[發明專利]測量低溫光纖受激布里淵散射增益譜的裝置

有效

• 申請號: 201210359091.9
• 申請日: 2012-09-25
• 公開（公告）號: CN102879093A
• 公開（公告）日: 2013-01-16
• 發明（設計）人: 黃文發;李學春;汪小超;王江峰;彭宇杰;張若凡;范興諾
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海光學精密機械研究所
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 張澤純

1.一種測量低溫光纖受激布里淵散射增益譜的裝置，特征在于：該裝置包括連續光纖激光器（1）、光纖隔離器（2）、1×2光纖分束器（3）、雙包層光纖放大器（4）、光纖環行器（5）、溫度控制系統（6）、單模光纖（7）、2×2端口3dB分束器（8）、帶通濾波器（9）、光電探測器（10）、電譜分析儀（11），上述元部件的連接關系如下：

所述的連續光纖激光器（1）的輸出端經光纖隔離器（2）與所述1×2光纖分束（3）輸入端相連，該1×2光纖分束器（3）將注入的連續光分為兩個光束分別經第一輸出端和第二輸出端輸出：第一輸出端依次經所述的雙包層光纖放大器（4）、光纖環行器（5）與所述的單模光纖（7）的一端相連，該單模光纖（7）置于所述的溫度控制系統（6）的真空盒體(61)內，單模光纖（7）的另一端經所述的光纖輸出端口(68)再與所述的光纖環行器（5）的另一端口相連；

所述的1×2光纖分束器（3）第二輸出端接所述的2×2端口3dB分束器（8）的第二輸入端，所述的2×2端口3dB分束器（8）的第一輸入端與所述的光纖環行器（5）的反向輸出端相連，所述的2×2端口3dB分束器（8）的第二輸出端接所述的帶通濾波器（9）的輸入端，所述的帶通濾波器（9）的輸出端經所述的光電探測器（10）接所述的電譜分析儀（11）；

所述的溫度控制系統（6）包括真空盒體(61)、熱沉銅塊(62)、溫度控制器、光纖輸入端口(67)、光纖輸出端口(68)、液氮杜瓦瓶以及液氮傳輸管道，所述的熱沉銅塊(62)通過多個螺旋支桿(63)懸掛在所述的真空盒體(61)內，所述的單模光纖(7)通過所述的光纖輸入端口(67)進入真空盒體(61)內并盤繞在所述的熱沉銅塊(62)上，經所述的光纖輸出端口(68)再與所述的光纖環行器（5）的一端相連，所述的液氮杜瓦瓶通過液氮傳輸管道與所述的真空盒體(61)相通。

2.根據權利要求1所述的測量低溫光纖受激布里淵散射增益譜的裝置，其特征在于所述的螺旋支桿（63）的材質是聚四氟乙烯，用于支撐所述熱沉銅塊（62），隔絕所述熱沉銅塊（62）與所述的真空盒體(61)的熱接觸。

3.根據權利要求1所述的測量低溫光纖受激布里淵散射增益譜的裝置，其特征在于所述的1×2光纖分束器（3）的分束比是95:5。