[發明專利]一種上蠟工藝無效
| 申請號: | 201210457559.8 | 申請日: | 2012-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN103811595A | 公開(公告)日: | 2014-05-21 |
| 發明(設計)人: | 張恒 | 申請(專利權)人: | 張恒 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;B05C1/02 |
| 代理公司: | 北京輕創知識產權代理有限公司 11212 | 代理人: | 王澎 |
| 地址: | 264003 山東省*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 上蠟 工藝 | ||
技術領域
本發明涉及一種上蠟工藝,屬于光電子領域。
背景技術
在LED生產領域中,為了提高芯片的散熱,往往需要將芯片進行減薄,而減薄非常容易將本來就易碎的芯片磨碎,目前,通常在減薄前,將芯片通過特定的減薄蠟黏貼在陶瓷盤上,而目前上蠟工藝通常不是很完善,因此在減薄過程中,仍然出現大量的碎片。
發明內容
本發明針對現有技術存在的不足,提供一種上蠟工藝。
本發明解決上述技術問題的技術方案如下:一種上蠟工藝,其特征在于,所述工藝方法如下:
(1)將氮氣槍壓力調至0.6MPa,將氮氣槍槍口斜對芯片表面,打開氮氣槍,將芯片表面吹干凈;
(2)將蠟棒和陶瓷盤加熱至110℃,再將蠟滴涂在陶瓷盤上,每片消耗0.3g蠟;
(3)將wafer貼在陶瓷盤上,鋪蓋無塵紙,壓盤加壓2min,壓力0.6MPa;
(4)冷卻至40℃,取出陶瓷盤,上蠟結束。
本發明的有益效果是:本發明工藝將上蠟溫度及壓力進一步精確保證上蠟的均勻性,同時能夠有效的降低裂片率,保證了芯片的質量,從而提高了產品的利潤。
具體實施方式
以下對本發明的原理和特征進行描述,所舉實例只用于解釋本發明,并非用于限定本發明的范圍。
一種上蠟工藝,其特征在于,所述工藝方法如下:
(1)將氮氣槍壓力調至0.6MPa,將氮氣槍槍口斜對芯片表面,打開氮氣槍,將芯片表面吹干凈;
(2)將蠟棒和陶瓷盤加熱至110℃,再將蠟滴涂在陶瓷盤上,每片消耗0.3g蠟;
(3)將wafer貼在陶瓷盤上,鋪蓋無塵紙,壓盤加壓2min,壓力0.6MPa;
(4)冷卻至40℃,取出陶瓷盤,上蠟結束。
以上所述僅為本發明的較佳實施例,并不用以限制本發明,凡在本發明的精神和原則之內,所作的任何修改、等同替換、改進等,均應包含在本發明的保護范圍之內。
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