[發明專利]面板暗點檢測電路有效
| 申請號: | 201210434566.6 | 申請日: | 2012-11-02 |
| 公開(公告)號: | CN102968942A | 公開(公告)日: | 2013-03-13 |
| 發明(設計)人: | 楚正勇;樸世赫;陳傳雄 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人: | 王瑩 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 面板 檢測 電路 | ||
技術領域
本發明涉及顯示技術領域,特別涉及一種面板暗點檢測電路。
背景技術
目前,平面電場寬視角核心技術-高級超維場轉換技術(ADvancedSuper?Dimension?Switch,ADS)可以提高TFT-LCD產品的畫面品質,具有高分辨率、高透過率、低功耗、寬視角、高開口率、低色差、無擠壓水波紋(Push?Mura)等優點。但在陣列基板生產工藝中會產生有源層殘留(Active&N+Remain),到液晶成盒后會造成點狀不良較多,此種殘留微觀顯微鏡下輕微,但是Remain造成的暗點不良相比TN(Twisted?Nematic)型會更加直觀的凸顯出來,但是在面板切割形成面板狀態時,暗點現象非常微弱,Module狀態比較明顯。因此在這種暗點在面板狀態時不容易被檢測出來,若這種暗點不良的面板流入Module則會產生較多不合格的產品,從而增加不必要的成本。
發明內容
(一)要解決的技術問題
本發明要解決的技術問題是:如何在面板狀態下有效地檢測出Remain造成的暗點不良。
(二)技術方案
為解決上述技術問題,本發明提供了一種面板暗點檢測電路,包括:預設電壓產生模塊和選擇電路模塊,所述預設電壓產生模塊連接所述選擇電路模塊,用于將產生的N個預輸入面板的預設電壓傳輸至所述選擇電路模塊,所述選擇電路模塊包括N個用于分別接收所述N個預設電壓的輸入端口、一個輸出端口及用于選通所述輸出端口與其中一個輸入端口的選通開關,N≥2。
其中,所述預設電壓產生模塊包括:單片機、D/A轉換器和N個運算放大器,所述單片機連接所述D/A轉換器,用于將設置的N個數字電壓信號發送到所述D/A轉換器,所述D/A轉換器將N個數字電壓信號轉換成N個模擬信號,并將N個模擬信號分別發送至N個運算放大器,所述N個運算放大器連分別接所述選擇電路模塊的N個輸入端口,用于將放大后的N個模擬信號發送至所述選擇電路模塊。
其中,所述預設電壓產生模塊用于將產生的兩個預輸入面板的預設電壓傳輸至所述選擇電路模塊,所述選擇電路模塊包括兩個用于分別接收所述兩個預設電壓的輸入端口、一個輸出端口及用于選通所述輸出端口與其中一個輸入端口的選通開關。
其中,所述預設電壓產生模塊產生的預設電壓為:柵極高電平電壓,原L63的柵極為高電平電壓時選擇的預設電壓為所述柵極高電平電壓,所述柵極高電平電壓低于原L63的柵極高電平電壓。
其中,所述預設電壓產生模塊產生的柵極高電平電壓為0~5V。
其中,所述預設電壓產生模塊產生的預設電壓為:柵極低電平電壓,原L63的柵極為低電平電壓時選擇的預設電壓為所述柵極低電平電壓,所述柵極低電平電壓低于或等于原L63的柵極低電平電壓。
其中,所述預設電壓產生模塊產生的柵極低電平電壓為-10V~﹣13V。
其中,所述預設電壓產生模塊包括:單片機、D/A轉換器和兩個運算放大器,所述單片機連接所述D/A轉換器,用于將設置的兩個數字電壓信號發送到所述D/A轉換器,所述D/A轉換器將兩個數字電壓信號轉換成兩個模擬信號,并將兩個模擬信號分別發送至兩個運算放大器,所述兩個運算放大器連分別接所述選擇電路模塊的兩個輸入端口,用于將放大后的兩個模擬信號發送至所述選擇電路模塊。
其中,所述選擇電路模塊為模擬開關。
其中,所述選擇電路模塊包括一個N型MOS管和一個P型MOS管,所述N型MOS管非柵極的一端連通第一運算放大器,所述P型MOS管非柵極的一端連通第二運算放大器,所述N型MOS管非柵極的另一端和所述P型MOS管非柵極的另一端連接形成輸出端口,所述N型MOS管的柵極和所述P型MOS管的柵極連接形成選通開關。
(三)有益效果
本發明的面板暗點檢測電路通過根據輸入電壓信號選擇一個合適的預設電壓加載至面板的柵線,使得面板中特殊微弱的暗點不良衍變成明顯的亮點不良,以更明顯的凸顯出來,這樣,在面板狀態下能夠有效地檢測出Remain造成的暗點不良,避免了這種暗點不良的面板流入Module,從而降低了成本,提高了產品合格率。
附圖說明
圖1是本發明實施例的一種提供兩路預設電壓的面板暗點檢測電路結構示意圖;
圖2是本發明實施例的另一種提供兩路預設電壓的面板暗點檢測電路結構示意圖;
圖3是本發明實施例的一種面板暗點檢測電路結構示意圖。
具體實施方式
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