[發明專利]取樣電極針及焊接式IGBT模塊單元

無效

• 申請號: 201210338402.3
• 申請日: 2012-09-13
• 公開（公告）號: CN103681567A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 寇慶娟
• 申請（專利權）人: 西安永電電氣有限責任公司
• 主分類號: H01L23/49
• 分類號: H01L23/49;H01L27/06
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 常亮

技術領域

本發明涉及半導體技術領域，尤其涉及一種將芯片的極引到輔助電極上取樣電極針。

背景技術

絕緣柵雙極型晶體管（Insulated?Gate?Bipolar?Transistor，簡稱IGBT）具有高頻率、高電壓、大電流、尤其是容易開通和關斷的性能特點，是國際上公認的電力電子技術第三次革命的最具代表性的產品，至今已經發展到第六代，商業化已發展到第五代。

目前，絕緣柵雙極型晶體管已廣泛應用于國民經濟的各行業中。而絕緣柵雙極型晶體管模塊是對絕緣柵雙極型晶體管芯片的一種封裝形式，模塊化的絕緣柵雙極型晶體管輕巧、方便，更有利于市場的應用。

目前，焊接式絕緣柵雙極型晶體管模塊的封裝過程中需要制作一個子單元，將絕緣柵雙極型晶體管芯片、二極管芯片、電阻和取樣電極針等元器件焊接在一個板子上，形成一個整體，便于模塊的封裝。其中，取樣電極針的設計主要是為了將芯片的三個極引到輔助電極上。

現有的IGBT模塊封裝時，取樣電極針的設計為簡單的直角拐彎式銅線，可以起到連接的作用。該種設計的取樣電極針具有如下幾個缺點：

（1）直角拐彎式的設計可以實現焊接，但是承受的拉力太差，很有可能在后續的操作過程中被拽掉，對模塊的操作生產造成很大的影響；

（2）直角拐彎式的設計在模塊使用過程中，會因為使用中受熱脹冷縮的影響，致使焊接點脫落，對模塊的輔助電極采樣產生不良影響；

（3）銅線材質可以實現焊接，但是焊接質量不是很好。

因此，針對上述技術問題，有必要提供一種具有改良結構的取樣電極針，以克服上述缺陷。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種取樣電極針，該取樣電極針可以解決焊接質量和后續的拉力和張力的問題，從而保證了模塊的可靠性，同時也提高了模塊的生產效率。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種取樣電極針，其包括第一連接電極及第二連接電極，所述取樣電極針為盤旋式的針狀結構。

優選的，在上述取樣電極針中，所述取樣電極針還包括位于第一連接電極與第二連接電極之間的中間連接部，所述中間連接部自第一連接電極或第二連接電極的一端沿著同一直徑一體盤旋延伸至第二連接電極或第一連接電極的一端。

優選的，在上述取樣電極針中，所述取樣電極針為銅鍍金材質的取樣電極針。

一種焊接式IGBT模塊單元，其包括IGBT芯片、二極管芯片、電阻和取樣電極針，所述取樣電極針為上述的取樣電極針。

從上述技術方案可以看出，本發明實施例的取樣電極針焊接質量提高，從而使得產品的質量和可靠性提高，進一步地提高了生產效率；而且，本發明取樣電極針的活動裕量增大，在模塊使用中，不會受熱脹冷縮的影響致使焊接點脫落，此結構的設計便于后續工序中的拉力等的操作，從而使得操作容易實現。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：

（1）將取樣電極針設計為盤旋式的針狀結構，可以保證取樣電極針在后續工序的拉力操作中，有很大的活動裕量，保證了取樣電極針的焊接點不受影響，提高了模塊可靠性，同時還提高了生產效率。

（2）取樣電極針選用銅鍍金的材質，可以很好的實現焊接操作，從而保證焊接質量，避免了現有技術中采用單純的銅材質，因為銅易氧化，造成焊接質量不好。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的有關本發明的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發明取樣電極針的立體示意圖；

圖2是本發明取樣電極針的正視圖。

其中：11、第一連接電極；12、第二連接電極；13、中間連接部。

具體實施方式

本發明公開了一種取樣電極針，該取樣電極針可以解決焊接質量和后續的拉力和張力的問題，從而保證了模塊的可靠性，同時也提高了模塊的生產效率。

該取樣電極針包括第一連接電極及第二連接電極，其所述取樣電極針為盤旋式的針狀結構。

進一步的，所述取樣電極針還包括位于第一連接電極與第二連接電極之間的中間連接部，所述中間連接部自第一連接電極或第二連接電極的一端沿著同一直徑一體盤旋延伸至第二連接電極或第一連接電極的一端。

進一步的，所述取樣電極針為銅鍍金材質的取樣電極針。