[發明專利]一種制備單根超長Cu納米線并測量其電學性能的方法

無效

• 申請號: 201210523764.X
• 申請日: 2012-12-07
• 公開（公告）號: CN103031610A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發明（設計）人: 朱開貴;王武
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: D01D5/00
• 分類號: D01D5/00;G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種制備單根超長Cu納米線并測量其電學性能的方法，其特征在于步驟在于：（1）單根超長Cu(NO₃)₂/PVA前驅納米纖維的制備。（2）單根Cu納米線的制備。（3）單根Cu納米線兩端電極的制備。（4）用儀器測量其電學性能。

2.根據權利要求（1）所述的制備單根超長Cu納米線并測量其電學性能的方法，其特征在于收集前驅納米纖維的過程中用寬度為1.7cm的U形銅片。

3.根據權利要求（1）和（2）所述的制備單根超長Cu納米線并測量其電學性能的方法，其特征在于前驅納米線進行熱處理之前的收集板是一個寬度1.5cm、帶有刻痕的載玻片，而且前驅納米纖維收集在刻痕附近。

4.根據權利要求（1）、（2）和（3）所述的制備單根超長Cu納米線并測量其電學性能的方法，其特征在于在銅納米線兩端制備電極時，可以直接在刻痕兩端滴適量導電銀膠實現。

本發明說明書中未作詳細描述的內容屬于本領域專業技術人員公知的現有技術。