[發明專利]一種低功耗程控放大電路無效
| 申請號: | 201210436922.8 | 申請日: | 2012-11-06 |
| 公開(公告)號: | CN102931928A | 公開(公告)日: | 2013-02-13 |
| 發明(設計)人: | 楊向萍 | 申請(專利權)人: | 昆山北極光電子科技有限公司 |
| 主分類號: | H03F3/04 | 分類號: | H03F3/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215301 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 功耗 程控 放大 電路 | ||
技術領域
本發明屬于機械設備狀態檢測領域,尤其涉及一種機械狀態檢測信號處理的低功耗程控放大電路。
背景技術
旋轉機械在線檢測設備的后端數據處理電路通常采用高精度A/D和高速單片機,以保證儀表的精度和速度要求。對于前端電路,由于傳感器輸出信號的幅度和驅動能力均比較微弱,必須加接高精度的測量放大器才能滿足后端電路的要求,但是,由于普通的高精度的測量放大器功耗較大,直接導致儀表的整體功耗偏大。而儀表攜帶較大功率的電源,重量、體積較大,線路復雜,降低了儀表一體化、小型化和智能化的可能性。
發明內容
本發明的目的在于提供一種低功耗程控放大電路。
實現上述目的的技術方案是:一種低功耗程控放大電路,包括運算放大器U1、電阻R1、R2組成的放大電路,P溝道MOS管Q1、MCU、電阻R3,電源VCC組成的程控電路,其中:
所述運算放大器U1正向輸入端與輸入信號Vin串聯,反相輸入端與地線參考電平之間串聯所述電阻R1,與所述運算放大器U1輸出OUT1之間串聯所述電阻R2,所述運算放大器U1輸出OUT1與所述MCU的A/D引腳相連;
所述P溝道MOS管Q1源極與所述電源VCC串聯,所述P溝道MOS管Q1漏極與所述運算放大器U1電源引腳串聯,所述P溝道MOS管Q1柵極與所述MCU的I/O引腳之間串聯所述電阻R3。
上述的一種低功耗程控放大電路,其中,所述的P溝道MOS管Q1漏極與源極之間允許通過的電流大于所述運算放大器U1的工作電流。
上述的一種低功耗程控放大電路,其中,所述的P溝道MOS管Q1柵極與源極之間允許承受的電壓大于所述MCU的I/O引腳的輸出電壓。
上述的一種低功耗程控放大電路,其中,所述電源VCC與所述MCU的I/O引腳的輸出電壓之間的差值大于等于所述的P溝道MOS管Q1柵極的開啟電壓,所述的P溝道MOS管Q1漏極與源極開啟,允許通過用于提供所述運算放大器U1的工作電流。
上述的一種低功耗程控放大電路,其中,所述電源VCC與所述MCU的I/O引腳的輸出電壓之間的差值小于所述的P溝道MOS管Q1柵極的開啟電壓,所述的P溝道MOS管Q1漏極與源極關閉,不允許通過用于提供所述運算放大器U1的工作電流。
本發明的有益效果是:本發明用于一種低功耗程控放大電路,可以在保證放大電路增益的情況下降低在線檢測設備功耗。
附圖說明
圖1是本發明的結構示意圖。
具體實施方式
下面將結合附圖對本發明作進一步說明。
請參閱圖1,圖中給出了一種低功耗程控放大電路實施方案。
在本實施例中,運算放大器U1采用TLV2464,電阻R1=10k,電阻R2=100k,P溝道MOS管Q1采用2SJ624,MCU采用MSP430,電源VCC=5V;
2SJ624柵極與源極之間允許承受的電壓為100V,大于MSP430的I/O引腳的輸出電壓5V。
2SJ624漏極與源極之間允許通過的電流為2A,大于TLV2464的工作電流100mA。
輸入信號Vin與TLV2464正向輸入端串聯,TLV2464反相輸入端與地線參考電平之間串聯電阻R1,與TLV2464輸出OUT1之間串聯電阻R2,2SJ624源極與電源VCC串聯,2SJ624漏極與TLV2464電源引腳串聯,2SJ624柵極與MSP430的I/O引腳之間串聯電阻R3。MSP430帶有A/D轉換引腳。所述TLV2464的輸出端OUT連接到所述MSP430的A/D轉換引腳。
本發明的工作原理:當MSP430的I/O引腳為高電平5V時,電源VCC與MSP430的I/O引腳輸出電壓之間的差值為0V,小于2SJ624柵極的開啟電壓2.8V,2SJ624漏極與源極關閉,不提供TLV2464的工作電流,TLV2464不工作。
當MSP430的I/O引腳為低電平0V時,電源VCC與MSP430的I/O引腳輸出電壓之間的差值為5V,大于2SJ624柵極的開啟電壓2.8V,2SJ624漏極與源極開啟,提供TLV2464的工作電流,TLV2464工作。
以上結合附圖實施例對本發明進行了詳細說明,本領域中普通技術人員可根據上述說明對本發明做出種種變化例。因而,實施例中的某些細節不應構成對本發明的限定,本發明將以所附權利要求書界定的范圍作為本發明的保護范圍。
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