[發明專利]波阻抗反演數據可靠性評價方法及裝置

有效

• 申請號: 201210455247.3
• 申請日: 2012-11-13
• 公開（公告）號: CN102967884A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 李國發;馬彥彥;岳英;付立新;翟桐立;國春香;李皓;劉昭;秦德海
• 申請（專利權）人: 中國石油大學(北京)
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王天堯

1.一種波阻抗反演數據可靠性評價方法，其特征在于，包括：

確定地震數據的均方根振幅在空間上的變化特征；

確定反射系數高頻分量的均方根振幅在空間上的變化特征；

確定地震數據均方根振幅在空間上的變化特征與反射系數高頻分量的均方根振幅在空間上的變化特征的相似性；

根據所述相似性，對波阻抗反演數據的可靠性進行評價。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定地震數據的均方根振幅在空間上的變化特征，包括：

讀取地震數據x_i(t),i＝1,2,…n，其中，n為地震道數，t是時間，單位為秒或毫秒；

計算地震數據x_i(t),i＝1,2,…n的均方根振幅曲線C(i),i＝1,2,…n：

C(i)=Σi=1n∫xi2(t)dt;]]>

計算歸一化之后的地震數據的均方根振幅曲線i＝1，2,…n：

C‾(i)=C(i)Σi=1nC(i);]]>

所述確定反射系數高頻分量的均方根振幅在空間上的變化特征，包括：

讀取波阻抗數據z_i(t),i＝1,2,…n，其中，n為地震道數，t是時間，單位為秒或毫秒；

由波阻抗數據z_i(t),i＝1,2,…n計算反射系數序列的高頻分量r_i(t),i＝1，2,…n；

計算反射系數高頻分量的均分根振幅曲線D(i),i＝1,2,…n：

D(i)=Σi=1n∫ri2(t)dt;]]>

計算歸一化之后的反射系數高頻分量的均分根振幅曲線i＝1,2,…n：

D‾(i)=D(i)Σi=1nD(i);]]>

所述確定地震數據均方根振幅在空間上的變化特征與反射系數高頻分量的均方根振幅在空間上的變化特征的相似性，包括：

計算歸一化之后的地震數據的均方根振幅曲線i＝1,2,…n與歸一化之后的反射系數高頻分量的均分根振幅曲線i＝1,2,…n的相似系數ρ：

ρ=Σi=1nC‾(i)D‾(i)Σi=1nC‾2(i)Σi=1nD‾2(i);]]>

所述根據所述相似性，對波阻抗反演數據的可靠性進行評價，包括：

在ρ≥0.9時，確定波阻抗反演數據可靠；

在0.8≤ρ＜0.9時，確定波阻抗反演數據比較可靠；

在ρ＜0.8時，確定波阻抗反演數據不可靠。