[發明專利]一種檢測和修復薄膜太陽能電池漏電缺陷的方法有效
| 申請號: | 201210352396.7 | 申請日: | 2012-09-21 |
| 公開(公告)號: | CN102832154A | 公開(公告)日: | 2012-12-19 |
| 發明(設計)人: | 馬立云;崔介東;彭壽;陳思達 | 申請(專利權)人: | 蚌埠玻璃工業設計研究院;中國建材國際工程集團有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;H01L31/18 |
| 代理公司: | 安徽省蚌埠博源專利商標事務所 34113 | 代理人: | 倪波 |
| 地址: | 233010 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢測 修復 薄膜 太陽能電池 漏電 缺陷 方法 | ||
1.一種檢測和修復薄膜太陽能電池漏電缺陷的方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)確定電池面板存在漏電缺陷的位置??在一塊待檢測的薄膜太陽能電池面板表面放置一個液晶感溫變色片,用一個直流穩壓電源在液晶感溫變色片任一邊的一個有效電池單元格的正負電極之間施加一個-2.5V~-4.5V的反向偏壓,漏電缺陷區域有漏電流產生,導致該區域發熱,根據液晶感溫變色片的顏色變化,確定電池面板的高溫發熱區域,記錄為漏電缺陷位置;對于沒有漏電缺陷的位置,液晶感溫變色片上的顏色不會發生變化,為正常區域;
(2)對漏電缺陷的修復??漏電缺陷的位置確定后,移走液晶感溫變色片,用一個直流穩壓電源在漏電缺陷位置四周0~5mm范圍內的有效電池單元格的正負電極之間施加一個-0.5V~-3.5V漸變的反向偏壓,反向偏壓的絕對值由小到大漸變,同時觀察直流穩壓電源上顯示的流經電池單元格的漏電流,當漏電流由大變小,并趨于一個特定的臨界值時,停止施加反向偏壓,此時漏電缺陷即得到了有效的修復;
(3)依次在電池面板表面所有區域重復上述步驟(1)、(2),完成對整個電池的漏電缺陷修復處理。
2.根據權利要求1所述一種檢測和修復薄膜太陽能電池漏電缺陷的方法,其特征在于,步驟(1)所述液晶感溫變色片的尺寸為15×15cm2,液晶感溫變色片與電池面板緊密接觸,保證液晶感溫變色片準確感應電池面板表面的溫度變化而改變顏色。
3.根據權利要求1所述一種檢測和修復薄膜太陽能電池漏電缺陷的方法,其特征在于,步驟(2)所述漏電缺陷修復中施加的反向偏壓為-1V~-3V漸變,步長為0.05V/5s,即反向偏壓的絕對值由小到大漸變,且每隔5秒鐘,反向偏壓的絕對值增加0.05V。
4.根據權利要求1所述一種檢測和修復薄膜太陽能電池漏電缺陷的方法,其特征在于,所述漏電流趨于特定的臨界值為0~0.03mA。
5.根據權利要求1所述一種檢測和修復薄膜太陽能電池漏電缺陷的方法,其特征在于,所述的薄膜太陽能電池包括硅基薄膜太陽能電池和銅銦鎵硒薄膜太陽能電池。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





