[發明專利]一種陣列基板檢測設備的探針框架及檢測設備

有效

• 申請號: 201210546649.4
• 申請日: 2012-12-14
• 公開（公告）號: CN103018936A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 葛興;魏振;朱承達;盛儉;蔡元一;張力行;李清生
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R1/073
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種陣列基板檢測設備的探針框架，包括架體和設置在架體上的信號分配電路板，其特征在于，還包括：

設置在架體上的電路板，所述電路板上設置有與陣列基板的檢測引腳一一對應的通孔，且所述電路板內設置有與所述通孔一一對應的多條信號傳輸線路，每一條信號傳輸線的一端伸入與其對應的通孔內，另一端與信號分配電路板的輸出端電性連接；

與所述通孔一一對應的多個探針，每一對所述探針與所述通孔，所述探針的一端插入所述通孔、且所述探針插入通孔的一端與該通孔內的信號傳輸線電性連接。

2.根據權利要求1所述的探針框架，其特征在于，所述電路板的信號傳輸線與所述信號分配電路板的輸出端之間通過排線電性連接。

3.根據權利要求1所述的探針框架，其特征在于，所述電路板與所述架體固定連接，所述架體上設置有與所述探針一一對應的圓孔。

4.根據權利要求1所述的探針框架，其特征在于，所述電路板與所述架體滑動連接，所述架體上設置有與探針對應的通槽。

5.根據權利要求4所述的探針框架，其特征在于，還包括：

固定于所述架體、驅動電路板沿長度方向位移的第一驅動裝置；

固定于所述架體、驅動電路板沿寬度方向位移的第二驅動裝置。

6.根據權利要求5所述的探針框架，其特征在于，所述第一驅動裝置包括設置在所述架體上的第一電動馬達，所述第二驅動裝置包括設置在所述架體上的第二電動馬達。

7.根據權利要求6所述的探針框架，其特征在于，還包括：

設置于所述架體上、檢測電路板的位移量的限位傳感器。

8.根據權利要求1~7任一項所述的探針框架，其特征在于，所述電路板中，每一條信號傳輸線伸入通孔的一端形成一彈性卡件，所述探針插入所述通孔內時，探針插入該通孔的一端與所述彈性卡件配合，且通過所述彈性卡件與信號傳輸線電性連接。

9.一種陣列基板檢測設備，其特征在于，包括如權利要求1~8任一項所述的探針框架。