[發明專利]一種針對X射線閃爍屏的性能測試裝置

無效

• 申請號: 201210451964.9
• 申請日: 2012-11-12
• 公開（公告）號: CN102937510A
• 公開（公告）日: 2013-02-20
• 發明（設計）人: 趙博震;秦秀波;楊勝宇;魏存峰;魏龍
• 申請（專利權）人: 中國科學院高能物理研究所
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01M11/02
• 代理公司: 北京凱特來知識產權代理有限公司 11260
• 代理人: 鄭立明;陳亮

1.一種針對X射線閃爍屏的性能測試裝置，其特征在于，所述裝置包括X射線源、限束器、測試器件、閃爍屏、光學組件和光電轉換器件，其中：

所述X射線源用于產生具有特定能譜和發散角的X射線；

所述限束器固定在所述X射線源的出口處，用于控制X射線的輻射區域；

所述測試器件固定在所述限束器和所述閃爍屏之間，用于屏蔽部分X射線以在所述閃爍屏上形成刀口邊緣圖像；

所述光學組件用于將所述閃爍屏輸出的可見光成像在所述光電轉換器件上；該光學組件包括可調式透鏡組，所述可調式透鏡組將所述閃爍屏輸出的可見光對焦至所述光電轉換器件的成像面，且該可調式透鏡組與所述光電轉換器件的相對距離能在一定范圍內調節；

所述光電轉換器件用于探測所述閃爍屏的輸出光，并將其轉換為電信號。

2.如權利要求1所述針對X射線閃爍屏的性能測試裝置，其特征在于，所述可調式透鏡組由單一或若干透鏡，以及位移機構組成，其中：

所述位移機構用于固定透鏡并在一定范圍內調節透鏡與所述光電轉換器件的相對距離。

3.如權利要求1所述針對X射線閃爍屏的性能測試裝置，其特征在于，所述限束器進一步包括限束板和支架，其中：

所述限束板內部開孔且孔徑可調整，用于約束所述X射線源發出的X射線的輻射區域；

所述支架用于固定所述限束板且位置可調整，用于將X射線的輻射區域限制在所述閃爍屏上。

4.如權利要求1所述針對X射線閃爍屏的性能測試裝置，其特征在于，所述光學組件進一步包括反射鏡，所述反射鏡固定在所述閃爍屏和所述可調式透鏡組之間，用于反射所述閃爍屏的輸出光以改變光路使得所述光電轉換器件處于X射線輻射范圍之外。

5.如權利要求1所述針對X射線閃爍屏的性能測試裝置，其特征在于，

所述閃爍屏、光學組件和光電轉換器件固定在同一盒體中，用于屏蔽所述閃爍屏以外的光源干擾；

且所述閃爍屏、光學組件和光電轉換器件處于同軸狀態，所述光學組件和閃爍屏進行位置調節時的移動方向為該同軸系統的軸向方向。

6.如權利要求1所述針對X射線閃爍屏的性能測試裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

數據采集單元，用于控制所述光電轉換器件的采集參數，并采集和存儲所述光電轉換器件所生成的圖像；

數據分析單元，用于存儲所述可調式透鏡組和所述光電轉換器件的標定參數，所述標定參數包括所述可調式透鏡組和光電轉換器件的調制傳遞函數、空間響應和強度響應，并進一步結合系統設置的標定參數進行校正計算，得出所述閃爍屏的調制傳遞函數、發光不均勻性和發光強度參數。