[發明專利]光掃描裝置以及圖像形成裝置有效
| 申請號: | 201210461873.3 | 申請日: | 2012-11-16 |
| 公開(公告)號: | CN103135227A | 公開(公告)日: | 2013-06-05 |
| 發明(設計)人: | 市井大輔 | 申請(專利權)人: | 株式會社理光 |
| 主分類號: | G02B26/12 | 分類號: | G02B26/12;G03G15/00 |
| 代理公司: | 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245 | 代理人: | 趙蓉民 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 掃描 裝置 以及 圖像 形成 | ||
技術領域
本發明涉及光掃描裝置以及圖像形成裝置,具體涉及以多束光掃描被掃描面的光掃描裝置以及具備該光掃描裝置的圖像形成裝置。
背景技術
在電子照相的圖像記錄中廣泛使用采用激光的圖像形成裝置。該圖像形成裝置具備光掃描裝置,通常采用轉鏡掃描器(例如多面鏡),用激光掃描具有感光性的感光鼓表面,在感光鼓上形成潛像。在這種類型的電子照相領域中,不但要求通過提高圖像密度來提高圖像形成裝置的圖像質量,而且還要求通過提高圖像輸出速度來改善圖像形成裝置的操作性能。對此,用多束光同時掃描感光鼓表面即多光束化被認為是有望同時提高圖像密度和輸出速度的方法之一。
例如,專利文獻1(JP特許第35496666號公報)公開了一種多光束寫入光學系統,用于在保持圖像形成真實性的范圍內,降低被掃描面上多束光束之間的掃描線彎曲差。
但是,在專利文獻1公開的多光束寫入光學系統中,如果光束數量大于2,則在被掃描面上,副掃描方向上的光束間隔有可能隨著環境溫度變化而發生大幅度變化。
發明內容
本發明的光掃描裝置是一種用多束光沿著第一方向同時掃描被掃描面的光掃描裝置,其具備:光源,具有多個發光部;光偏轉器,用于偏轉所述光源發射的多束光;以及,掃描光學系統,用于將經過所述光偏轉器偏轉后的多束光引導到所述被掃描面上,其中包含第二方向上的折射能力為最大的透鏡,該第二方向與所述第一方向正交,在所述透鏡的至少一個光學面上,經過所述光偏轉器偏轉后的多束光各自的入射位置的軌跡互相交錯或或重疊在一起。
本發明的光掃描裝置的效果在于,減小被掃描面上與第二方向相對應的方向(副掃描方向)上的光線間隔誤差。
附圖說明
圖1顯示涉及本發明實施方式的彩色打印機的結構示意圖。
圖2是圖1中的光掃描裝置的結構示意圖。
圖3是防音玻璃的示意圖。
圖4是光源單元LU1的示意圖。
圖5是面發光激光陣列的示意圖。
圖6是光源單元LU2的示意圖。
圖7是位于光源單元LU1和多面鏡之間的光學部件的示意圖。
圖8是位于光源單元LU2和多面鏡之間的光學部件的示意圖。
圖9是光束分割部件的示意圖。
圖10是掃描光學系統A和掃描光學系統B的示意圖。
圖11是掃描光學系統A的放大圖。
圖12是掃描透鏡的設計例之一的示意圖。
圖13是掃描透鏡的設計例之二的示意圖。
圖14是一例第一透鏡形狀的參數表。
圖15是一例第二透鏡形狀的參數表。
圖16A和圖16B分別是從發光部c?h1發射的光線的主光線光路、以及從發光部ch40發射的光線的主光線光路。
圖17是用于說明開口部和共軛位置的示意圖。
圖18A和圖18B分別是第二掃描透鏡和開口部的共軛點之間關系的示意圖。
圖19A和圖19B分別是發光部c?h1發射的光線以及發光部ch40發射的光線入射到第二掃描透鏡的入射面上的入射位置的示意圖。
圖20A和圖20B分別是c?h1-ch40間隔誤差伴隨溫度變化而發生的變化的示意圖。
圖21A和圖21B分別是對比例1的第二掃描透鏡和開口部的共軛點之間關系的示意圖。
圖22A和圖22B分別是對比例1的發光部c?h1發射的光線以及發光部ch40發射的光線入射到第二掃描透鏡的入射面上的入射位置的示意圖。
圖23A和圖23B分別是對比例1的c?h1-ch40間隔誤差伴隨溫度變化而發生的變化的示意圖。
圖24A和圖24B分別是對比例2的第二掃描透鏡和開口部的共軛點之間關系的示意圖。
圖25A和圖25B分別是對比例2的發光部c?h1發射的光線以及發光部ch40發射的光線入射到第二掃描透鏡的入射面上的入射位置的示意圖。
圖26A和圖26B分別是對比例2的c?h1-ch40間隔誤差伴隨溫度變化而發生的變化的示意圖。
圖27A和圖27B分別是變形例1的發光部c?h1發射的光線以及發光部ch2發射的光線入射到第二掃描透鏡的入射面上的入射位置的示意圖。
圖28A和圖28B分別是變形例1的c?h1-ch2間隔誤差伴隨溫度變化而發生的變化的示意圖。
圖29A和圖29B分別是對比例3的發光部c?h1發射的光線以及發光部ch2發射的光線入射到第二掃描透鏡的入射面上的入射位置的示意圖。
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