[發明專利]基于SOBI及FastICA的同頻信號相位差測量方法

無效

• 申請號: 201210263999.X
• 申請日: 2012-07-27
• 公開（公告）號: CN102749514A
• 公開（公告）日: 2012-10-24
• 發明（設計）人: 龔國良;魯華祥;邊昳;陳旭;陳剛;張放;金敏;徐元
• 申請（專利權）人: 中國科學院半導體研究所
• 主分類號: G01R25/00
• 分類號: G01R25/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 湯保平

1.一種基于SOBI及FastICA的同頻信號相位差測量方法，包括如下步驟：

步驟1：將被測信號x(n)擴展成3維觀測信號矩陣X(n)；

步驟2：對觀測信號矩陣X(n)運行一次排序的無迭代式SOBI算法，得到分離矩陣W₁；

步驟3：將W₁作為分離矩陣初始值，對觀測信號矩陣X(n)運行一次FastICA算法，得到混合矩陣A及源分量矩陣S(n)；

步驟4：根據混合矩陣A及源分量矩陣S(n)合成被測信號成分x′(n)；

步驟5：比較被測信號x′(n)與標準信號的相位差，完成同頻信號相位差測量。

2.如權利要求1所述的基于SOBI及FastICA的同頻信號相位差測量方法，其中將被測信號x(n)擴展成3維觀測信號矩陣X(n)，該觀測信號矩陣X(n)由三個信號組成，一個是被測信號，另外兩個信號是人為產生的兩個不同初始相位的標準信號，或是被測信號分別減去該兩個不同初始相位的標準信號得到的信號。

3.如權利要求2所述的基于SOBI及FastICA的同頻信號相位差測量方法，其中將被測信號x(n)擴展成3維觀測信號矩陣X(n)，被測信號x(n)位于觀測信號矩陣X(n)的第l行，l為1、2、3中的任意數。

4.如權利要求1所述的基于SOBI及FastICA的同頻信號相位差測量方法，其中對觀測信號矩陣X(n)運行一次排序的無迭代式SOBI算法的步驟為：

步驟1a：對觀測信號矩陣X(n)按序號進行抽樣處理或進行分段處理，得到N個3維觀測信號矩陣X₁(n)，X₂(n)，…，X_N(n)；

步驟2a：對觀測信號矩陣X_i(n)，i＝1，2，…，N，計算自相關矩陣R_Xi，i＝1，2，…，N；

步驟3a：對R_Xi求和并進行特征值分解，表達式為：

B=ΣiRXi=QΛQT=Qdiag(λ1,λ2,λ3)QT]]>

其中特征值λ₁，λ₂，λ₃按升序排列，Λ為特征值矩陣，Q為特征向量矩陣；

步驟4a：按如下公式求解矩陣L：

L=Qdiag(1/λ1,1/λ2,1/λ3)]]>

步驟5a：隨機選取k∈{1，2，…，N}，對L^TR_XkL進行特征值分解：

L^TR_XkL＝TD_kT^T

步驟6a：按如下公式計算分離矩陣：

W₁＝LT。