[發明專利]一種信息處理的方法、電子設備及觸控輸入裝置有效
| 申請號: | 201210441286.8 | 申請日: | 2012-11-07 |
| 公開(公告)號: | CN103809882B | 公開(公告)日: | 2017-05-24 |
| 發明(設計)人: | 陽光;李琦 | 申請(專利權)人: | 聯想(北京)有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/0488 | 分類號: | G06F3/0488;G06F3/0354 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 100085 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 信息處理 方法 電子設備 輸入 裝置 | ||
1.一種信息處理的方法,所述方法應用在一包括觸控屏的電子設備中,所述電子設備能夠接收一觸控輸入裝置的觸控操作,其特征在于,所述方法包括:
檢測所述觸控屏是否接收到由所述觸控輸入裝置輸入的第一觸控操作;
在檢測到所述第一觸控操作時,確定所述第一觸控操作的第一參數信息,其中,所述第一參數信息具體為:用于表征所述觸控輸入裝置與第一平面之間的夾角大小的參數信息;
基于參數信息與控制指令之間的對應關系,從至少兩個控制指令中選擇出與所述第一參數信息所對應的第一控制指令。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述觸控輸入裝置包括N個縱向電極,其中,N為大于等于1的整數,當所述觸控輸入裝置與所述觸控屏垂直時,所述N個縱向電極的每一個縱向電極與所述觸控屏垂直。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,所述確定所述第一觸控操作的第一參數信息,具體包括:
在檢測到所述第一觸控操作之后,確定所述N個縱向電極中的每個縱向電極的第一信號強度,以獲得N個第一信號強度;
基于所述N個第一信號強度確定所述第一參數信息。
4.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述觸控輸入裝置包括M個橫向電極,其中,M為大于等于1的整數,當所述觸控輸入裝置與所述觸控屏垂直時,所述N個橫向電極的每一個橫向電極與所述觸控屏平行。
5.如權利要求4所述的方法,其特征在于,所述確定所述第一觸控操作的第一參數信息,具體包括:
在檢測到所述第一觸控操作之后,確定所述M個橫向電極中的每個橫向電極的第二信號強度,以獲得M個第二信號強度;
基于所述M個第二信號強度確定所述第一參數信息。
6.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一參數信息,具體為:
所述觸控輸入裝置與所述觸控屏之間的角度信息;和/或
所述觸控輸入裝置與所述觸控屏之間的接觸面積信息。
7.如權利要求1-6任一權項所述的方法,其特征在于,當所述第一觸控操作具體為:用于在所述觸控屏表面繪制第一圖形的操作時,所述第一控制指令具體為:用于將所述第一圖形的筆劃寬度設置為第一寬度的控制指令。
8.一種信息處理的方法,所述方法應用在一觸控輸入裝置中,通過所述觸控輸入裝置能夠對包括一觸控屏的電子設備進行觸控操作,其特征在于,所述方法包括:
檢測是否存在對所述觸控屏的第一觸控操作;
在檢測到所述第一觸控操作時,確定所述第一觸控操作的第一參數信息,其中,所述第一參數信息具體為:用于表征所述觸控輸入裝置與第一平面之間的夾角大小的參數信息;
將所述第一參數信息發送至所述電子設備,以使所述電子設備基于參數信息與控制指令之間的對應關系,從至少兩個控制指令中選擇出與所述第一參數信息所對應的第一控制指令。
9.如權利要求8所述的方法,其特征在于,所述觸控輸入裝置包括N個縱向電極,其中,N為大于等于1的整數,當所述觸控輸入裝置與所述觸控屏垂直時,所述N個縱向電極的每一個縱向電極與所述觸控屏垂直。
10.如權利要求9所述的方法,其特征在于,所述確定所述第一觸控操作的第一參數信息,具體包括:
在檢測到所述第一觸控操作之后,確定所述N個縱向電極中的每個縱向電極的第一信號強度,以確定出N個第一信號強度;
基于所述N個第一信號強度確定所述第一參數信息。
11.如權利要求8所述的方法,其特征在于,所述觸控輸入裝置包括M個橫向電極,其中,M為大于等于1的整數,當所述觸控輸入裝置與所述觸控屏垂直時,所述N個橫向電極的每一個橫向電極與所述觸控屏平行。
12.如權利要求11所述的方法,其特征在于,所述確定所述第一觸控操作的第一參數信息,具體包括:
在檢測到所述第一觸控操作之后,確定所述M個橫向電極中的每個橫向電極的第二信號強度,以確定出M個第二信號強度;
基于所述M個第二信號強度確定所述第一參數信息。
13.如權利要求8所述的方法,其特征在于,所述第一參數信息,具體為:
所述觸控輸入裝置與所述觸控屏之間的角度信息;和/或
所述觸控輸入裝置與所述觸控屏之間的接觸面積信息。
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