[發(fā)明專利]一種用于橫隔艙分段修割精度控制方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210541558.1
• 申請日: 2012-12-13
• 公開（公告）號: CN103010405A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 郝肖賓;許大鵬;黎翔
• 申請（專利權(quán)）人: 滬東中華造船（集團(tuán)）有限公司
• 主分類號: B63B9/06
• 分類號: B63B9/06
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 張澤純

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及船體制造精度控制技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種用于橫隔艙分段修割精度控制方法。

背景技術(shù)

隨著船舶工業(yè)的發(fā)展，如何進(jìn)一步減少工作量，提高工作效率，創(chuàng)造更多的效益，精度造船已被越來越多船廠所采納。橫隔艙下端修割不僅破壞板材坡口增加定位時間，焊接時還需反面碳爆，增加工作量。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種用于橫隔艙分段修割精度控制方法，通過搭載基準(zhǔn)（內(nèi)底板平面度）測量，搭載分段（橫隔艙下端平面度）測量，把橫隔艙下端修割的余量放在橫隔艙上墩下端進(jìn)行修割，使橫隔艙下端無修割。把下端余量放在上墩下端修割，上墩下端沒有坡口修割后不影響焊接工作。

本發(fā)明的技術(shù)解決方案如下：

一種用于橫隔艙分段修割精度控制方法，包括

步驟一、橫隔艙下端平面度測量，具體如下：

①將橫隔艙槽形壁和下墩分段在門架上擺放至水平狀態(tài)；

②以橫隔艙頂板中心點P₁為原點，以中心線上另一點P₂為X軸，建立直角坐標(biāo)系；

③對橫隔艙下口端面構(gòu)件和橫隔艙下墩前壁板或后壁板交點和橫隔艙下墩前壁板、后壁板兩端端點進(jìn)行測量，分別得出各點距原點P₁在X軸上的長度L₁～L_2n，然后長度L₁～L_2n分別減去橫隔艙分段下口到槽形壁上口的理論長度L，即為該點偏差ΔL₁～ΔL_2n，其中，當(dāng)ΔL值為正，表示橫隔艙分段下口比理論值長，當(dāng)ΔL值為負(fù)，表示橫隔艙分段下口比理論值短；

④步驟③中測量的數(shù)據(jù)經(jīng)過分析得到的偏差ΔL₁～ΔL_2n即為橫隔艙下端面平面度數(shù)據(jù)。

步驟二、內(nèi)底板平面度測量，具體如下：

①底部分段已搭載定位；

②以基線為基準(zhǔn)，測量底部分段內(nèi)底板上橫隔艙下口對應(yīng)點的高度D₁～D_2n，然后高度D₁～D_2n分別減去內(nèi)底板到基線的理論高度H，即為該點高差ΔD₁～ΔD_2n，其中，當(dāng)ΔD值為正，表示內(nèi)底板高度比理論值高，當(dāng)ΔD值為負(fù)，表示內(nèi)底板高度比理論值底；

③步驟②中測量的數(shù)據(jù)經(jīng)過分析得到的高差ΔD₁～ΔD_2n即為內(nèi)底板平面度數(shù)據(jù)。

步驟三、數(shù)據(jù)對比，具體是將某點橫隔艙下端平面度測量值與內(nèi)底板平面度測量值相加，所得的數(shù)值S即為該點應(yīng)該割除的長度或空出的間隙，其中，S為正表示長度，S為負(fù)表示間隙。

ΔL₁+ΔD₁=S₁

ΔL₂+ΔD₂=S₂

......

ΔL_2n+ΔD_2n=S_2n

步驟四、橫隔艙上墩下口的修割，具體步驟如下：

①判段S₁～S_2n中最小值是否小于－16mm，如果是，則執(zhí)行步驟②，否則，執(zhí)行步驟③；

②計算－16mm與S₁～S_2n中最小值的差值ΔS，將S₁～S_2n均加上ΔS；

③將S₁～S_n中大于0的各點余量值劃制到橫隔艙上墩艉端下口，將S_n+1～S_2n中大于0的各點余量值的1/3劃制到橫隔艙上墩艏端下口。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：

1、不破壞板材坡口，保證裝配質(zhì)量。

2、減少打磨、焊接后碳爆坡口的工作量。

附圖說明

圖1是橫隔艙朝艉面的示意圖。

圖2是橫隔艙朝艏面的示意圖。

圖3是橫隔艙下口對應(yīng)內(nèi)底板平面度測量點示意圖。

圖4是橫隔艙側(cè)面示意圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例來對本發(fā)明做進(jìn)一步的說明，但不應(yīng)以此限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。

一種用于橫隔艙分段修割精度控制方法，包括