[發明專利]一種OTDR測試曲線降噪的方法和裝置

無效

• 申請號: 201210434755.3
• 申請日: 2012-11-05
• 公開（公告）號: CN102946271A
• 公開（公告）日: 2013-02-27
• 發明（設計）人: 季瑩;徐堯;陳彥民
• 申請（專利權）人: 蘇州銘達信遠通信科技有限公司
• 主分類號: H04B10/071
• 分類號: H04B10/071;H04B10/25
• 代理公司: 蘇州慧通知識產權代理事務所(普通合伙) 32239
• 代理人: 安紀平

技術領域

本發明涉及OTDR(Optical?Time?Domain?Reflectometer，光時域反射儀)技術領域，尤其涉及對OTDR輸出的OTDR測試曲線進行降噪的方法和裝置。

背景技術

OTDR是利用光線在光纖中傳輸時的瑞利散射和菲涅爾反射所產生的背向散射而制成的精密的光電一體化儀表，OTDR測試是通過發射光脈沖到光纖內，然后在OTDR端口接收返回的信息來進行。當光脈沖在光纖內傳輸時，會由于光纖本身的性質，在前端連接器，接合點，彎曲或其它類似的事件而產生散射，反射，其中一部分的散射和反射就會返回到OTDR中。返回的有用信息由OTDR的探測器來測量，它們就作為光纖內不同位置上的時間或曲線片斷。從發射信號到返回信號所用的時間，再確定光在玻璃物質中的速度，就可以計算出距離。目前，OTDR已被廣泛應用于光纜線路的維護、施工之中，可進行光纖長度、光纖的傳輸衰減、接頭衰減和故障定位等的測量。

OTDR輸出的OTDR的測試曲線通常被用來判斷一條光纜的使用狀況，如圖1所示，從曲線中的事件點信息，可以判斷出光纜中的跳接點或者結尾點的具體位置。

然而，由OTDR測出的原始曲線噪聲較大，尤其是FTTx(Fiber-to-the-x，光纖接入)線路中使用的光分路器，產生了巨大的插損，從而使OTDR的信噪比SNR大大降低，對OTDR曲線事件點的尋找算法的準確率有著較大的影響。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的缺陷，提供一種對OTDR測試曲線降噪的方法和裝置，以降低OTDR曲線中噪聲，提高OTDR曲線的信噪比SNR以及尋找曲線中的事件點的效率和準確性。

為實現上述目的，本發明提出如下技術方案：一種OTDR測試曲線降噪的方法，其包括如下步驟：

S1，將OTDR測試曲線點序列進行時域變換頻域的離散傅里葉變換；

S2，將OTDR曲線進行低通濾波處理，將曲線中的高頻部分過濾，得到低頻部分的曲線；

S3，將濾波后的曲線進行離散傅里葉逆變換，將曲線還原至時域下的OTDR曲線。

更進一步地，所述Sl中將OTDR曲線進行離散傅里葉變換的方式為：

x^[k]=Σn=0N-1e-t2πNnkx[n]]]>k＝0，1，...，N-1.

其中是曲線點序列，N為曲線的點數，e是自然對數的底數，i是虛數單位。

所述S2中過濾OTDR曲線中高頻部分后得到低頻部分的曲線的頻率特征為：

所述S3中經頻域中處理后還原至時域下的OTDR曲線為：

x[k]=Σn=0N-1ei2πNnkx^[n]]]>n＝0，1，...，N-1.