[發明專利]一種LED性能測試箱、標定方法及性能測試方法

有效

• 申請號: 201210471470.7
• 申請日: 2012-11-20
• 公開（公告）號: CN102967446A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 胡益民;劉巖;敬剛;張志甜;楊永剛;張超;朱惠忠;劉文斌;李永光;湯皎寧;曹廣忠;高文杰;袁文龍;梁榮;陸兆隆
• 申請（專利權）人: 深圳清華大學研究院
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01R31/26
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223
• 代理人: 江耀純

技術領域

本發明涉及LED測試領域，具體涉及一種LED性能測試箱、標定方法及性能測試方法。

背景技術

目前通行的LED可靠性試驗方法是：在同型號、同批次的LED產品中，抽取一定數量的樣品進行試驗，在試驗前以及試驗過程中測量其性能參數，根據相應的壽命算法推算出該型號、該批次的LED壽命。由于LED的理論壽命長達數萬小時，因此需要采用加強應力的強化試驗方法來加速整個試驗過程。

為了提高效率及優化試驗結果，通行做法是同時對多個LED樣品進行可靠性試驗。現有LED可靠性試驗系統中通常采樣一個托盤，在該托盤上固定多個LED樣品，再將整個托盤放置在強化試驗箱內，在試驗過程中當需要測量LED樣品的性能參數時，就將托盤上的LED樣品依次拆下，逐個放置于積分球內進行測量，測量完畢后再將LED樣品重新安裝到托盤上，放回強化試驗箱內繼續后續試驗。其存在的問題是：

1、在整個試驗過程中，需要反復安裝、拆卸LED樣品，增加了大量的人力和時間成本；

2、并且在安裝、拆卸過程中存在造成試驗樣品性能改變的不穩定因素而影響最終測試結果。

發明內容

為了解決現有技術問題，本發明提供了一種結構簡單并且性能可靠的LED測試箱、標定方法及性能測試方法。

一種LED性能測試箱，包括箱體和取光裝置，還包括第一電機、第二電機、轉軸、光纖和連接件，所述箱體上設有通孔，所述轉軸和光纖穿過所述通孔，所述取光裝置設置在所述箱體內部，設置在所述箱體外部的所述第一電機驅動所述轉軸轉動，所述連接件固定在所述轉軸處于所述箱體內的一端，所述第二電機固定在所述連接件上，所述第二電機驅動所述取光裝置靠近或遠離所述轉軸，所述光纖的第一端與所述取光裝置連接、且第二端在所述箱體外。

在更優的方案中，所述轉軸具有軸向的轉軸通孔，所述光纖穿過所述轉軸通孔。

在更優的方案中，所述通孔處設有隔離箱體內與箱體外的密封件。

在更優的方案中，還包括用于反饋所述第一電機轉動角度的第一旋轉編碼器和用于控制所述第一電機旋轉的第一控制器，所述第一旋轉編碼器的輸出信號端與所述第一控制器電連接。

在更優的方案中，還包括用于反饋所述第二電機轉動角度的第二旋轉編碼器和用于控制所述第二電機旋轉的第二控制器，所述第二旋轉編碼器的輸出信號端與所述第二控制器電連接。

在更優的方案中，還包括測光儀，所述光纖的第二端與所述測光儀連接。

在更優的方案中，還包括LED固定盤，所述LED固定盤具有至少兩個分布有LED固定位的同心圓周，所述圓周的圓心在所述轉軸所處的直線上，以使所述取光裝置轉動時對準各個LED固定位上的LED。

在更優的方案中，所述取光裝置可以靠近或遠離所述LED固定盤。

本發明還提供了一種LED標定方法，采用所述的LED性能測試箱，包括如下步驟：

1）記錄第二旋轉編碼器的輸出信號，第一電機驅動取光裝置在第一圓周上運動，同時測光儀檢測取光裝置是否對準某個LED；

2）當取光裝置對準某個LED時，記錄第一旋轉編碼器的輸出信號，建立該輸出信號與LED的位置的對應關系，直至建立第一圓周上的所有LED的位置與相應的第一旋轉編碼器的輸出信號和第二旋轉編碼器的輸出信號的對應關系；

3）第二電機驅動取光裝置沿垂直于轉軸方向運動至第二圓周上，記錄第二旋轉編碼器的輸出信號；

4）第一電機驅動取光裝置在第二圓周上運動，同時測光儀檢測取光裝置是否對準某個LED；

5）當取光裝置對準某個LED時，記錄第一旋轉編碼器的輸出信號，建立該輸出信號與LED的位置的對應關系，直至建立第二圓周上的所有LED的位置與相應的第一旋轉編碼器的輸出信號和第二旋轉編碼器的輸出信號的對應關系。

在更優的方案中，在步驟2）和步驟5）中，通過如下步驟判斷取光裝置是否對準某個LED：測光儀檢測到的光強是否出現峰值；第一旋轉編碼器的輸出信號為在光強峰值時刻的第一旋轉編碼器的輸出信號。

本發明還提供了一種LED性能測試方法，利用所述的LED標定方法，包括如下步驟：

第一控制器接收帶有第一LED設定位置信息的控制信號，驅動第一電機帶動取光裝置到對應的位置，第二控制器接收帶有第二LED設定位置信息的控制信號，第二控制器驅動第二電機帶動取光裝置到對應的位置；