[發明專利]一種用于具有MIPI 接口的液晶顯示屏的測試系統

有效

• 申請號: 201210361599.2
• 申請日: 2012-09-26
• 公開（公告）號: CN102929004A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發明（設計）人: 顏和平;張木平;彭夏春
• 申請（專利權）人: 深圳市立德通訊器材有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/00
• 代理公司: 深圳市康弘知識產權代理有限公司 44247
• 代理人: 胡朝陽;孫潔敏

1.一種用于MIPI接口的液晶顯示屏的測試系統，其特征在于包括DC-DC電源模塊、程序下載模塊、數據存儲模塊、顯示屏模塊、控制按鍵模塊、雙向數據緩沖模塊、ARM9核心電路模塊、MIPI橋接轉換模塊和測試主機輸出接口，其中，DC-DC電源模塊分別連接至控制按鍵模塊和測試主機輸出接口，ARM9核心電路模塊分別與程序下載模塊、控制按鍵模塊和雙向數據緩沖模塊相連接，數據存儲模塊分別與程序下載模塊和顯示屏模塊相連接，顯示屏模塊進一步和控制按鍵模塊相連接，MIPI橋接轉換模塊分別與雙向數據緩沖模塊和測試主機輸出接口相連接。

2.根據權利要求1所述的測試系統，其特征在于，測試主機輸出接口進一步連接至待測的具有MIPI接口的液晶顯示模塊。

3.根據權利要求1所述的測試系統，其特征在于，數據存儲模塊采用三星的NAND?FLASH芯片K9F1208U0C。

4.根據權利要求1所述的測試系統，其特征在于，控制按鍵模塊包換復位按鍵和多個程序選擇按鍵。

5.根據權利要求1所述的測試系統，其特征在于，雙向數據緩沖模塊采用芯片74ALVC164245。

6.根據權利要求1所述的測試系統，其特征在于，ARM9核心電路模塊采用三星的S3C2410?作為主控芯片。

7.根據權利要求1所述的測試系統，其特征在于，ARM9核心電路模塊采用12MHZ無源晶振。

8.根據權利要求1所述的測試系統，其特征在于，MIPI橋接轉換模塊采用臺灣廠商SOLOMON的芯片SSD2825。

9.根據權利要求1所述的測試系統，其特征在于，測試主機輸出接口采用40PIN接口定義。