[發明專利]電路板上電子元件與電路板功能檢測的系統及其方法

無效

• 申請號: 201210496161.5
• 申請日: 2012-11-28
• 公開（公告）號: CN103852709A
• 公開（公告）日: 2014-06-11
• 發明（設計）人: 宋平
• 申請（專利權）人: 英業達科技有限公司;英業達股份有限公司;英業達集團（天津）電子技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/00
• 代理公司: 北京市浩天知識產權代理事務所 11276
• 代理人: 靳春鷹;劉云貴

技術領域

本發明涉及一種檢測系統及其方法，尤其涉及一種電路板上電子元件與電路板功能檢測的系統及其方法。

背景技術

在服務器的硬件組成中，常以主機板、背板（SASBP）、風扇控制電路板（FCB）、電源控制電路板（PDB）等電路板組成，而對于各個電路板的功能測試，現有的做法是開發嵌入式的測試設備。

而對于測試設備采用嵌入式系統，通常設計會比較復雜，需要考慮的方面很多，例如：需要設計好硬件電路，預留好硬件接口、選擇芯片、設計PCB、打板子、硬件的整體工序都需要進行考慮。

然后開發系統上下位機的程序，開發這種測試設備的軟件和硬件的成本會很高的，測試設備的硬件接口功能（例如：IIC、GPIO、SPI、SGPIO等接口）和數量需要在設計時就預留好，將來如果接口不夠或者需要擴展，很有可能需要硬件升級，成本進一步上升，后期維護的時候，還會遇到下位機固件（firmware）版本升級等，成本的花費是不斷且高昂的。

故由于設計的復雜，實現的工序多，以及后期的維護，使得測試設備的開發非常昂貴。

綜上所述，可知現有技術中長期以來一直存在檢測電路板上電子元件與電路板功能設計開發不易的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決這一問題。

發明內容

有鑒于現有技術存在檢測電路板上電子元件與電路板功能設計開發不易的問題，本發明遂揭露一種電路板上電子元件與電路板功能檢測的系統及其方法，其中：

本發明所揭露的電路板上電子元件與電路板功能檢測的系統，其包含：信號控制端、信號轉換電路板以及檢測電路板，其中：信號轉換電路板還包含：信號傳輸接口、邊界掃描芯片（Boundary?Scan?Chip，BS芯片）以及多個檢測連接接口。

信號控制端是用以提供檢測信息以及判斷檢測結果；信號轉換電路板的信號傳輸接口是用以與信號控制端形成電性連接，并自信號控制端獲得檢測信息，與提供檢測結果至信號控制端；信號轉換電路板的邊界掃描芯片與信號傳輸接口形成電性連接，邊界掃描芯片具有多個數據傳輸引腳，依據邊界掃描（Boundary?Scan）技術將檢測信息由邊界掃描芯片內的邊界掃描鏈（Boundary?Scan?Chain）推送至指定的數據傳輸引腳，與推送指定的數據傳輸引腳的檢測結果至測試數據輸出引腳（Test?Data?Output，TDO）并電性連接至信號傳輸接口；信號轉換電路板的多個檢測連接接口分別與邊界掃描芯片指定的數據傳輸引腳電性連接，每一個檢測連接接口用以傳輸指定的數據傳輸引腳的檢測信息以及傳輸檢測結果；檢測電路板與檢測連接接口其中之一電性連接，并自電性連接的檢測連接接口獲得檢測信息，以依據檢測信息進行檢測電路板中電子元件與電路板功能的檢測，并通過檢測連接接口反饋檢測結果。

本發明所揭露的電路板上電子元件與電路板功能檢測的方法，其包含下列步驟：

首先，信號轉換電路板的信號傳輸接口與信號控制端形成電性連接，并自信號控制端獲得檢測信息；接著，信號轉換電路板的邊界掃描芯片與信號傳輸接口形成電性連接，邊界掃描芯片具有多個數據傳輸引腳，依據邊界掃描技術將檢測信息由邊界掃描芯片內的邊界掃描鏈推送至指定的數據傳輸引腳；接著，信號轉換電路板的多個檢測連接接口分別與邊界掃描芯片指定的數據傳輸引腳電性連接，每一個檢測連接接口用以傳輸指定的數據傳輸引腳的檢測信息；接著，檢測電路板與檢測連接接口其中之一電性連接，并自電性連接的檢測連接接口獲得檢測信息，以依據檢測信息進行檢測電路板中電子元件與電路板功能的檢測，并通過檢測連接接口反饋檢測結果；接著，將檢測結果由邊界掃描芯片內的邊界掃描鏈推送至測試數據輸出引腳并電性連接至信號傳輸接口，以由信號傳輸接口提供檢測結果至信號控制端；最后，信號控制端判斷檢測結果。

本發明所揭露的系統與方法如上，與現有技術之間的差異在于，本發明通過信號轉換電路板的邊界掃描芯片將檢測信息依據邊界掃描技術推送至指定的數據傳輸引腳，即可由對應的檢測連接接口將檢測信息提供至檢測電路板，檢測電路板以依據檢測信息進行檢測電路板中電子元件與電路板功能的檢測，并通過檢測連接接口反饋檢測結果，通過信號轉換電路板即可模擬出檢測電路板上不同電子元件的檢測所需要的數據與協議，以及模擬出檢測電路板的不同電路功能測試所需要的數據與通信協議，有效地提升檢測電路板的檢測效率以及避免檢測硬件設計的困難度。

通過上述的技術手段，本發明可以達成快速且簡易檢測電路板上電子元件與電路板功能的技術效果。

附圖說明

圖1示為本發明電路板上電子元件與電路板功能檢測的系統方塊圖。