[發(fā)明專利]在光學(xué)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)的方法和光學(xué)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210346611.2 | 申請(qǐng)日: | 2012-06-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102881296A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-01-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | A·納塔拉延;E·P·博登;D·V·戴羅夫;E·M·金;陳國(guó)邦;V·K·帕魯楚魯;V·P·奧斯特羅弗霍夫;M·J·米斯納;J·E·皮克特;P·J·麥克羅斯基 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號(hào): | G11B7/0065 | 分類號(hào): | G11B7/0065;G11B7/1353;G11B7/241;G11B7/245 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 徐晶;林森 |
| 地址: | 美國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光學(xué) 數(shù)據(jù) 存儲(chǔ) 介質(zhì) 記錄 方法 | ||
1.在光學(xué)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)中記錄全息數(shù)據(jù)的方法,所述方法包括:
(i)提供包含以下各物的光學(xué)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì):(a)熱塑性聚合物基質(zhì)、(b)潛在酸發(fā)生劑、(c)非線性敏化劑和(d)包含潛在發(fā)色團(tuán)的反應(yīng)物;
(ii)用干涉圖案照射所述光學(xué)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)的體積單元,所述干涉圖案包括具有足以引起上能級(jí)三線態(tài)能量從所述非線性敏化劑轉(zhuǎn)移到所述潛在酸發(fā)生劑的波長(zhǎng)和強(qiáng)度的入射輻射,由此產(chǎn)生酸,
其中所述潛在酸發(fā)生劑對(duì)所述入射輻射基本沒(méi)有響應(yīng);
(iii)使至少一種受保護(hù)的發(fā)色團(tuán)與所產(chǎn)生的酸反應(yīng)以形成至少一種發(fā)色團(tuán),由此引起在所述體積單元內(nèi)的折射指數(shù)變化;和
(iv)在所述被照射的體積單元內(nèi)產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于所述干涉圖案的折射指數(shù)變化,由此產(chǎn)生可光學(xué)讀取的數(shù)據(jù)。
2.權(quán)利要求1的方法,其中步驟(iii)包括使多種潛在發(fā)色團(tuán)與各種所產(chǎn)生的酸反應(yīng)以形成多種發(fā)色團(tuán)。
3.權(quán)利要求1的方法,其中所述入射輻射具有在約360納米-約500納米范圍內(nèi)的波長(zhǎng)和大于閾值的強(qiáng)度。
4.權(quán)利要求1的方法,其中所述入射輻射具有約405納米的波長(zhǎng)。
5.權(quán)利要求1的方法,其中所述潛在發(fā)色團(tuán)包含具有結(jié)構(gòu)式(I)的部分:
其中“a”為1-5的整數(shù)且“b”為1-4的整數(shù);
R1為保護(hù)基團(tuán);
R2和R3在每次出現(xiàn)時(shí)獨(dú)立地為氫、鹵素、C1-C20脂族基團(tuán)、C3-C20脂環(huán)族基團(tuán)或C2-C30芳族基團(tuán);
且R4為氫或OR1。
6.權(quán)利要求1的方法,其中所述潛在發(fā)色團(tuán)包含具有如下結(jié)構(gòu)式的部分:
(II)
其中“a”為1-5的整數(shù)且“b”為1-4的整數(shù);
R1為保護(hù)基團(tuán);
R2和R3在每次出現(xiàn)時(shí)獨(dú)立地為氫、鹵素、C1-C20脂族基團(tuán)、C3-C20脂環(huán)族基團(tuán)或C2-C30芳族基團(tuán);
且R4為氫或OR1。
7.權(quán)利要求1的方法,其中所述非線性敏化劑包括鉑乙炔基絡(luò)合物。
8.光學(xué)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì),其包含:
(a)熱塑性聚合物基質(zhì);
(b)能夠吸收具有足以引起上能級(jí)三線態(tài)激發(fā)的波長(zhǎng)和強(qiáng)度的入射輻射的非線性敏化劑;
(c)能夠在從所述非線性敏化劑三線態(tài)激發(fā)時(shí)產(chǎn)生酸且對(duì)所述入射輻射基本沒(méi)有響應(yīng)的潛在酸發(fā)生劑;
(d)包含潛在發(fā)色團(tuán)的反應(yīng)物,
其中至少一種潛在發(fā)色團(tuán)能夠通過(guò)與所產(chǎn)生的酸反應(yīng)形成至少一種發(fā)色團(tuán),由此引起在所述光學(xué)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)中的折射指數(shù)變化。
9.權(quán)利要求8的光學(xué)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì),其中多種潛在發(fā)色團(tuán)能夠?qū)τ诟鞣N所產(chǎn)生的酸形成多種發(fā)色團(tuán)。
10.權(quán)利要求8的光學(xué)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì),其中所述潛在發(fā)色團(tuán)包含具有結(jié)構(gòu)式(I)的部分:
其中“a”為1-5的整數(shù)且“b”為1-4的整數(shù);
R1為保護(hù)基團(tuán);
R2和R3在每次出現(xiàn)時(shí)獨(dú)立地為氫、鹵素、C1-C20脂族基團(tuán)、C3-C20脂環(huán)族基團(tuán)或C2-C30芳族基團(tuán);
且R4為氫或OR1。
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