[發(fā)明專利]插座及電子元件測試裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210374423.0
• 申請日: 2012-09-27
• 公開（公告）號: CN103036125A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 中村陽登;藤崎貴志
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社愛德萬測試
• 主分類號: H01R33/74
• 分類號: H01R33/74;H01R13/193;G01R31/28
• 代理公司: 深圳市順天達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 44217
• 代理人: 高占元

1.一種插座，電連接于具有形成與電子元件的電極接觸的內(nèi)部端子的膜狀第1部件和與所述內(nèi)部端子電連接的外部端子的測試用載體，其特征在于，

所述插座包括與所述外部端子接觸的接觸子和第1推壓構(gòu)件，所述第1推壓構(gòu)件推壓所述第1部件上的形成所述內(nèi)部端子的部分和所述第1部件上的所述內(nèi)部端子的周圍部分；??

所述第1推壓構(gòu)件，具有第1彈性部件和比所述第1彈性部件柔軟的層壓于所述第1彈性部件的與所述第1部件接觸的第2彈性部件。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的插座，其特征在于，

所述第2彈性部件的表面，具有向中央逐漸變高的凸形。

3.一種插座，電連接于具有形成與電子元件的電極接觸的內(nèi)部端子的膜狀第1部件和與所述內(nèi)部端子電連接的外部端子的測試用載體，其特征在于，

所述插座包括與所述外部端子接觸的接觸子和第1推壓構(gòu)件，所述第1推壓構(gòu)件推?所述第1部件上的形成所述內(nèi)部端子的部分和所述第1部件上的所述內(nèi)部端子的周圍的部分；

所述第1推壓構(gòu)件，具有向所述第1部件有層次的或者逐漸變?nèi)彳浀膹椥圆考?/p>

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的插座，其特征在于，

所述彈性部件的表面，具有向中央逐漸變高的凸形。

5.一種插座，電連接于具有形成與電子元件的電極接觸的內(nèi)部端子的膜狀第1部件和與所述內(nèi)部端子電連接的外部端子的測試用載體，其特征在于，

所述插座包含與所述外部端子接觸的接觸子和第1推壓構(gòu)件，所述第1推壓構(gòu)件推壓所述第1部件上的形成所述內(nèi)部端子的部分和所述第1部件上的所述內(nèi)部端子的周圍的部分；

所述第1推壓構(gòu)件，包含內(nèi)部具有密閉空間的袋體和容納于所述密閉空間的流體。

6.一種用于測試臨時(shí)封裝于所述測試用載體的電子元件的電子元件測試裝置，其特征在于，

包含如權(quán)利要求1～5中任一項(xiàng)所述的插座、使所述外部端子與所述接觸子接觸的接觸構(gòu)件和從與所述第1推壓構(gòu)件的推壓方向相反的方向推壓所述測試用載體的第2推壓構(gòu)件。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子元件測試裝置，其特征在于，

所述第2推壓構(gòu)件，用于推壓在與所述第1部件之間夾持有所述電子元件的所述測試用載體的第2部件。

8.根據(jù)權(quán)利要求中6所述的電子元件測試裝置，其特征在于，

所述電子元件，是由半導(dǎo)體晶圓切割而成的晶片。