[發(fā)明專利]一種衛(wèi)星移動(dòng)終端機(jī)中CPLD的測(cè)試方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210353828.6 | 申請(qǐng)日: | 2012-09-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103675653A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳偉林;李承鏞;黃耀;肖躍先;李凱;何戎遼 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 成都林海電子有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/3177 | 分類號(hào): | G01R31/3177;G01R31/02 |
| 代理公司: | 四川力久律師事務(wù)所 51221 | 代理人: | 林輝輪;王蕓 |
| 地址: | 611731 四川*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 衛(wèi)星 移動(dòng) 終端機(jī) cpld 測(cè)試 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及衛(wèi)星移動(dòng)通信技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種衛(wèi)星移動(dòng)終端機(jī)中CPLD性能測(cè)試方法。
背景技術(shù)
CPLD(Complex?Programmable?Logic?Device)復(fù)雜可編程邏輯器件,是一種用戶根據(jù)需要而自行構(gòu)造邏輯功能的數(shù)字集成電路。在衛(wèi)星通信領(lǐng)域中,CPLD通常應(yīng)用于衛(wèi)星移動(dòng)通信終端機(jī)中,實(shí)現(xiàn)FPGA對(duì)語(yǔ)音編解碼器的配置。如圖1所示的一種基于“北斗”的衛(wèi)星移動(dòng)通信終端機(jī),包括?FPGA?芯片XC5VLX50T和語(yǔ)音處理芯片AMBE2000,其中,XC5VLX50T和AMBE2000之間通過XC95272XL連接,?XC5VLX50T可通過XC95272XL對(duì)AMBE2000進(jìn)行配置,用戶也可以通過XC95272XL對(duì)AMBE2000進(jìn)行實(shí)時(shí)配置和檢測(cè),保證系統(tǒng)的靈活性。
在衛(wèi)星移動(dòng)終端機(jī)終端板的生產(chǎn)和調(diào)試過程中,為了保證系統(tǒng)功能的正確性,需要對(duì)語(yǔ)音處理器的功能進(jìn)行及時(shí)的在線檢測(cè),通常是FPGA通過CPLD對(duì)語(yǔ)音處理器的性能進(jìn)行測(cè)試。研究人員發(fā)現(xiàn),即使語(yǔ)音處理器性能正常,但如果CPLD?性能出錯(cuò)也會(huì)導(dǎo)致語(yǔ)音處理器不能正常工作,所以對(duì)CPLD?的性能進(jìn)行檢測(cè)是非常必要的,以便正確地區(qū)分不能正常工作的器件是CPLD?或語(yǔ)音處理器。檢測(cè)CPLD正常工作后再對(duì)語(yǔ)音處理器進(jìn)行測(cè)試。
目前對(duì)CPLD檢測(cè)的方法是,使用獨(dú)立的工具對(duì)CPLD進(jìn)行全面檢測(cè),其優(yōu)點(diǎn)是能夠保證CPLD的每一部分都正確,但其缺點(diǎn)是:1)只能將已焊接的CPLD從終端板上取下來(lái)進(jìn)行檢測(cè),這樣不能檢測(cè)CPLD的引腳連接是否正常,檢測(cè)后再將CPLD焊接到終端板也會(huì)影響焊接效果;2)對(duì)于局部損壞但仍可以使用的CPLD不能區(qū)分,造成CPLD的浪費(fèi);3)測(cè)試費(fèi)用高、時(shí)間長(zhǎng)、效率低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中所存在的上述不足,提供一種衛(wèi)星移動(dòng)終端機(jī)中CPLD性能測(cè)試方法。
為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的,本發(fā)明提供了以下技術(shù)方案:
一種衛(wèi)星移動(dòng)終端機(jī)中CPLD性能測(cè)試方法,該方法包括以下步驟:
步驟1:在衛(wèi)星移動(dòng)終端機(jī)的終端板上設(shè)置引腳測(cè)試點(diǎn),引出CPLD的引腳,檢測(cè)CPLD的引腳是否連通;如果引腳連通則進(jìn)入步驟2,否則更換CPLD,重新進(jìn)行CPLD的引腳連通檢測(cè);
步驟2:通過FPGA觸發(fā)CPLD,向CPLD輸入高頻率的時(shí)鐘信號(hào),使CPLD對(duì)高頻率的時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行邏輯非運(yùn)算,再將運(yùn)算結(jié)果輸出到FPGA,檢測(cè)運(yùn)算結(jié)果是否正確,如果運(yùn)算結(jié)果正確則進(jìn)入步驟3,否則更換CPLD,返回步驟1;
步驟3:通過FPGA觸發(fā)CPLD,向CPLD輸入數(shù)字計(jì)數(shù)信號(hào),所述數(shù)字計(jì)數(shù)信號(hào)的信號(hào)值為0~0xffffffffffff,使CPLD對(duì)數(shù)字計(jì)數(shù)信號(hào)進(jìn)行邏輯移位和加法運(yùn)算,再將運(yùn)算結(jié)果輸出到FPGA,檢測(cè)運(yùn)算結(jié)果是否正確,如果運(yùn)算結(jié)果正確則CPLD性能合格,否則更換CPLD,返回步驟1。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例,所述步驟1中檢測(cè)CPLD的引腳是否連通的方法是:通過FPGA觸發(fā)CPLD,如果CPLD有響應(yīng),用3.3V測(cè)試連接線依次連接CPLD的引腳,如果FPGA依次得到3.3V的電平信號(hào),則CPLD引腳連通;如果CPLD未響應(yīng),或CPLD有響應(yīng)但FPGA得到的脈沖信號(hào)不連續(xù),則更換CPLD。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果:
1)CPLD焊接好后直接在終端板上進(jìn)行測(cè)試,可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)焊接是否正確。
2)通過本發(fā)明方法檢測(cè)合格的CPLD,即使CPLD的其他性能不合格也能應(yīng)用于衛(wèi)星移動(dòng)終端,避免CPLD浪費(fèi),最大程度減少損失。
3)只進(jìn)行了CPLD必要性能測(cè)試,提高了調(diào)試維修的勞動(dòng)生產(chǎn)率,降低了成本。
附圖說(shuō)明:
圖1為一種衛(wèi)星移動(dòng)終端的結(jié)構(gòu)框圖。
圖2為本發(fā)明測(cè)試方法流程圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合試驗(yàn)例及具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。但不應(yīng)將此理解為本發(fā)明上述主題的范圍僅限于以下的實(shí)施例,凡基于本發(fā)明內(nèi)容所實(shí)現(xiàn)的技術(shù)均屬于本發(fā)明的范圍。
圖1所示為一種衛(wèi)星移動(dòng)終端的結(jié)構(gòu)框圖,該衛(wèi)星移動(dòng)終端包括FPGA?芯片XC5VLX50T,所述XC5VLX50T通過可編程接口與CPLD芯片XC95272XL連接,XC95272XL通過控制接口與語(yǔ)音處理芯片AMBE2000連接,XC5VLX50T通過XC95272XL對(duì)AMBE2000進(jìn)行配置。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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- 衛(wèi)星接收信號(hào)調(diào)試方法、系統(tǒng)及設(shè)備
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- 衛(wèi)星捕獲方法及裝置
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