[發明專利]分光光度檢測裝置及其檢測方法

無效

• 申請號: 201210519216.X
• 申請日: 2012-12-06
• 公開（公告）號: CN102980864A
• 公開（公告）日: 2013-03-20
• 發明（設計）人: 蔡志;鄒雄偉;黃凱
• 申請（專利權）人: 力合科技（湖南）股份有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 吳貴明

1.一種分光光度檢測裝置，其特征在于，包括：

光源（10），用于發射檢測光束給檢測池（20）；

所述檢測池（20），用于盛放待檢測溶液，接收所述檢測光束，以通過所述檢測光束照射所述待檢測溶液；

感光器件（30），用于接收通過所述待檢測溶液的檢測光束，將所述檢測光束轉換為檢測光電信號，并發送給信號處理器（40）；

所述信號處理器（40），用于接收所述檢測光電信號，濾除所述檢測光電信號的干擾信號，放大濾除干擾信號后的所述檢測光電信號，并發送給處理器（50）；

所述處理器（50），用于接收濾除干擾信號后的所述檢測光電信號，并將濾除干擾信號后的所述檢測光電信號轉化為相應的數字信號，并根據所述數字信號得到所述待檢測溶液的吸光度。

2.根據權利要求1所述的分光光度檢測裝置，其特征在于，所述信號處理器（40）包括帶通濾波電路（41）和與所述帶通濾波電路（41）電連接的運算放大電路（42），其中，所述帶通濾波電路（41）用于濾除所述檢測光電信號的干擾信號，所述運算放大電路（42）用于放大濾除干擾信號后的所述檢測光電信號。

3.根據權利要求2所述的分光光度檢測裝置，其特征在于，所述運算放大電路（42）包括一級運算放大電路和與所述一級運算放大電路電連接的二級運算放大電路，所述一級運算放大電路包括可連續調節放大倍數的可調電阻（421），所述可調電阻（421）連接在所述一級運算放大電路的芯片的輸入端。

4.根據權利要求3所述的分光光度檢測裝置，其特征在于，所述可調電阻（421）連接在所述一級運算放大電路的芯片的反向輸入端。

5.根據權利要求1所述的分光光度檢測裝置，其特征在于，所述分光光度檢測裝置還包括設置在所述光源（10）和所述檢測池（20）之間的透鏡（60），所述透鏡（60）用于會聚所述檢測光束。

6.根據權利要求1所述的分光光度檢測裝置，其特征在于，所述光源（10）為發光器件。

7.根據權利要求1所述的分光光度檢測裝置，其特征在于，所述感光器件（30）為光敏器件。

8.根據權利要求1所述的分光光度檢測裝置，其特征在于，所述光源（10）、所述檢測池（20）及所述感光器件（30）放置在同一水平面上。

9.一種分光光度檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟S1：照射步驟，接收照射待檢測溶液的檢測光束；

步驟S2：轉化步驟，將照射待檢測溶液的檢測光束轉換為對應的檢測光電信號；

步驟S3：濾除步驟，濾除所述檢測光電信號的干擾信號；

步驟S4：放大步驟，將所述濾除步驟得到的所述檢測光電信號放大處理，并調節放大倍數；

步驟S5：處理步驟，根據朗伯-比爾定律將所述放大步驟得到的所述檢測光電信號進行處理，以得到所述待檢測溶液的吸光度。

10.根據權利要求9所述的分光光度檢測方法，其特征在于，所述放大步驟的放大倍數為β=V0Vi=2+Rl10;]]>

其中，所述R_l為分光光度檢測裝置的可調電阻的阻值，所述V₀為分光光度檢測裝置的運算放大電路的輸出電壓，V_i為分光光度檢測裝置的運算放大電路的輸入電壓。

11.根據權利要求9所述的分光光度檢測方法，其特征在于，所述濾除步驟中，濾除所述干擾信號的頻率f＜30*10⁴MHZ或f＞140*10⁴MHZ。