[發明專利]觸控面板的校準方法

有效

• 申請號: 201210345081.X
• 申請日: 2012-09-18
• 公開（公告）號: CN102890581A
• 公開（公告）日: 2013-01-23
• 發明（設計）人: 高柏洲
• 申請（專利權）人: 蘇州佳世達電通有限公司;佳世達科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種校準方法，尤指一種觸控面板的校準方法。

背景技術

目前電容式觸控面板(Touch?Panel)具有多點觸控及高解析度等優點，因而受到廣大消費者的喜愛，但同時觸控面板也存在因組裝或靜電等外界因素造成誤動作的缺點。因外在環境的不穩定性造成的誤動作，現在普遍的做法是將觸控面板做校準，使得觸控面板在不同的環境下仍能正常使用。

現今的校準技術是將目前觸控面板的環境完整記錄下來，即為校準數值，將校準數值寫入觸控面板的單片機閃存（MCU?NAND?flash）作為背景預設，觸控面板進行觸發則是以觸控面板的實時數值（二次校準數值的絕對值與一次校準數值的絕對值的差值）與預設差值比較，若預設差值相對較小，則會引起觸控面板的觸發；但是，目前并無有效的方法判斷校準數值是否有效且符合環境需求，因此并不能判斷觸控面板是否能正常使用，效能是否有所提升。

發明內容

因此，本發明的目的在于提供一種觸控面板的校準方法，用于判斷校準數值是否為正常數值，從而解決上述問題。

本發明提供一種觸控面板的校準方法，應用于觸控面板的校準裝置，該觸控面板具有觸控集成模塊，該方法包括：步驟A.偵測觸控面板各個位置的一次校準數值，該一次校準數值代表該觸控面板的一個位置的外界環境；步驟B.判斷各個位置的一次校準數值是否在預設范圍內，若該一次校準數值不在該預設范圍內，則重新執行步驟A；步驟C.若該一次校準數值在該預設范圍內，儲存各個位置的一次校準數值，用以校準該觸控面板。

作為進一步可選的技術方案，該校準方法應用于校準裝置，該校準裝置包含處理器，該觸控面板包含觸控集成模塊

作為進一步可選的技術方案，于步驟A前該方法還包括：該處理器向該觸控集成模塊發出偵測觸控面板各個位置的一次校準數值的指令；該觸控集成模塊接收該指令。

作為進一步可選的技術方案，于步驟A與B之間該方法還包括：該觸控集成模塊向該處理器回傳偵測到的觸控面板各個位置的一次校準數值。

作為進一步可選的技術方案，偵測觸控面板各個位置的一次校準數值的步驟由該觸控集成模塊執行，判斷各個位置的一次校準數值是否在預設范圍內的步驟由該處理器執行。

作為進一步可選的技術方案，該方法還包括：步驟D.偵測觸控面板各個位置的二次校準數值，并計算各個位置的實時數值；步驟E.判斷該實時數值的絕對值是否小于或等于預設差值，若該實時數值的絕對值大于該預設差值，則重新執行步驟D；步驟F.若該實時數值的絕對值小于或等于該預設差值，則校準結束。

作為進一步可選的技術方案，該實時數值為二次校準數值的絕對值與一次校準數值的絕對值的差值。

作為進一步可選的技術方案，該校準方法應用于校準裝置，該校準裝置包含處理器，該觸控面板包含觸控集成模塊，于步驟D前該方法還包括：該處理器向該觸控集成模塊發出偵測觸控面板各個位置的二次校準數值的指令，該觸控集成模塊接收該指令。

作為進一步可選的技術方案，于步驟D內該方法還包括：該觸控集成模塊向該處理器回傳偵測到的觸控面板各個位置的二次校準數值。

作為進一步可選的技術方案，偵測觸控面板各個位置的二次校準數值的步驟由該觸控集成模塊完成；計算各個位置的實時數值與判斷該實時數值的絕對值是否小于或等于預設差值的步驟由該處理器完成。

與現有技術相比，本發明提供的觸控面板校準方法通過對記錄環境信息的校準數值進行判斷是否過大或過小，從而判斷是否存在外界干擾，并進行一次與二次校準，使得觸控面板的校準方法更加可靠和更具有實用性。

附圖說明

圖1為本發明的校準示意圖；

圖2為本發明一實施例的觸控面板各個位置的一次校準數值的顯示示意圖；

圖3為本發明校準方法的一實施例的流程圖；

圖4為本發明一實施例的觸控面板各個位置的一次校準數值的另一顯示示意圖；

圖5為本發明校準方法的另一實施例的流程圖；

圖6為本發明另一實施例的觸控面板各個位置的二次校準數值的顯示示意圖；

圖7為本發明另一實施例的觸控面板各個位置的二次校準數值的另一顯示示意圖；

圖8為本發明另一實施例的觸控面板各個位置的實時數值的顯示示意圖；

圖9為本發明另一實施例的觸控面板各個位置的實時數值的另一顯示示意圖。

具體實施方式

為使對本發明的目的、構造、特征、及其功能有進一步的了解，茲配合實施例詳細說明如下。