[發明專利]電子封裝外殼無效
| 申請號: | 201210486038.5 | 申請日: | 2012-11-26 |
| 公開(公告)號: | CN102945835A | 公開(公告)日: | 2013-02-27 |
| 發明(設計)人: | 劉圣遷;陶建中;姚全斌 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第十三研究所 |
| 主分類號: | H01L23/29 | 分類號: | H01L23/29;H01L23/02 |
| 代理公司: | 石家莊國為知識產權事務所 13120 | 代理人: | 李榮文 |
| 地址: | 050051 河北省*** | 國省代碼: | 河北;13 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子 封裝 外殼 | ||
技術領域
本發明涉及電子封裝技術領域。
背景技術
以往的電子封裝外殼包括鎳鍍層和鍍金層。電子封裝外殼需要在420℃時燒結硅芯片。在420℃高溫作用下,硅芯片中的硅會擴散到電子封裝外殼的鎳鍍層中,導致鎳鍍層脆化開裂,芯片從外殼焊接區表面脫落;鍍金層一般厚度為3微米,經歷300℃,30min的烘烤過程,外殼鍍鎳層中的鎳會擴散至外殼表面的鍍金層中,導致鍍金層顏色發紅(目檢),從而影響鍍金層的功能及應用。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種電子封裝外殼,通過在鍍鎳層和頂部鍍金層之間設置鍍鎳鈷層,可有效防止外殼鍍層結構中出現鎳鍍層脆性開裂問題,并大大地減少了鎳向頂部鍍金層的擴散,提高和保證了頂部鍍金層的功能和應用的可靠性,提高了電子封裝外殼的應用可靠性;同時還可節省貴重金屬黃金的用量。
為解決上述技術問題,本發明所采取的技術方案是:一種電子封裝外殼,包括外殼基層、設于外殼基層上的鍍鎳層和設于鍍鎳層上的頂部鍍金層;還包括設于鍍鎳層和頂部鍍金層之間的鍍鎳鈷層。
優選的,所述鍍鎳鈷層和鍍鎳層之間還設有中間鍍金層。
優選的,所述鍍鎳鈷層的厚度為1-3微米。
優選的,所述頂部鍍金層的厚度為1.8微米。
采用上述技術方案所產生的有益效果在于:在電子封裝外殼鍍層中引入鎳鈷鍍層后,鎳鈷鍍層可以防止硅的熱擴散,從而防止外殼鍍層結構中出現鎳鍍層脆性開裂的問題;同時,還大大地減少了鎳向頂部鍍金層的擴散,有效提高了頂部鍍金層的功能和應用的可靠性。本發明能大大提高電子封裝外殼的應用可靠性,同時還可節省貴重金屬黃金的用量。如,鍍鎳鈷層的電子封裝外殼,鍍鎳鈷層厚度為1-3微米,頂部鍍金層厚度為1.8微米,經歷300℃,30min的烘烤過程,由于大大減緩和減少了鎳向鍍金層的擴散,故頂部鍍金層顏色正常,頂部鍍金層功能應用不受影響,從而提高外殼應用的可靠性。
附圖說明
圖1是本發明實施例1的結構示意圖。
圖2是本發明實施例2的結構示意圖。
附圖中:1、外殼基體;2、鍍鎳層;3、鍍鎳鈷層;4、頂部鍍金層;5、中部鍍金層。
具體實施方式
下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步詳細的說明。
實施例1,如圖1所示,本發明公開了一種電子封裝外殼,電子封裝外殼是電子封裝過程中使用的封裝裝置,電子封裝的作用在于安放固定內置芯片,保護集成電路內置芯片,增強內置芯片環境適應的能力,并且集成電路芯片上的鉚點也就是接點,是焊接到封裝管殼的引腳上的,現有的一種電子封裝外殼包括外殼基體1、設于外殼基體1上的鍍鎳層2和設于鍍鎳層2上的頂部鍍金層4;由于電子封裝外殼在具體使用過程中需要在420℃時燒結硅芯片,在420℃高溫作用下,硅芯片中的硅會擴散到電子封裝外殼的鍍鎳層中,導致鎳鍍層脆化開裂,芯片從外殼焊接區表面脫落;未加入鎳鈷鍍層的電子封裝外殼,鍍金層厚度3微米,經歷300℃,30min的烘烤過程,外殼鍍鎳層中的鎳會擴散至外殼表面的頂部鍍金層中,導致頂部鍍金層顏色發紅(目檢),影響頂部鍍金層功能應用,本發明所披露的一種電子封裝外殼還包括設于鍍鎳層2和頂部鍍金層4之間的鍍鎳鈷層3;所述鍍鎳鈷層3的厚度為1-3微米,鍍層順序自內向外依次為外殼基體,鍍鎳層,鍍鎳鈷層和頂部鍍金層,由于鍍鎳鈷層較為穩定,有效防止鍍鎳層中的鎳擴散到頂部鍍金層中,進而確保電子封裝外殼使用可靠性。
所述鍍鎳鈷層3的厚度可以為1微米或者3微米,頂部鍍金層的厚度為1.8微米;未加入鎳鈷鍍層的電子封裝外殼的鍍金層厚度3微米,經歷300℃,30min的烘烤過程,鍍鎳層中的鎳會擴散至外殼表面的頂部鍍金層中,導致頂部鍍金層顏色發紅(目檢),影響鍍金層功能應用。
加入鎳鈷鍍層的電子封裝外殼,鍍金層厚度調整為1.8微米,經歷300℃,30min的烘烤過程,減緩和減少了鎳向鍍金層的擴散,外殼鍍金層顏色正常(目檢),鍍金層功能應用不受影響,從而提高外殼應用可靠性,同時節約黃金用量。
實施例2,如圖2所示,本實施例與實施例1之間的區別在于所述鍍鎳鈷層3和鍍鎳層2之間還設有中部鍍金層5。
綜上所述,本發明通過在電子封裝外殼鍍層結構中引入鍍鎳鈷層,形成全新的電子封裝外殼鍍層結構,提高外殼應用可靠性。
本發明中的鍍層實現方法如下:第一步進行外殼基體鍍前處理,包括使用洗潔精溶液、化學去油溶液、鉻酸溶液、亞硫酸鈉溶液、硫酸溶液以及鹽酸溶液進行清潔、去油和酸洗,完成鍍前處理后進行預鍍鎳,進一步完成鍍鎳和鍍鎳鈷層,鍍鎳鈷層中鈷原子含量控制在15%~30%(原子比),最后在鍍鎳鈷層上面完成頂部鍍金層,當然也可以在鍍鎳鈷層之前進行中部鍍金層的作業,通過設置鍍鎳鈷層,提高電子封裝外殼應用可靠性落。?
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國電子科技集團公司第十三研究所,未經中國電子科技集團公司第十三研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210486038.5/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





