[發(fā)明專利]測量樣本中激發(fā)態(tài)壽命的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210459090.1 | 申請日: | 2012-11-14 |
| 公開(公告)號: | CN103105383B | 公開(公告)日: | 2018-07-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | B·威茲高斯蓋 | 申請(專利權(quán))人: | 徠卡顯微系統(tǒng)復(fù)合顯微鏡有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;G02B21/00 |
| 代理公司: | 北京泛華偉業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇;王博 |
| 地址: | 德國韋*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測量 樣本 激發(fā)態(tài) 壽命 方法 | ||
1.一種測量樣本中激發(fā)態(tài)壽命的方法,包括下述步驟:
a.生成激發(fā)脈沖并用該激發(fā)脈沖照亮樣本區(qū)域,
b.生成表示激發(fā)脈沖的功率-時(shí)間曲線的第一數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列,
c.根據(jù)第一數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列確定第一開關(guān)時(shí)刻,
d.利用檢測器檢測從樣本區(qū)域發(fā)出的檢測光,
e.生成表示檢測光的功率-時(shí)間曲線的第二數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列,
f.根據(jù)第二數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列確定第二開關(guān)時(shí)刻,及
g.計(jì)算第一和第二開關(guān)時(shí)刻之間的時(shí)間差,
其中,所述激發(fā)脈沖和所述檢測光由掃描裝置中的同一掃描鏡進(jìn)行引導(dǎo)。
2.如權(quán)利要求1的方法,其中,
循環(huán)地重復(fù)步驟a-g。
3.如權(quán)利要求1的方法,其中,激發(fā)脈沖源自主光脈沖,主光脈沖的一部分被傳送到激發(fā)檢測器,激發(fā)檢測器生成第一模擬電信號,第一模擬電信號的幅度-時(shí)間曲線取決于主光脈沖的該部分的功率的時(shí)間曲線,并且,為了生成第一數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列,第一模擬電信號具體地以預(yù)定和/或可預(yù)定的第一時(shí)隙在時(shí)間上采樣。
4.如權(quán)利要求3的方法,其中,利用標(biāo)準(zhǔn)化電信號生成第一數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列,生成的方式如下:當(dāng)取樣的幅度低于定義的和/或可定義的第一激發(fā)閾值時(shí),生成較低的標(biāo)準(zhǔn)化信號,或者當(dāng)取樣的幅度高于定義的和/或可定義的第二激發(fā)閾值時(shí),生成不同于較低標(biāo)準(zhǔn)化信號的較高的標(biāo)準(zhǔn)化信號。
5.如權(quán)利要求3的方法,其中,檢測器生成第二模擬電信號,第二模擬電信號的幅度-時(shí)間曲線取決于檢測光的功率的時(shí)間曲線,并且,為了生成第二數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列,第二模擬電信號具體地以預(yù)定和/或可預(yù)定的第二時(shí)隙在時(shí)間上采樣。
6.如權(quán)利要求5的方法,其中,利用標(biāo)準(zhǔn)化電信號生成第二數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列,生成的方式如下:當(dāng)取樣的幅度低于定義的和/或可定義的第一檢測閾值時(shí),生成較低的標(biāo)準(zhǔn)化信號,或者當(dāng)取樣的幅度高于定義的和/或可定義的第二檢測閾值時(shí),生成不同于較低標(biāo)準(zhǔn)化信號的較高的標(biāo)準(zhǔn)化信號。
7.如權(quán)利要求5的方法,其中,以恒定重復(fù)頻率循環(huán)地重復(fù)權(quán)利要求1中的步驟a-g,并且其中
以遠(yuǎn)高于重復(fù)頻率的采樣頻率對第一和/或第二模擬電信號進(jìn)行采樣。
8.如權(quán)利要求5的方法,其中,為了增加時(shí)間分辨率,
重復(fù)地對第一模擬電信號進(jìn)行采樣,并且/或者
重復(fù)地對第二模擬電信號進(jìn)行采樣。
9.如權(quán)利要求8的方法,其中,多次采樣的采樣結(jié)果在數(shù)學(xué)上相結(jié)合,從而分別產(chǎn)生第一數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列和第二數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列。
10.如權(quán)利要求1的方法,其中,
a.利用第一采樣裝置生成第一數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列,該第一采樣裝置包括比較器和/或恒定系數(shù)鑒別器,并且/或者
b.利用第二采樣裝置生成第二數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列,該第二采樣裝置包括比較器和/或恒定系數(shù)鑒別器。
11.如權(quán)利要求1的方法,其中,具體地由第一串并轉(zhuǎn)換器將第一數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列轉(zhuǎn)換成第一并行數(shù)據(jù)字,并且/或者,具體地由第二串并轉(zhuǎn)換器將第二數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)序列轉(zhuǎn)換成第二并行數(shù)據(jù)字。
12.如權(quán)利要求11的方法,其中,每個(gè)數(shù)據(jù)字均表示一個(gè)測量期間,該測量期間至少與連續(xù)激發(fā)脈沖之間的時(shí)間間隔一樣長。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
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