[發明專利]電流調諧的集成磁膜微電感的制作方法和電感調諧方法有效
| 申請號: | 201210525259.9 | 申請日: | 2012-12-07 |
| 公開(公告)號: | CN103022018A | 公開(公告)日: | 2013-04-03 |
| 發明(設計)人: | 孔岑;周建軍;陸海燕 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第五十五研究所 |
| 主分類號: | H01L23/64 | 分類號: | H01L23/64;H01F41/18 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 夏雪 |
| 地址: | 210000 江蘇省南*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電流 調諧 集成 磁膜微 電感 制作方法 方法 | ||
1.一種電流調諧的集成磁膜微電感的制作方法,其特征在于包括如下步驟:
(1)在清洗過的基片上使用光刻工藝勻膠、曝光、顯影,得到控制極金屬壓塊圖形和金屬導線圖形,使用電子束蒸發工藝淀積金屬,使用剝離工藝,得到第一控制極金屬壓塊、第二控制極金屬壓塊和金屬導線,所述第一控制極金屬壓塊和第二控制極金屬壓塊通過金屬導線連接;
(2)使用PECVD工藝在步驟(1)形成的器件上淀積第一SiN介質層;
(3)使用光刻工藝勻膠、曝光、顯影,得到磁膜圖形,該圖形與第二控制極金屬壓塊部分重疊,使用濺射工藝淀積NiFe-SiOx磁性薄膜,使用剝離工藝,得到圖形化的NiFe-SiOx磁性薄膜,NiFe-SiOx磁性薄膜與第二控制極金屬壓塊部分重疊;
(4)使用PECVD(等離子體增強化學氣相沉積)工藝在步驟(3)形成的器件上淀積第二SiN介質層;
(5)使用光刻工藝勻膠、曝光、顯影,得到介質通孔圖形,該圖形與第一控制極金屬壓塊和第二控制極金屬壓塊重疊,使用RIE工藝刻蝕步驟(2)和(4)中生長的SiN介質層,使用丙酮去除剩余的光刻膠,得到介質通孔,露出第一控制極金屬壓塊和第二控制極金屬壓塊;
(6)使用濺射工藝淀積電鍍種子層,使用光刻工藝勻膠、曝光、顯影,得到電感金屬圖形和互聯金屬圖形,使用電鍍工藝電鍍金屬,使用泛曝光、顯影去除剩余光刻膠,使用濕法刻蝕去除剩余的種子層金屬,得到電感金屬和互聯金屬,所述互聯金屬連接NiFe-SiOx磁性薄膜和第二控制極金屬壓塊。
2.根據權利要求1所述一種電流調諧的集成磁膜微電感的制作方法,其特征在于:在所述步驟(3)中,使用磁控濺射工藝淀積NiFe-SiOx磁性薄膜,使用的靶材為Ni含量為60%的NiFe合金及純度為99%的SiO2,濺射條件為:濺射前腔體真空小于6×10-4Pa;濺射在Ar氣體中進行,Ar氣壓PAr為0.3~1.2Pa;NiFe使用直流功率源,濺射功率為50~70W;SiO2使用射頻功率源,濺射功率為120~200W,NiFe與SiO2交替濺射,得到SiO2/NiFe/SiO2/NiFe/SiO2/NiFe/SiO2/NiFe/SiO2結構的NiFe-SiOx磁性薄膜,NiFe-SiOx磁性薄膜的總厚度為450~545nm。
3.一種利用如權利要求1所述方法制作的集成磁膜微電感進行電感調諧的方法,其特征在于,在所述第一控制極金屬壓塊上外加直流電源,外加直流電流大小為0~40mA,實現電感電感量和品質因數的調諧。
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