[發(fā)明專(zhuān)利]半導(dǎo)體基板以及具有其的半導(dǎo)體芯片和堆疊半導(dǎo)體封裝體無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210347717.4 | 申請(qǐng)日: | 2012-09-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103311273A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-09-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 金賢周;李強(qiáng)遠(yuǎn);李圭濟(jì) | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 愛(ài)思開(kāi)海力士有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L29/06 | 分類(lèi)號(hào): | H01L29/06;H01L29/04 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 邱軍 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 以及 具有 芯片 堆疊 封裝 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及適合用于改善吸除特性的半導(dǎo)體基板以及具有該半導(dǎo)體基板的半導(dǎo)體芯片和堆疊半導(dǎo)體封裝體。
在半導(dǎo)體工業(yè)中,用于集成電路的封裝技術(shù)不斷地開(kāi)發(fā)以滿足對(duì)小型化和安裝可靠性的要求。近來(lái),隨著在電氣和電子應(yīng)用中要求小型化和高性能,已經(jīng)開(kāi)發(fā)了各種堆疊技術(shù)。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體工業(yè)中的術(shù)語(yǔ)“堆疊”是指至少豎直堆積兩個(gè)半導(dǎo)體芯片或半導(dǎo)體封裝體。在存儲(chǔ)器裝置的情況下,通過(guò)采用堆疊技術(shù)能夠獲得的產(chǎn)品的存儲(chǔ)器容量為通過(guò)半導(dǎo)體集成工藝能獲得的產(chǎn)品的存儲(chǔ)器容量的至少兩倍大。因?yàn)槎询B半導(dǎo)體封裝體的優(yōu)點(diǎn)不僅在于存儲(chǔ)器容量而且還在于安裝密度和安裝區(qū)域利用效率,因此堆疊半導(dǎo)體封裝體的研究和發(fā)展被加速。
作為堆疊半導(dǎo)體封裝體的示例,提出了一種結(jié)構(gòu),其中貫通電極形成在半導(dǎo)體芯片中使得上半導(dǎo)體芯片與下半導(dǎo)體芯片通過(guò)該貫通電極彼此物理連接和電連接。
然而,用作貫通電極的物質(zhì),例如銅,很可能擴(kuò)散到半導(dǎo)體芯片而導(dǎo)致晶體缺陷。結(jié)果,在半導(dǎo)體芯片中可能引發(fā)漏電流,并且晶體管的閾值電壓很可能偏移,由此刷新(refresh)特性可能劣化。
為了解決此問(wèn)題,提出一種方法,其中形成在貫通電極和半導(dǎo)體芯片之間的介電層(SiO2)的厚度增加,使得朝著半導(dǎo)體芯片擴(kuò)散的銅可由介電層吸除。然而,介電層不足以吸除從貫通電極擴(kuò)散的銅。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施例涉及適合于改善吸除特性的半導(dǎo)體基板。
而且,本發(fā)明的實(shí)施例可涉及具有半導(dǎo)體基板的半導(dǎo)體芯片。
此外,本發(fā)明的實(shí)施例可涉及具有半導(dǎo)體芯片的堆疊半導(dǎo)體封裝體。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,半導(dǎo)體基板包括:基板本體和有源層,基板本體分成多個(gè)裝置區(qū)域和基本上在裝置區(qū)域之外的周邊區(qū)域,基板本體的一個(gè)表面基本上背對(duì)另一個(gè)表面,并且基板本體具有基本上限定在裝置區(qū)域中實(shí)質(zhì)上在該一個(gè)表面上的溝槽,有源層實(shí)質(zhì)上形成在溝槽中且由多晶硅制成。
在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中,半導(dǎo)體芯片包括:基板本體,分成多個(gè)裝置區(qū)域和基本上在裝置區(qū)域之外的周邊區(qū)域,基板本體的一個(gè)表面基本上背對(duì)另一個(gè)表面,基板本體具有基本上限定在裝置區(qū)域中實(shí)質(zhì)上在該一個(gè)表面上的溝槽,有源層實(shí)質(zhì)上形成在溝槽中且由多晶硅制成;半導(dǎo)體裝置,實(shí)質(zhì)上形成在有源層之上;以及貫通電極,實(shí)質(zhì)上穿過(guò)基板本體的周邊區(qū)域。
半導(dǎo)體裝置至少包括成像傳感器、存儲(chǔ)器半導(dǎo)體、系統(tǒng)半導(dǎo)體、無(wú)源裝置、有源裝置或傳感器半導(dǎo)體中的任何一個(gè)。
半導(dǎo)體芯片還包括電路圖案,該電路圖案實(shí)質(zhì)上形成在基板本體的該一個(gè)表面和有源層上,其中電路圖案包括:接合墊,實(shí)質(zhì)上形成在電路圖案的第二表面之上,電路圖案的第二表面基本上背對(duì)電路圖案的第一表面,電路圖案的第一表面基本上面對(duì)基板本體的該一個(gè)表面和有源層,并且接合墊與貫通電極電連接;配線層,將半導(dǎo)體裝置電連接到貫通電極;以及介電層,實(shí)質(zhì)上使半導(dǎo)體裝置與配線層隔離,使配線層彼此隔離,并且使配線層與接合墊隔離。
貫通電極可實(shí)質(zhì)上穿過(guò)電路圖案且直接連接到接合墊。
與此不同,貫通電極可僅通過(guò)基板本體的周邊區(qū)域、該一個(gè)表面和該另一個(gè)表面。在此情況下,電路圖案還包括電連接貫通電極與接合墊的附加配線層。
在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中,堆疊半導(dǎo)體封裝體包括:多個(gè)半導(dǎo)體芯片,每一個(gè)半導(dǎo)體芯片都包括半導(dǎo)體基板,該半導(dǎo)體基板包括基板本體和有源層,該基板本體分成多個(gè)裝置區(qū)域和基本上在該裝置區(qū)域之外的周邊區(qū)域,基板本體的一個(gè)表面基本上背對(duì)另一個(gè)表面,基板本體具有基本上限定在裝置區(qū)域中實(shí)質(zhì)上在該一個(gè)表面上的溝槽,有源層實(shí)質(zhì)上形成在溝槽中且由多晶硅制成;半導(dǎo)體裝置,實(shí)質(zhì)上形成在有源層之上;以及貫通電極,穿過(guò)基板本體的周邊區(qū)域,多個(gè)半導(dǎo)體芯片堆疊為使得它們的貫通電極彼此電連接;以及導(dǎo)電連接構(gòu)件,電連接堆疊的半導(dǎo)體芯片的貫通電極。
每個(gè)半導(dǎo)體芯片的半導(dǎo)體裝置至少包括成像傳感器、存儲(chǔ)器半導(dǎo)體、系統(tǒng)半導(dǎo)體、無(wú)源裝置、有源裝置或傳感器半導(dǎo)體中的任何一個(gè)。
每個(gè)半導(dǎo)體芯片還包括電路圖案,該電路圖案實(shí)質(zhì)上形成在該基板本體的該一個(gè)表面和該有源層上,并且其中該電路圖案包括:接合墊,實(shí)質(zhì)上形成在電路圖案的第二表面之上,電路圖案的第二表面基本上背對(duì)電路圖案的第一表面,電路圖案的第一表面基本上面對(duì)基板本體的該一個(gè)表面和有源層,且接合墊與貫通電極電連接;配線層,將半導(dǎo)體裝置電連接到貫通電極;以及介電層,實(shí)質(zhì)上使半導(dǎo)體裝置與配線層隔離,使配線層彼此隔離,并且使配線層與接合墊隔離。
貫通電極可實(shí)質(zhì)上穿過(guò)電路圖案且直接連接到接合墊。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專(zhuān)門(mén)適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類(lèi)型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
- 接收裝置以及接收方法、以及程序
- 凈水濾芯以及凈水裝置、以及洗漱臺(tái)
- 隱匿檢索系統(tǒng)以及公開(kāi)參數(shù)生成裝置以及加密裝置以及用戶(hù)秘密密鑰生成裝置以及查詢(xún)發(fā)布裝置以及檢索裝置以及計(jì)算機(jī)程序以及隱匿檢索方法以及公開(kāi)參數(shù)生成方法以及加密方法以及用戶(hù)秘密密鑰生成方法以及查詢(xún)發(fā)布方法以及檢索方法
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