[發(fā)明專利]一種用于互調(diào)測試的微波暗室

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210323894.9
• 申請日: 2012-09-04
• 公開（公告）號: CN102839844A
• 公開（公告）日: 2012-12-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蘇廣源;許潔;譚林;高材生
• 申請（專利權(quán)）人: 大連東信微波吸收材料有限公司
• 主分類號: E04H9/16
• 分類號: E04H9/16;E04B1/92
• 代理公司: 大連東方專利代理有限責(zé)任公司 21212
• 代理人: 趙淑梅;李洪福

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種通信行業(yè)中應(yīng)用的測試實(shí)驗(yàn)室，具體地說是一種用于互調(diào)測試的微波暗室。

背景技術(shù)

隨著通信頻帶越來越擁擠，通信信號質(zhì)量要求越來越高，通信天線在工作中產(chǎn)生的互調(diào)信號對通信系統(tǒng)產(chǎn)生不利影響越來越嚴(yán)重，其性能指標(biāo)變得日益重要，必須對天線互調(diào)特性進(jìn)行測量。

天線是向自由空間輻射電磁波的微波設(shè)備，天線性能的測試必須在自由空間環(huán)境中進(jìn)行測試，而由于場地和工作條件限制，人們希望在室內(nèi)進(jìn)行天線設(shè)備測試，所以必須使用微波暗室，以模擬自由空間環(huán)境，實(shí)現(xiàn)室內(nèi)天線測試條件。

現(xiàn)有微波暗室可以對天線傳輸及輻射性能進(jìn)行測試，但在測試天線互調(diào)指標(biāo)時，由于暗室構(gòu)造及部件的特性引入互調(diào)干擾源，引起測試誤差。影響互調(diào)指標(biāo)測試的主要原因有以下幾點(diǎn)：暗室屏蔽多使用鋼鐵等鐵磁性材料制作；暗室屏蔽拼接或工藝產(chǎn)生的緊固件、縫隙或毛刺；吸收體沒有緊密安裝，導(dǎo)致部分屏蔽體裸露；暗室內(nèi)照明燈具等設(shè)備布局不理想；暗室內(nèi)雜物清理不及時等。

發(fā)明內(nèi)容

根據(jù)上述提出的技術(shù)問題，必須在原有暗室基礎(chǔ)上重新設(shè)計(jì)，排除暗室引起的互調(diào)因素，同時新的互調(diào)暗室還應(yīng)具備通用暗室除互調(diào)測試外的其他測試能力，因而提供一種用于互調(diào)測試的微波暗室。本發(fā)明采用的技術(shù)手段如下：

一種用于互調(diào)測試的微波暗室，由暗室主體和設(shè)置在暗室主體內(nèi)的吸波材料組成，所述暗室主體是由龍骨框架和固定于所述龍骨框架上的塊狀壁面所組成的可容納工作人員在其內(nèi)部行走的封閉空間，其特征在于：所述塊狀壁面面對所述封閉空間的一側(cè)表面上設(shè)有屏蔽層，所述屏蔽層上固定有所述吸波材料；在所述暗室主體的內(nèi)部設(shè)有可供工作人員行走的操作平臺。

作為優(yōu)選，所述塊狀壁面采用防火阻燃的木質(zhì)材料，所述屏蔽層的材質(zhì)為鋁合金板。

作為優(yōu)選，所述屏蔽層與所述塊狀壁面的固定方式為膠粘。

作為優(yōu)選，所述屏蔽層的接縫處設(shè)有屏蔽膠條。

作為優(yōu)選，所述屏蔽膠條的寬度為b，b滿足：b＞1/10λ，其中λ為微波暗室最小工作波長。

作為優(yōu)選，所述屏蔽膠條的材質(zhì)為帶有絕緣覆膜的鋁箔材料。

作為優(yōu)選，所述吸波材料為角錐形吸收體材料。

作為優(yōu)選，固定在所述屏蔽層的接縫處的所述吸波材料應(yīng)滿足所述吸波材料的錐角尖端在所述吸波材料底部的投影落在所述接縫處所在直線上。

作為優(yōu)選，所述操作平臺為木質(zhì)平臺。

作為優(yōu)選，在所述暗室主體的底部四周設(shè)有照明燈具及通風(fēng)窗。

本發(fā)明主要的革新之處在于：

1、暗室屏蔽采用鋁合金板材，包括龍骨及屏壁層面；

2、放棄了拼接或焊接的傳統(tǒng)組裝方式，而使用膠粘方式直接將鋁板粘貼到木質(zhì)結(jié)構(gòu)上；避免拼接時產(chǎn)生的縫隙和裸露緊固件，同時也避免焊接時出現(xiàn)的毛刺和焊孔情況；

3、使用一定寬度的正反面均覆絕緣膜的屏蔽膠條覆蓋鋁板型材的接縫處，屏蔽膠條采用鋁箔材質(zhì)；

4、優(yōu)化設(shè)計(jì)吸收體布局，保證屏蔽體結(jié)構(gòu)中易激勵互調(diào)的干擾源得到最大限度的衰弱；

5、重新布置照明燈具、通風(fēng)等設(shè)備的位置，降低其干擾影響；

6、暗室地面鋪設(shè)木質(zhì)地板，降低遺落雜物的可能性。

基于上述理由本發(fā)明可在電子通信、微波技術(shù)測試測量等領(lǐng)域廣泛推廣。

附圖說明

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是圖1中A處的局部放大圖。

具體實(shí)施方式