[發(fā)明專利]信號采樣測試方法

有效

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• 申請日: 2012-07-26
• 公開（公告）號: CN102749509A
• 公開（公告）日: 2012-10-24
• 發(fā)明（設計）人: 王磊
• 申請（專利權）人: 上海宏力半導體制造有限公司
• 主分類號: G01R23/02
• 分類號: G01R23/02
• 代理公司: 上海思微知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 31237
• 代理人: 鄭瑋

技術領域

本發(fā)明涉及信號測試領域，更具體地說，本發(fā)明涉及一種信號采樣測試方法。

背景技術

信號采樣也稱信號抽樣，是信號在時間上的離散化，即按照一定時間間隔△t在模擬信號x(t)上逐點采取其瞬時值。它是通過采樣脈沖和模擬信號相乘來實現(xiàn)的。

根據(jù)采樣定理，在進行模擬/數(shù)字信號的轉換過程中，當采樣頻率大于待采樣信號(待測信號)中最高頻率的2倍時，采樣之后的數(shù)字信號完整地保留了原始信號中的信息。而且，2.56倍至4倍于待采樣信號的頻率的采樣頻率能夠得到較好的采樣效果。

也就是說，為了測試信號，需要利用比待測信號更高的采樣信號進行頻率測試。

如果利用比待測信號更高的采樣信號進行頻率測試，會給測試設備帶來很高的要求，從而限制了可測試的待測信號的最高可測試頻率大小。

圖1示意性地示出了根據(jù)現(xiàn)有技術的測試機可以實現(xiàn)以及不能實現(xiàn)的采樣信號的示意圖。

如圖1所示，根據(jù)現(xiàn)有技術的測試機可以產(chǎn)生初始方波信號S1，并且可以對在初始方波信號S1的一個周期內(nèi)分解出多個方波(增加上升邊沿和下降邊沿)，從而得到頻率加倍的第二方波信號S2，以及頻率變成四倍的第三方波信號S?3。此外，根據(jù)現(xiàn)有技術的測試機可以在與第三方波信號S?3的每個上升邊沿相對應的時刻發(fā)出一個脈沖，從而得到第四方波信號S4。第四方波信號S4可以看成是與第三方波信號S3同頻率而占空比不同的方波信號。

但是，根據(jù)現(xiàn)有技術的測試機并不能產(chǎn)生標號S?5所示的連續(xù)的方波信號。因此，如圖1所示，根據(jù)現(xiàn)有技術的測試機僅僅能夠產(chǎn)生四倍于初始方波信號S1的采樣信號，而根據(jù)現(xiàn)有技術的測試機所產(chǎn)生的初始方波信號S1的最高頻率是有限的，例如20M。那么，根據(jù)現(xiàn)有技術的測試機所產(chǎn)生的最大采樣頻率為80M(20M×4)。

因此，在對非常高頻率的正弦信號(例如超過40M)進行采樣時，該非常高頻率的正弦信號可能超出了現(xiàn)有技術的測試機所能實現(xiàn)的采樣的范圍。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術問題是針對現(xiàn)有技術中存在上述缺陷，提供一種能夠擴大測試機所能實現(xiàn)的采樣的范圍的信號采樣測試方法。

根據(jù)本發(fā)明，提供了一種信號采樣測試方法，其包括：

第一步驟：檢測作為待采樣信號的正弦信號的起點，以便測試機與正弦信號進行定時同步；

第二步驟：利用所述測試機隨機產(chǎn)生多個周期性脈沖采樣信號，其中所述多個周期性脈沖采樣信號中的每一個周期性脈沖采樣信號都是單獨產(chǎn)生的，并且利用所述多個周期性脈沖采樣信號來對所述待采樣信號進行采樣，從而得到離散的采樣值；以及

第三步驟：將所述多個周期性脈沖采樣信號對所述待采樣信號采樣而得到的離散采樣值進行組合以獲取最終對所述待采樣信號的最終采樣離散值。

優(yōu)選地，在所述第二步驟中，通過控制測試機的周期性脈沖采樣信號的發(fā)出時間以及周期性脈沖采樣信號的周期來產(chǎn)生所述多個周期性脈沖采樣信號。

優(yōu)選地，利用測試機發(fā)出多個周期性脈沖采樣信號，其中一個周期性脈沖采樣信號的下降沿的定時對應于另一個周期性脈沖采樣信號的上升沿的定時，另一個周期性脈沖采樣信號的上升沿的的下降沿的定時對應于下一個周期性脈沖采樣信號的上升沿的定時，依此類推。

例如，所述測試機所產(chǎn)生的最大采樣頻率為80M，待采樣信號的最高頻率超過40M。

根據(jù)本發(fā)明，即使根據(jù)現(xiàn)有技術的測試機所產(chǎn)生最大采樣頻率有限；此時，在對非常高頻率的正弦信號進行采樣時，由于實際上有多個隨機產(chǎn)生的周期性脈沖采樣信號作為采樣信號，這些周期性脈沖采樣信號的組合可以獲取更多的待采樣信號的頻率信息，所以仍可以對這些非常高頻率的正弦信號的頻率信息進行有效采樣。由此，本發(fā)明提供一種能夠擴大測試機所能實現(xiàn)的采樣的范圍的信號采樣測試方法。

附圖說明

結合附圖，并通過參考下面的詳細描述，將會更容易地對本發(fā)明有更完整的理解并且更容易地理解其伴隨的優(yōu)點和特征，其中：

圖1示意性地示出了根據(jù)現(xiàn)有技術的測試機可以實現(xiàn)以及不能實現(xiàn)的采樣信號的示意圖。

圖2示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明第一實施例的信號采樣測試方法的原理示意圖。

圖3示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明第二實施例的信號采樣測試方法的原理示意圖。

需要說明的是，附圖用于說明本發(fā)明，而非限制本發(fā)明。注意，表示結構的附圖可能并非按比例繪制。并且，附圖中，相同或者類似的元件標有相同或者類似的標號。

具體實施方式

為了使本發(fā)明的內(nèi)容更加清楚和易懂，下面結合具體實施例和附圖對本發(fā)明的內(nèi)容進行詳細描述。