[發明專利]一種用于ESD保護的低壓觸發SCR器件有效
| 申請號: | 201210493251.9 | 申請日: | 2012-11-28 |
| 公開(公告)號: | CN102938403A | 公開(公告)日: | 2013-02-20 |
| 發明(設計)人: | 蔡小五;魏俊秀;梁超;閆明;呂川;劉興輝;高哲;郭紅梅 | 申請(專利權)人: | 遼寧大學 |
| 主分類號: | H01L27/02 | 分類號: | H01L27/02;H01L29/74 |
| 代理公司: | 沈陽杰克知識產權代理有限公司 21207 | 代理人: | 金春華 |
| 地址: | 110136 遼寧*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 esd 保護 低壓 觸發 scr 器件 | ||
1.一種用于ESD保護的低壓觸發SCR器件,包括P型襯底(7),P型襯底(7)上設置N阱(6),其特征在于:設有第一PMOS(20)、第二PMOS(30)和第三PMOS(40);
在N阱(6)上設有第一N+注入區(1)和第一P+注入區(2),第一P+注入區(2)臨近N阱(6)和P型襯底(7)的交界處;
在P型襯底(7)上設有第二N+注入區(3)和第三P+注入區(4),第二N+注入區(3)臨近N阱(6)和P型襯底(7)的交界處;
第一P+注入區(2)接陽極,作為第三PMOS(40)的源,第二P+注入區(5)作為第三PMOS(40)的漏跨接在N阱(6)和P型襯底(7)之間;
第一PMOS(20)柵接陽極,漏接陰極,源接N阱(6)的第一N+注入區(1),襯底接電路的Vdd;
第二PMOS(30)柵接陽極,漏接陰極,源接第三PMOS(40)的柵,襯底接電路的Vdd;
第二N+注入區(3)和第三P+注入區(4)均接陰極。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





