[發明專利]一種耐電暈聚酰亞胺薄膜陷阱分布計算方法無效
| 申請號： | 201210473987.X | 申請日： | 2012-11-21 |
| 公開（公告）號： | CN103163400A | 公開（公告）日： | 2013-06-19 |
| 發明（設計）人： | 杜伯學;李杰;杜偉 | 申請（專利權）人： | 天津學子電力設備科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;G01N27/60 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 300072 天津市濱*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 電暈 聚酰亞胺 薄膜 陷阱 分布 計算方法 | ||
【權利要求書】：
本發明專利涉及一種耐電暈聚酰亞胺薄膜陷阱分布計算方法，他包括：
1.將待測試樣在正負直流2-5kV電壓下電暈5-30分鐘。?
2.利用表面電位計測量試樣表面電位。?
3.陷阱分布利用如下公式計算：
Ec-Em＝kTln(vt)???????????(1)
4.其中Ec為導電帶能級，Em為能級界限，v為測得的表面電位，t為電荷消散時間，k，T為常數。根據上述計算可得出一條陷阱分布曲線，其中公式(1)所得分布為陷阱分布橫坐標，顯示試樣的能級分布范圍，公式(2)所得為縱坐標，顯示不同橫坐標下存在的概率密度。?
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