[發(fā)明專利]用于快速校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)場(chǎng)均勻性的新型系統(tǒng)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210308633.X | 申請(qǐng)日: | 2012-08-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102830289A | 公開(公告)日: | 2012-12-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 姚利軍;黃建領(lǐng);沈濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京無(wú)線電計(jì)量測(cè)試研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R29/08 | 分類號(hào): | G01R29/08 |
| 代理公司: | 北京正理專利代理有限公司 11257 | 代理人: | 張文祎 |
| 地址: | 100854 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 快速 校準(zhǔn) 電磁 場(chǎng)場(chǎng) 均勻 新型 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種用于快速校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)場(chǎng)均勻性的新型系統(tǒng)。
背景技術(shù)
對(duì)于射頻電磁場(chǎng),IEC61000系列標(biāo)準(zhǔn)給出了兩種電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法,即恒定場(chǎng)強(qiáng)校準(zhǔn)法和恒定功率校準(zhǔn)法。恒定場(chǎng)強(qiáng)校準(zhǔn)法是通過(guò)調(diào)整前向輸出功率建立一個(gè)場(chǎng)強(qiáng)恒定的均勻場(chǎng),然后用一個(gè)經(jīng)校準(zhǔn)的場(chǎng)強(qiáng)探頭以指定的步長(zhǎng)在每個(gè)頻段對(duì)待測(cè)區(qū)域內(nèi)的各個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量。恒定功率校準(zhǔn)法與之不同的是測(cè)量時(shí)保持前向輸出功率恒定。
對(duì)于瞬變電磁場(chǎng),MIL-STD-461F標(biāo)準(zhǔn)采用了上述恒定場(chǎng)強(qiáng)校準(zhǔn)法。但是,恒定場(chǎng)強(qiáng)校準(zhǔn)法存在以下不足:
(1)瞬變電磁場(chǎng)由脈沖信號(hào)源觸發(fā)的單脈沖信號(hào)產(chǎn)生,為了獲得恒定的電磁場(chǎng),需要反復(fù)調(diào)節(jié)脈沖信號(hào)源的輸出功率,因此必須既可以準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)所用脈沖信號(hào)源的輸出功率,又可以對(duì)所用脈沖信號(hào)源的輸出功率進(jìn)行微調(diào),對(duì)包括脈沖信號(hào)源在內(nèi)的瞬變電磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置的要求高;
(2)通常需要用高壓探頭監(jiān)測(cè)脈沖信號(hào)源的輸出功率,在實(shí)際應(yīng)用中有時(shí)很難實(shí)現(xiàn);
(3)校準(zhǔn)時(shí)間較長(zhǎng),使用不方便。
對(duì)于瞬變電磁場(chǎng),如果采用恒定功率校準(zhǔn)法,也存在以下問(wèn)題:
(1)需要脈沖信號(hào)源多次觸發(fā)輸出多個(gè)單脈沖信號(hào),各個(gè)單脈沖信號(hào)的幅度很難完全保持一致,即存在脈沖信號(hào)源輸出的各個(gè)單脈沖信號(hào)不穩(wěn)定的問(wèn)題,導(dǎo)致瞬變電磁場(chǎng)均勻性校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度降低;
(2)對(duì)脈沖信號(hào)源輸出穩(wěn)定性的要求導(dǎo)致瞬變電磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置的成本較高。
用于校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的系統(tǒng)通常需要測(cè)試多個(gè)位置。校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性時(shí),不但需要支架支撐和固定測(cè)試探頭,而且需要通過(guò)支架調(diào)節(jié)測(cè)試探頭的位置和角度。具體地,校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性時(shí),通常需要通過(guò)調(diào)節(jié)支架來(lái)改變固定有探頭的測(cè)試桿的角度和長(zhǎng)度,甚至需要通過(guò)調(diào)節(jié)支架實(shí)現(xiàn)測(cè)試桿繞固定軸的轉(zhuǎn)動(dòng)。現(xiàn)有技術(shù)中的支架都不能直接實(shí)現(xiàn)上述功能,因此在用于校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性時(shí)非常不便。
目前,非常需要一種對(duì)包括脈沖信號(hào)源在內(nèi)的瞬變電磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置要求低、快速、準(zhǔn)確且低成本的瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)系統(tǒng)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種用于快速校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)場(chǎng)均勻性的新型系統(tǒng)。
本發(fā)明提供的用于快速校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)場(chǎng)均勻性的新型系統(tǒng)包括支架、示波器和至少一個(gè)探頭,所述支架包括支撐桿、定位環(huán)、旋轉(zhuǎn)盤、旋鈕和測(cè)試桿,所述定位環(huán)設(shè)于所述支撐桿的頂端,所述定位環(huán)的內(nèi)周側(cè)設(shè)有多個(gè)凹槽,所述定位環(huán)的中心設(shè)有至少一個(gè)連接鍵,每個(gè)所述連接鍵的一端與所述旋鈕固接,每個(gè)所述連接鍵的另一端與定位鍵鉸接,所述旋轉(zhuǎn)盤的一側(cè)設(shè)有外徑小于所述定位環(huán)內(nèi)徑的凸緣,所述凸緣上設(shè)有與所述定位鍵配合的缺口,所述旋轉(zhuǎn)盤的設(shè)有所述凸緣的一側(cè)的中心設(shè)有轉(zhuǎn)軸,所述凸緣穿進(jìn)所述定位環(huán),且所述定位鍵能夠穿過(guò)所述缺口,所述旋鈕安裝于所述轉(zhuǎn)軸上,且所述旋鈕能夠繞所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng),所述測(cè)試桿固接于所述旋轉(zhuǎn)盤的與所述凸緣相對(duì)的一側(cè),所述測(cè)試桿上設(shè)有至少一個(gè)探頭固定裝置,所述探頭通過(guò)所述探頭固定裝置固定于所述測(cè)試桿上,所述探頭與所述示波器電連接。
優(yōu)選地,所述連接鍵的一端設(shè)有第一螺孔,所述旋鈕上設(shè)有與所述第一螺孔配合的第二螺孔,所述連接鍵通過(guò)所述第一螺孔和所述第二螺孔與所述旋鈕固接。
優(yōu)選地,所述連接鍵的另一端設(shè)有不帶螺紋的通孔,所述連接鍵通過(guò)所述通孔與所述定位鍵鉸接。
優(yōu)選地,所述定位環(huán)上設(shè)有固定座,所述定位環(huán)通過(guò)所述固定座固定于所述支撐桿的頂端。
優(yōu)選地,所述支架還包括與支撐桿的底端固接的底座。
優(yōu)選地,所述支撐桿的高度可調(diào)。
優(yōu)選地,所述測(cè)試桿的長(zhǎng)度可調(diào)。
優(yōu)選地,所述探頭固定裝置設(shè)于所述測(cè)試桿的自由端和/或中間。
本發(fā)明具有如下有益效果:
(1)所述系統(tǒng)對(duì)包括脈沖信號(hào)源在內(nèi)的瞬變電磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置的要求低,能夠快速、準(zhǔn)確地對(duì)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性進(jìn)行校準(zhǔn);
(2)所述系統(tǒng)的支架不僅能夠用于支撐和固定探頭,而且能夠用于調(diào)節(jié)探頭的位置和角度;
(3)與現(xiàn)有技術(shù)的校準(zhǔn)系統(tǒng)相比,所述系統(tǒng)對(duì)瞬變電磁場(chǎng)場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)速度明顯加快;
(4)所述系統(tǒng)的支架對(duì)探頭的位置和角度的調(diào)節(jié)精度高;
(5)所述系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,制作成本低,使用方便。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的用于快速校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)場(chǎng)均勻性的新型系統(tǒng)的示意圖;
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量,如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量,即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商;峰值因數(shù)的測(cè)量,即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量





