[發明專利]時空聯合調制干涉成像光譜儀的星上光譜定標方法及系統無效
| 申請號: | 201210313769.X | 申請日: | 2012-08-30 |
| 公開(公告)號: | CN102841342A | 公開(公告)日: | 2012-12-26 |
| 發明(設計)人: | 相里斌;計忠瑛;崔燕;石大蓮;高靜 | 申請(專利權)人: | 中國科學院西安光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01S7/497 | 分類號: | G01S7/497 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標代理有限公司 61211 | 代理人: | 楊引雪 |
| 地址: | 710119 陜西省西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 時空 聯合 調制 干涉 成像 光譜儀 光譜 定標 方法 系統 | ||
1.時空聯合調制干涉成像光譜儀的星上光譜定標方法,其特征在于:包括以下步驟:
(1)定標燈的輻射光經過積分球勻光后由積分球出口射出;
(2)積分球出口射出的均勻光經過光譜玻璃形成具有光譜特征吸收峰的定標光;
(3)定標光經反射棱鏡反射至干涉成像光譜儀的一次像面上,并照明一次像面的邊緣視場形成星上定標視場,星上定標視場是光譜維x方向全視場、空間維y方向邊緣局部視場;
(4)一次像面視場的星上定標光依次通過干涉成像光譜儀中的剪切干涉儀和富立葉成像鏡,在干涉成像光譜儀的二次像面上形成星上定標干涉圖;
(5)將二次像面上形成的星上定標干涉圖通過光譜復原軟件得到星上定標復原光譜;
(6)將星上定標復原光譜與基礎星上定標復原光譜進行比對,根據特征吸收峰位置的變化實現相對光譜定標,具體為:
當特征吸收峰位置不變時,表明成像光譜儀干涉性能沒變,無需修正;
當特征吸收峰位置變化時,表明成像光譜儀干涉性能改變,根據特征吸收峰漂移的方向及漂移量,修正干涉成像光譜儀的干涉參數d/f富,完成光譜定標。
2.根據權利要求1所述的時空聯合調制干涉成像光譜儀的星上光譜定標方法,其特征在于:所述反射棱鏡的第二反射面位于一次像面的星上定標視場的前方。
3.根據權利要求1或2所述的時空聯合調制干涉成像光譜儀的星上光譜定標方法,其特征在于:所述光譜特征吸收峰具有多個特征峰。
4.時空聯合調制干涉成像光譜儀的星上光譜定標系統,其特征在于:包括積分球、設置于積分球入口處的定標燈、設置于積分球出口的光譜玻璃以及反射棱鏡,所述反射棱鏡將透過光譜玻璃的光反射至一次像面的星上定標視場。
5.根據權利要求4所述的時空聯合調制干涉成像光譜儀的星上光譜定標系統,其特征在于:反射棱鏡的第二反射面位于一次像面的星上定標視場的前方。
6.根據權利要求4或5所述的時空聯合調制干涉成像光譜儀的星上光譜定標系統,其特征在于:所述定標燈為兩個。
7.根據權利要求6所述的時空聯合調制干涉成像光譜儀的星上光譜定標系統,其特征在于:所述積分球的材料為聚四氟乙烯,內球徑為35mm。
8.根據權利要求7所述的時空聯合調制干涉成像光譜儀的星上光譜定標系統,其特征在于:反射棱鏡的厚度為4-7mm。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院西安光學精密機械研究所,未經中國科學院西安光學精密機械研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210313769.X/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:等離子體點火器及燃氣輪機
- 下一篇:一種制片機用液體旋轉閥





