[發明專利]使用單個短路點群組測試被測板卡的系統及其方法有效

申請號：	201210347995.X	申請日：	2012-09-18
公開（公告）號：	CN103675575A	公開（公告）日：	2014-03-26
發明（設計）人：	姜驍	申請（專利權）人：	英業達科技有限公司;英業達股份有限公司
主分類號：	G01R31/02	分類號：	G01R31/02
代理公司：	北京市浩天知識產權代理事務所 11276	代理人：	劉云貴
地址：	201114 上海市閔***	國省代碼：	上海;31
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摘要：
搜索關鍵詞：	使用單個短路點群測試板卡系統及其方法
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【說明書】：

技術領域

本發明涉及一種板卡測試系統及其方法，尤其涉及一種使用單個短路點群組測試被測板卡的系統及其方法。

背景技術

在電路板由生產線制造出來后，為了確保電路板的品質，通常會對由生產線制造出來的電路板進行各種測試，例如，使用電路板測試儀器（In-Circuit?Tester,ICT）測試電路板。

電路板測試儀器會以兩個階段測試電路板，第一個階段是開路短路測試（open/short?test），在第一階段中，電路板測試儀器會測試電路板上的電路是否正確，而后在第二階段中，電路板測試儀器才會詳細的確認電路板上的各個元件都可以正確運作。

事實上，開路短路測試是電路板測試儀器測試電路板的重要環節，原因在于電路板測試儀器需要避免因為電路板上的異常開路及/或短路，造成在對電路板上的各個元件進行詳細測試時，誤判各個元件沒有正確運作。其中，為了加快電路板測試儀器測試電路板的速度，開路短路測試的關鍵指標是快速與準確。

目前在開路短路測試中，會把電路板上的測量點分為多個短路點群組，其中，每一個短路點群組中的任意測量點間為短路，且不同短路點群組中的測量點不可以為短路。為了要滿足不同短路點群組中的測量點不為短路的條件，開路短路測試需要對所有兩個測量點的組合進行測試，這樣，當電路板上的測量點數量非常多時，開路短路測試所進行的測試次數會非常的高，造成開路短路測試的時間的增加。

綜上所述，可知現有技術中長期以來一直存在開路短路測試中的測試次數過高的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決這一問題。

發明內容

有鑒于現有技術存在開路短路測試中的測試次數過高的問題，本發明遂揭露一種使用單個短路點群組測試被測板卡的系統及其方法，其中：

本發明所揭露的使用單個短路點群組測試被測板卡的系統，至少包含：分析模塊，用以依據標準板卡上的各實體元件預測短路點群組，短路點群組中包含多個測量位置；學習模塊，用以驗證標準板卡上，分別與測量位置對應的驗證測量點間是否短路，并依據驗證結果修改短路點群組，及用以測試標準板卡上，不與測量位置對應的驗證測量點間是否短路，并依據測試結果修改短路點群組；測試模塊，用以驗證被測板卡上，分別與修改后的短路點群組中的各測量位置對應的測試測量點間是否短路，及用以測試被測板卡上的所有測試測量點間是否短路，并在取得短路的各該測試測量點后，依據被取得的測試測量點判斷是否存在異常短路點。

本發明所揭露的使用單個短路點群組測試被測板卡的方法，其步驟至少包括：依據標準板卡上的實體元件預測短路點群組，短路點群組中包含測量位置；驗證標準板卡上，分別與測量位置對應的驗證測量點間是否短路，并依據驗證結果修改短路點群組；測試標準板卡上，不與測量位置對應的驗證測量點間是否短路，并依據測試結果修改短路點群組；驗證被測板卡上，分別與修改后的短路點群組中的測量位置對應的測試測量點間是否短路；測試被測板卡上的所有測試測量點間是否短路，并取得短路的測試測量點；依據被取得的測試測量點判斷是否存在異常短路點。

本發明所揭露的系統與方法如上，與現有技術之間的差異在于本發明通過以標準板卡的實體元件預測一個短路點群組，并在使用標準板卡驗證短路點群組后，使用短路點群組測試被測板卡，由此解決現有技術所存在的問題，并可以達成提高開路短路測試的執行速度的技術效果。

附圖說明

圖1為本發明所提出的使用單個短路點群組測試被測板卡的系統架構圖。

圖2A為本發明所提出的使用單個短路點群組測試被測板卡的方法流程圖。

圖2B為本發明所提出的減少驗證測量點的測試次數的方法流程圖。

圖2C為本發明所提出的輸出對應提示信息的附加方法流程圖。

圖2D為本發明所提出的判斷短路的測試測量點的詳細方法流程圖。

主要部件附圖標記：

110分析模塊

120學習模塊

130測試模塊

140輸出模塊