[發明專利]用于確定并校正顯微鏡成像光路中球差的裝置和方法有效
| 申請號: | 201210390508.8 | 申請日: | 2012-10-15 |
| 公開(公告)號: | CN103048779A | 公開(公告)日: | 2013-04-17 |
| 發明(設計)人: | W·奈彼爾;T·鮑爾;P·尤特諾伊爾 | 申請(專利權)人: | 徠卡顯微系統復合顯微鏡有限公司 |
| 主分類號: | G02B21/24 | 分類號: | G02B21/24;G02B27/00 |
| 代理公司: | 北京泛華偉業知識產權代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇;王博 |
| 地址: | 德國韋*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 確定 校正 顯微鏡 成像 光路中球差 裝置 方法 | ||
1.一種用于確定顯微鏡成像光路(7)的球差的方法,其中采用包含物鏡(10)的顯微鏡(1)對樣本(9)進行顯微成像,承載或覆蓋樣本(9)的蓋玻片(2)被布置成像光路中,
其中,測量光束(130)在物鏡(10)的光軸(8)之外以偏心的方式被引導穿過物鏡(10)到達樣本(9)上,在蓋玻片和樣本(9)的界面(116)處反射的測量光束(132)被引導穿過物鏡(10)到達探測器(128)上,該探測器(128)獲取反射的測量光束(132)的光強分布,以及
根據所述光強分布,定性和/或定量地確定球差的存在。
2.根據權利要求1的方法,其中根據信號的形狀來評價該光強分布。
3.根據權利要求1或2的方法,其中對光強分布的評價包含確定光強分布的半峰全寬和/或光強分布的邊緣斜率和/或光強分布的最大值。
4.根據權利要求1至3中之一的方法,其中確定由蓋玻片(2)的光學特性的改變,特別是蓋玻片厚度的改變和/或蓋玻片結構或材料的改變所造成的球差,和/或由浸沒介質的光學特性的改變,例如浸沒介質的溫度的改變所造成的球差。
5.根據前述任一權利要求的方法,其中測量光束(130)還作為與顯微鏡(1)相關的三角化自聚焦單元的自聚焦測量光束(30)。
6.根據權利要求1至4中之一的方法,其中使用三角化自聚焦單元以設置和/或保持物鏡(10)的焦距,其中三角化自聚焦單元的自聚焦測量光束(30)還作為用于確定球差的測量光束(130)。
7.根據前述任一權利要求的方法,其中確定球差后,沿光軸移動物鏡(10)中的校正透鏡元件(3),從而補償球差。
8.根據前述任一權利要求的方法,其中確定球差后,控制布置在與物鏡光瞳共軛的平面中的自適應鏡片(52),從而補償球差。
9.一種用于確定顯微鏡成像光路(7)的球差的裝置,其中采用包含物鏡(10)的顯微鏡(1)對樣本(9)進行顯微成像,承載或覆蓋樣本(9)的蓋玻片(2)被布置成像光路中,
其特征在于
入耦合裝置(13,120),用于將測量光束(130)耦合入顯微鏡(1)的顯微鏡成像光路(7),其使得測量光束(130)在物鏡(10)的光軸之外以偏心的方式入射并穿過物鏡(10)到達樣本(9)上;
出耦合裝置(120,15),用于將在蓋玻片(2)和樣本(9)的界面(116)處反射的測量光束(132)在穿過物鏡(10)后耦合出顯微鏡(1)的顯微成像光路;
探測器(128),出耦合的測量光束(132)在其上成像,該探測器(128)獲取所述測量光束(132)的光強分布;
評價單元(6),根據該光強分布定性和/或定量地確定球差。
10.根據權利要求9的裝置,其中該入耦合裝置和該出耦合裝置包括分束器(120)。
11.根據權利要求9或10的裝置,其中該評價單元(6)能夠確定光強分布的參數,特別是光強分布的半峰全寬和/或光強分布的邊緣斜率和/或信號電平。
12.根據權利要求9至11中之一的裝置,其中物鏡(10)中設置有校正透鏡元件(3),以補償球差,設置控制單元(4)以調節該校正透鏡元件(3)。
13.根據權利要求11和12的裝置,其特征在于用于接收評價單元(6)的輸出信號的調節裝置(5),該信號表示光強分布的參數,調節裝置的輸出信號作為調節信號施加至物鏡(10)的校正透鏡元件(3)的控制單元(4),從而調節該校正透鏡元件(3)直至確定的球差得以補償。
14.根據權利要求9至11中之一的裝置,其中在與物鏡光瞳共軛的平面內布置自適應鏡片以補償球差,設置控制單元以對該自適應鏡片(52)進行控制。
15.根據權利要求14在其引用權利要求11時的裝置,其特征在于接收評價單元(26)的輸出信號的調節裝置(50),該信號表示光強分布的參數,該調節裝置(50)的輸出信號作為調節信號施加至自適應鏡片(52)的控制單元(51),從而對該自適應鏡片(52)進行控制,直至確定的球差得以補償。
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