[發明專利]光模塊光有源耦合系統和方法

有效

• 申請號: 201210272297.8
• 申請日: 2012-07-31
• 公開（公告）號: CN102768389A
• 公開（公告）日: 2012-11-07
• 發明（設計）人: 王永才;譚先友;楊啟亮
• 申請（專利權）人: 青島海信寬帶多媒體技術有限公司
• 主分類號: G02B6/42
• 分類號: G02B6/42;G02B6/43;H04B10/08
• 代理公司: 北京市京大律師事務所 11321
• 代理人: 黃啟行;方曉明

1.一種光模塊光有源耦合系統，包括：被耦合光模塊和耦合光模塊；所述耦合光模塊與所述被耦合光模塊通過光纖相連，所述被耦合光模塊的激光發射光源發射的光信號通過所述光纖傳輸到所述耦合光模塊；所述耦合光模塊中包括：

光接收單元，其光電二極管探測到所述被耦合光模塊發射的光信號后產生相應的響應電流；

響應電流檢測模塊，其電流輸入端與所述光接收單元的光電二極管的陰極相連，用以接收從所述光電二極管輸出的響應電流，并根據輸入的響應電流從其電壓輸出端輸出相應的電壓；

MCU，其電壓輸入端與所述響應電流檢測模塊的電壓輸出端相連，用以檢測所述響應電流檢測模塊輸出的電壓，并根據檢測的電壓計算出所述被耦合光模塊的激光發射光源發射的光信號的光功率，作為所述被耦合光模塊的發射光進行光有源耦合的依據。

2.如權利要求1所述的系統，其特征在于，所述耦合光模塊還包括：

光發射單元，其激光發射光源發射的光信號經所述光纖傳輸到所述被耦合光模塊；所述被耦合光模塊中的光電二極管探測到光信號后產生相應的響應電流；

所述被耦合光模塊中的光電二極管的陰極與所述被耦合光模塊中的響應電流檢測模塊的電流輸入端相連，所述被耦合光模塊的光電二極管輸出的響應電流流入到所述被耦合光模塊的響應電流檢測模塊；所述被耦合光模塊的響應電流檢測模塊用以接收響應電流后，根據輸入的響應電流從其電壓輸出端輸出相應的電壓；

所述被耦合光模塊中的MCU的電壓輸入端與所述被耦合光模塊的響應電流檢測模塊的電壓輸出端相連，用以檢測所述被耦合光模塊的響應電流檢測模塊輸出的電壓，并根據從其電壓輸入端檢測的電壓計算出所述被耦合光模塊中的光電二極管輸出的響應電流，作為所述被耦合光模塊的接收光進行光有源耦合的依據。

3.如權利要求1或2所述的系統，其特征在于，還包括：

測量數據獲取裝置，與所述耦合光模塊中的MCU相連，用以獲取所述耦合光模塊中的MCU計算出的光功率進行記錄、顯示或統計。

4.如權利要求3所述的系統，其特征在于，

所述測量數據獲取裝置還與所述被耦合光模塊中的MCU相連，用以獲取所述被耦合光模塊中的MCU計算出的響應電流進行記錄、顯示或統計。

5.如權利要求4所述的系統，其特征在于，所述被耦合光模塊為多路并行光收發模塊；以及

所述耦合光模塊中的光接收單元和響應電流檢測模塊為多路，所述耦合光模塊中的各路光接收單元中的光電二極管分別探測所述多路并行光收發模塊的各路激光發射光源發射的光信號；

所述耦合光模塊中的MCU根據檢測的每個響應電流檢測模塊的電壓輸出端輸出的電壓，分別計算出光功率，各光功率分別作為所述多路并行光收發模塊的各路發射光進行光有源耦合的依據。

6.如權利要求5所述的系統，其特征在于，所述耦合光模塊中的光發射單元也為多路的，以及

所述多路并行光收發模塊中的各路光電二極管分別探測所述耦合光模塊中的各路光發射單元的激光發射光源發射的光信號；

所述多路并行光收發模塊中的MCU根據檢測的每個響應電流檢測模塊的電壓輸出端輸出的電壓，分別計算出響應電流，各響應電流分別作為所述多路并行光收發模塊的各路接收光進行光有源耦合的依據。

7.如權利要求4所述的系統，其特征在于，所述耦合光模塊的響應電流檢測模塊具體為電阻；所述電阻的一端接電源地，其另一端與所述耦合光模塊的光接收單元中的光電二極管的陰極相連；其中，與所述耦合光模塊的光接收單元中的光電二極管的陰極相連的一端為所述耦合光模塊的響應電流檢測模塊的電壓輸出端。

8.如權利要求4所述的系統，其特征在于，所述耦合光模塊的響應電流檢測模塊具體包括電流鏡像電路和電阻；

所述電流鏡像電路的電流輸入端與所述耦合光模塊的光接收單元中的光電二極管的陰極相連，所述電流鏡像電路的鏡像電流輸出端通過所述電阻接入電源地；所述電流鏡像電路的鏡像電流輸出端為所述耦合光模塊的響應電流檢測模塊的電壓輸出端。