[發(fā)明專利]大氣顆粒采集測量裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210528534.2
• 申請日: 2012-12-10
• 公開（公告）號: CN103335869A
• 公開（公告）日: 2013-10-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張?zhí)K偉;鄧東衛(wèi);蘇琪;方軍;吳升海
• 申請（專利權(quán)）人: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
• 主分類號: G01N1/22
• 分類號: G01N1/22;G01N15/00
• 代理公司: 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201
• 代理人: 宋合成;賈玉姣

1.一種大氣顆粒采集測量裝置，其特征在于，包括：

底座；

第一壓板組件，所述第一壓板組件固定在所述底座上且所述第一壓板組件與所述底座間隔預(yù)定距離，所述第一壓板組件上設(shè)有進(jìn)氣通道；

第二壓板組件，所述第二壓板組件上形成有與所述進(jìn)氣通道的第二端相適配的通孔，所述第二壓板組件在第一位置和第二位置可移動地設(shè)在所述底座和所述第一壓板組件之間；

濾紙，所述濾紙設(shè)在所述第一壓板組件和第二壓板組件之間，用于收集從所述進(jìn)氣通道進(jìn)入的大氣中的顆粒；

用于推動第二壓板組件在第一位置和第二位置之間移動的升降組件；及

放射源和探測器，所述放射源和探測器分別設(shè)在所述濾紙的上下兩側(cè)，用于檢測所述濾紙上的顆粒。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大氣顆粒采集測量裝置，其特征在于，所述第一壓板組件包括板體以及設(shè)在所述板體的下表面上的密封板。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大氣顆粒采集測量裝置，其特征在于，所述第一壓板組件上設(shè)有第一墊片且所述第二壓板組件上設(shè)有與所述第一墊片相配合的第二墊片。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的大氣顆粒采集測量裝置，其特征在于，所述第一墊片上形成有環(huán)形凸臺。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大氣顆粒采集測量裝置，其特征在于，還包括連通所述進(jìn)氣通道的進(jìn)氣管。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的大氣顆粒采集測量裝置，其特征在于，所述進(jìn)風(fēng)管的內(nèi)表面與所述進(jìn)風(fēng)通道的內(nèi)表面齊平。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的大氣顆粒采集測量裝置，其特征在于，所述進(jìn)風(fēng)通道設(shè)有插接部且所述進(jìn)風(fēng)管插接在所述插接部內(nèi)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大氣顆粒采集測量裝置，其特征在于，所述升降組件包括常推動所述第二壓板組件向第一位置移動的彈性件以及用于推動所述第二壓板向第二位置移動的壓桿和轉(zhuǎn)軸。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的大氣顆粒采集測量裝置，其特征在于，所述彈性件為分別與所述底座和所述第二壓板組件相連的彈簧。