[發明專利]一種光信噪比檢測的方法、系統和設備

有效

• 申請號: 201210413103.1
• 申請日: 2012-10-25
• 公開（公告）號: CN102904635A
• 公開（公告）日: 2013-01-30
• 發明（設計）人: 尚迎春;沈百林;陳勛
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理事務所(普通合伙) 11270
• 代理人: 張穎玲;程立民

1.一種光信噪比檢測的系統，其特征在于，該系統包括：波長標簽加載端和光信噪比OSNR檢測端；其中，

波長標簽加載端，用于在光信號中加載波長標簽信號，并將波長標簽信號的加載調制深度發送到OSNR檢測端；

OSNR檢測端，用于獲得各波長光信號中加載的波長標簽信號的加載調制深度；并解析所述波長標簽信號，獲得所述波長標簽信號的當前調制深度；根據波長標簽信號的加載調制深度和當前調制深度獲得各波長光信號的OSNR值。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述波長標簽加載端，具體用于在光信號中加載波長標簽信號，并將所述波長標簽信號的加載調制深度作為隨路信息在波長標簽信道發送或作為OSC信道的內容傳遞。

3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述波長標簽加載端包括：波長標簽加載單元、第一分光器、第一波長標簽信號調制深度檢測單元；其中，

波長標簽加載單元，用于在高速光信號上加載波長標簽信號；

第一分光器，用于分發加載有波長標簽信號的光信號；

第一波長標簽信號調制深度檢測單元，用于解析單波長光信號中加載的波長標簽信號，獲得波長標簽信號的加載調制深度，將波長標簽信號的加載調制深度通過波長標簽信道或OSC信道發送到OSNR檢測端。

4.根據權利要求3所述的系統，其特征在于，所述波長標簽加載端還包括：第一光可調濾波器，用于在波長標簽信號加載在復用段的多波上時，對第一分光器分發的光信號進行分波。

5.根據權利要求3或4所述的系統，其特征在于，所述第一波長標簽信號調制深度檢測單元，具體用于根據各單波長加載波長標簽信號時的光功率的直流幅度值、加載波長標簽信號時的波長標簽頻率對應的幅度值，得到波長標簽信號的加載調制深度；并將所述加載調制深度通過波長標簽信道在光信號中進行傳遞，或通過OSC信道進行傳遞。

6.根據權利要求5所述的系統，其特征在于，所述第一波長標簽信號調制深度檢測單元，還用于將波長標簽信號的加載調制深度反饋給波長標簽加載單元，所述波長標簽加載單元調整波長標簽信號的加載調制深度。

7.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述OSNR檢測端，具體用于在加載有波長標簽信號的各波長光信號中，通過波長標簽信道獲得所述加載調制深度，或通過OSC信道獲得所述加載調制深度。

8.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述OSNR檢測端設置在波長標簽加載后的各波長光信號傳輸路徑上的任意位置。

9.根據權利要求7所述的系統，其特征在于，所述OSNR檢測端包括：第二分光器、波長標簽信息檢測單元、第二波長標簽信號調制深度檢測單元、OSNR值獲得單元；其中，

第二分光器，用于分發加載有波長標簽信號的光信號；

波長標簽信息檢測單元，用于通過波長標簽信道獲得各波長光信號中加載的波長標簽信號的加載調制深度，或通過OSC信道獲得所述加載調制深度，并將所述加載調制深度發送到OSNR值獲得單元；

第二波長標簽信號調制深度檢測單元，用于解析各波長光信號中加載的波長標簽信號，獲得波長標簽信號的當前調制深度，并將所述當前調制深度發送到OSNR值獲得單元；

OSNR值獲得單元，用于根據各波長光信號中波長標簽信號的加載調制深度和當前調制深度獲得各波長光信號的OSNR值。

10.根據權利要求9所述的系統，其特征在于，所述OSNR檢測端還包括：第二光可調濾波器，用于在加載有波長標簽信號的復用段上，對第二分光器分發的光信號進行分波。

11.根據權利要求9或10所述的系統，其特征在于，所述第二波長標簽信號調制深度檢測單元，具體用于解析各波長光信號中加載的波長標簽信號，根據解析出的單波長上的噪聲功率與當前帶有波長標簽信號的單波長的光功率之和的直流幅度值、當前波長標簽信號的波長標簽頻率對應的幅度值，得到波長標簽信號的當前調制深度。

12.根據權利要求9或10所述的系統，其特征在于，所述OSNR值獲得單元，還用于根據ASE噪聲的帶寬范圍調整所述OSNR值。

13.根據權利要求9或10所述的系統，其特征在于，所述波長標簽信息檢測單元集成在第二波長標簽信號調制深度檢測單元中。