所述輸入口與所述共用電源相連、另一個所述輸入口與對應的電表相連，所述兩個輸出口用以在對相應的所述電表進行脈沖數校準時連接到所述標準源脈沖測試口的兩個輸入端上。

作為本發明的進一步改進，所述共用電源為5V。

作為本發明的進一步改進，所述共用電源與每個所述光耦合器之間都連接有用以限制所連支路中電流大小的電阻。

作為本發明的進一步改進，每個所述光耦合器的一個輸入口與所述電阻相連，另一個輸入口與相應每個電表的有功脈沖相連。

作為本發明的進一步改進，所述電表的有功脈沖處于高電平時，所述光耦合器斷開，無輸出；所述電表的有功脈沖處于低電平時，所述光耦合器閉合，有輸出。

本發明的有益效果是：本發明的校表檢測裝置設置有電源、標準源脈沖測試口以及設置在所述電源和所述標準源脈沖測試口之間的光耦合器，所述光耦合器上設置有兩個輸入口和兩個輸出口，所述兩個輸入口分別與電表和所述電源相連，所述兩個輸出口分別與所述標準源脈沖測試口的兩個輸入端相連，從而所述校表檢測裝置可對單路電表的脈沖數進行校準；若在所述電源和所述標準源脈沖測試口之間并聯有若干個所述光耦合器，且每個所述光耦合器的其中一個輸入口與電源相連、另一個輸入口與對應的電表相連，兩個輸出口在對相應的電表進行脈沖數校準時連接到所述標準源脈沖測試口的兩個輸入端上，從而可實現對多路電表脈沖數的檢測、校準。

附圖說明

圖1是本發明的校表檢測裝置對單路電表進行校準的電路原理圖。

圖2是本發明的校表檢測裝置對多路電表進行校準的電路原理圖。

具體實施方式

為了使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述。

如圖1所示，本發明的校表檢測裝置用以對單路電表（未圖示）的脈沖數進行校準。所述校表檢測裝置包括電源（VCC）10、標準源脈沖測試口30以及設置在所述電源10和所述標準源脈沖測試口30之間的光耦合器20。本實施方式中，所述電源10為電表的5V電源，所述光耦合器20的型號為NEC2501。