[發(fā)明專利]超結(jié)的制作方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210519863.0 | 申請(qǐng)日: | 2012-12-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103854999A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-06-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱陽(yáng)軍;張文亮;田曉麗;胡愛(ài)斌 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所;江蘇中科君芯科技有限公司;江蘇物聯(lián)網(wǎng)研究發(fā)展中心 |
| 主分類號(hào): | H01L21/331 | 分類號(hào): | H01L21/331;H01L21/261;H01L29/739;H01L29/06 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 王寶筠 |
| 地址: | 100029 北京市*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 制作方法 | ||
1.一種超結(jié)的制作方法,其特征在于,包括:
提供一輕摻雜襯底;
以具有P型重?fù)诫s區(qū)圖形的第一掩膜版為掩膜,采用嬗變摻雜工藝在所述輕摻雜襯底內(nèi)形成P型重?fù)诫s區(qū);
以具有N型重?fù)诫s區(qū)圖形的第二掩膜版為掩膜,采用嬗變摻雜工藝在所述輕摻雜襯底內(nèi)形成N型重?fù)诫s區(qū);
退火處理。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述方法,其特征在于,所述輕摻雜襯底的制作材料為硅、或碳化硅、或砷化鎵、或銻化銦。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述方法,其特征在于,所述采用嬗變摻雜工藝在所述輕摻雜襯底內(nèi)形成P型重?fù)诫s區(qū)的過(guò)程,包括:
提供光子源,形成高能光子束;
利用所述高能光子束對(duì)所述輕摻雜襯底進(jìn)行粒子輻照,引發(fā)核反應(yīng),在所述輕摻雜襯底內(nèi)形成P型重?fù)诫s區(qū)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述方法,其特征在于,所述光子源為電子線性加速器光子源。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述方法,其特征在于,所述高能光子束的能量為17.5MeV~22.5MeV。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述高能光子束中光子的運(yùn)動(dòng)方向相互平行。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一掩膜版的制作材料為高能光子吸收劑。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,所述高能光子吸收劑包括重金屬元素的單質(zhì)或化合物以及鈦酸酯或硅烷類偶聯(lián)劑中的至少一種。
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述采用嬗變摻雜工藝在所述輕摻雜襯底內(nèi)形成N型重?fù)诫s區(qū)的過(guò)程,包括:
提供中子源,形成中子束;
利用所述中子束對(duì)所述輕摻雜襯底進(jìn)行粒子輻照,引發(fā)核反應(yīng),在所述輕摻雜襯底內(nèi)形成N型重?fù)诫s區(qū)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其特征在于,所述中子源為放射性同位素中子源、或加速器中子源、或反應(yīng)堆中子源。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述方法,其特征在于,所述中子束中的中子運(yùn)動(dòng)方向相互平行。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所方法,其特征在于,所述第二掩膜版的制作材料為中子吸收劑。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述方法,其特征在于,所述中子吸收劑包括:氙135、或氦3同位素、或硼10、或釤149中的至少一種。
14.一種超結(jié)的制作方法,其特征在于,包括:
提供第一類型重?fù)诫s襯底;
以具有第二類型重?fù)诫s區(qū)圖形的第三掩膜版為掩膜,采用嬗變摻雜工藝在所述第一類型重?fù)诫s襯底內(nèi)形成第二類型重?fù)诫s區(qū),所述第二類型重?fù)诫s區(qū)之外的區(qū)域?yàn)榈谝活愋椭負(fù)诫s區(qū);
退火處理。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述方法,其特征在于,所述第一類型重?fù)诫s襯底為P型重?fù)诫s,所述第二類型重?fù)诫s區(qū)為N型重?fù)诫s。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述方法,其特征在于,所述第一類型重?fù)诫s襯底的制作材料為硅、或碳化硅、或砷化鎵、或銻化銦。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述方法,其特征在于,所述采用嬗變摻雜工藝在所述第一類型重?fù)诫s襯底內(nèi)形成第二類型重?fù)诫s區(qū)的過(guò)程,包括:
提供中子源,形成中子束;
利用所述中子束對(duì)所述第一類型重?fù)诫s襯底進(jìn)行粒子輻照,引發(fā)核反應(yīng),在所述第一類型重?fù)诫s襯底內(nèi)形成第二類型重?fù)诫s區(qū)。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述方法,其特征在于,所述第三掩膜版的制作材料為中子吸收劑。
19.根據(jù)權(quán)利要求14所述方法,其特征在于,所述第一類型重?fù)诫s襯底為N型重?fù)诫s,所述第二類型重?fù)诫s區(qū)為P型重?fù)诫s。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述方法,其特征在于,所述第一類型重?fù)诫s襯底的制作材料為硅、或碳化硅、或金剛石、或鍺、或砷化鎵、或銻化銦。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述方法,其特征在于,所述采用嬗變摻雜工藝在所述第一類型重?fù)诫s襯底內(nèi)形成第二類型重?fù)诫s區(qū)的過(guò)程,包括:
提供光子源,形成高能光子束;
利用所述高能光子束對(duì)所述第一類型重?fù)诫s襯底進(jìn)行粒子輻照,引發(fā)核反應(yīng),在所述第一類型重?fù)诫s襯底內(nèi)形成第二類型重?fù)诫s區(qū)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





